智能儀器可測(cè)試性設(shè)計(jì)(編輯修改稿)
2024-11-16 16:33 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 T ? BIT簡(jiǎn)介 ? 常規(guī) BIT技術(shù) ? 智能 BIT技術(shù) BIT簡(jiǎn)介 ? BIT的由來(lái) 傳統(tǒng)的測(cè)試主要是利用外部的測(cè)試儀器（ ETE）對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試， ATE是 ETE的自動(dòng)化產(chǎn)物。由于 ATE費(fèi)用高、種類多、操作復(fù)雜、人員培訓(xùn)困難，而且只能離線檢測(cè)，隨著復(fù)雜系統(tǒng)維修性要求的提高，迫切需要復(fù)雜系統(tǒng)本身具備檢測(cè)、隔離故障的能力以縮短維修時(shí)間。所以， BIT在測(cè)試研究當(dāng)中占據(jù)了越來(lái)越重要的地位，成為維修性、測(cè)試性領(lǐng)域的重要研究?jī)?nèi)容。在測(cè)試性研究中， BIT技術(shù)應(yīng)用范圍越來(lái)越廣，正發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。 BIT簡(jiǎn)介 ? BIT的定義 定義 1： BIT是指系統(tǒng)、設(shè)備內(nèi)部提供的檢 測(cè)、隔離故障的自動(dòng)測(cè)試能力。 定義 2： BIT的含義是：系統(tǒng)主裝備不用外 部測(cè)試設(shè)備就能完成對(duì)系統(tǒng)、分系 統(tǒng)或設(shè)備的功能檢查、故障診斷與 隔離以及性能測(cè)試，它是聯(lián)機(jī)檢測(cè) 技術(shù)的新發(fā)展。 常規(guī) BIT技術(shù) ? 通用 BIT技術(shù) BIT通用設(shè)計(jì)性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則 BIT測(cè)試點(diǎn)的選擇與配置 常規(guī) BIT技術(shù) ? 數(shù)字 BIT技術(shù) 板內(nèi) ROM式 BIT 微處理器 BIT 微診斷法 內(nèi)置邏輯塊觀察法 邊界掃描 BIT 常規(guī) BIT技術(shù) ? 板內(nèi) ROM式 BIT 板內(nèi)只讀存儲(chǔ)器 (on— boardROM)實(shí)現(xiàn)的機(jī) 內(nèi)測(cè)試是一種由硬件和固件實(shí)現(xiàn)的非并行 式 BIT
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