【正文】
金相法 ? 通過反射、折射、雙折射、色散等光學(xué)性質(zhì)來測(cè)量分析合金樣品中的各相;其目的是檢查體系中的下列特征:晶粒的排列和大小、相的分布、范性變形所產(chǎn)生的一些變化及雜質(zhì)和缺陷等。 ? 顯微鏡法最大的優(yōu)點(diǎn)是在顯微鏡下有可能觀察到樣品的較大區(qū)域內(nèi)的情況。 電子探針微區(qū)成分分析法 ? 電子探針分析方法可用以研究非均勻物質(zhì)的局部成分和結(jié)構(gòu),包括合金、薄膜、礦石、陶瓷、生物樣品等。這是以 X射線光譜化學(xué)分析和電子顯微技術(shù)兩部分為背景而發(fā)展起來的。原理是用一束充分聚焦的電子束打在樣品的表面上而量度其受照面積所發(fā)生的標(biāo)識(shí)輻射或電子。從標(biāo)識(shí) X射線用 X射線分光計(jì)可定性的或定量的測(cè)定該局部區(qū) (如沉積物、擴(kuò)散區(qū)等 )的化學(xué)成分;從背散射電子用掃描電子顯微鏡可測(cè)定該區(qū)物理形貌。在相圖的測(cè)定方面,基于兩相局部平衡概念可以得到兩局部平衡相的局部平衡成分。 擴(kuò)散偶法原理 ? 位于穩(wěn)態(tài)擴(kuò)散界面兩端的兩相處于局部平衡。測(cè)量界面兩邊的成分就等于測(cè)定出了兩相的結(jié)線端點(diǎn)成分。根據(jù)相律三元擴(kuò)散偶中只有單相區(qū)存在。只要試樣制備得足夠好,擴(kuò)散熱處理充分,各相長(zhǎng)大到電子探針能分析的程度,就足以在一個(gè)試樣上測(cè)定出每一組結(jié)線,即獲得三元相圖等溫截面的全部數(shù)據(jù)。 擴(kuò)散偶的制備過程 Press Cooled slowly in Ar flow Press Cu Ti Cu Ti Co Cu Ti Co Cu Ti Ar Ar Ar Ar Press Quartz tube, 973 or 1123K for 3 days 973 or 1123 K for 15 min. Quartz tube, at 973 K for 2668 hours or at 1123 K for 1440 hours 擴(kuò)散后組織照片 擴(kuò)散后的組織示意圖與相圖