智能儀器可測試性設(shè)計(jì)-資料下載頁
2025-10-02 16:33本頁面
【導(dǎo)讀】機(jī)內(nèi)自測試技術(shù)---BIT. 隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展和大規(guī)模集成。這就給智能儀器的測試帶來諸多問。自20世紀(jì)80年代以來，測試性和診斷。展了大量的系統(tǒng)測試和診斷問題的研究，并行發(fā)展的學(xué)科分支。和可用性有很大影響?？蓽y試性設(shè)計(jì)要求。診斷提供方便的設(shè)計(jì)特性。的使用維護(hù)費(fèi)用。降等）和隔離其內(nèi)部故障的設(shè)計(jì)特性。在盡可能少地增加硬件和軟件的基礎(chǔ)上，1．提高故障檢測的覆蓋率；1．額外的軟/硬件成本；固有測試性是指僅取決于產(chǎn)品硬件設(shè)計(jì)，不依賴。于測試激勵(lì)和響應(yīng)數(shù)據(jù)的測試性。它既支持BIT，也支持外部測試,固有測試性。進(jìn)行固有測試性的分析與設(shè)計(jì)，避免返工和浪費(fèi)。由于ATE費(fèi)用高、種類多、操作復(fù)雜、人。具備檢測、隔離故障的能力以縮短維修時(shí)間。器模塊內(nèi)的外圍控制器件。式發(fā)生器PRPG和多輸入信號特征寄存器MISR,BILBO,邊界掃描技術(shù)是一種擴(kuò)展的BIT技術(shù)。有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)，即IEEE1149．1。種不同功能的BIT電路。電壓求和是一種并行模擬BIT技術(shù)。運(yùn)算放大器將多個(gè)電壓電平疊加起來，
【正文】 路，不僅可以 測試芯片或者 PCB的邏輯功能，還可以測 試 IC之間或者 PCB之間的連接是否存在故 障。邊界掃描技術(shù)已經(jīng)成為 VLSI芯片可測 性設(shè)計(jì)的主流， IEEE也已于 1990年確定了 有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)，即 IEEE1149． 1。 邊界掃描的原理框圖 常規(guī) BIT技術(shù) ? 模擬 BIT技術(shù) 比較器 BIT 在硬件設(shè)計(jì)中加入比較器，可以很容易地實(shí)現(xiàn)多 種不同功能的 BIT電路。在具體實(shí)現(xiàn)時(shí)，通常都 是將激勵(lì)施加到被測電路 CUT上，然后將 CUT的 輸出連同參考信號送人比較器中； CUT的輸出與 參考信號進(jìn)行比較之后，比較器輸出通過／不通 過信號。在某些應(yīng)用中， CUT的輸出必須經(jīng)過額 外的信號處理電路進(jìn)行處理之后才能接到比較器 上。 常規(guī) BIT技術(shù) ? 模擬 BIT技術(shù) 電壓求和 BIT 電壓求和是一種并行模擬 BIT技術(shù)。它使用 運(yùn)算放大器將多個(gè)電壓電平疊加起來，然 后將求和結(jié)果反饋到窗口比較器并與參考 信號相比較，再根據(jù)比較器的輸出生成通 過／不通過信號。這種技術(shù)特別適用于監(jiān) 測一組電源的供電電壓。 智能 BIT技術(shù) ? 出現(xiàn)動(dòng)因 常規(guī) BIT技術(shù)在應(yīng)用中存在著諸多問題，歸 納起來主要有以下兩個(gè)方面 ? 功能相對簡單，診斷技術(shù)單一，診斷能 力差； ? 虛警率高； 智能 BIT技術(shù) ? 主要研究內(nèi)容 BIT智能設(shè)計(jì) BIT智能檢測 BIT智能診斷 BIT智能決策 第四節(jié) 可測試性設(shè)計(jì)實(shí)例 ? RAM測試設(shè)計(jì) A/D,D/A測試
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