智能儀器可測試性設(shè)計(編輯修改稿)
2024-11-16 16:33 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 T ? BIT簡介 ? 常規(guī) BIT技術(shù) ? 智能 BIT技術(shù) BIT簡介 ? BIT的由來 傳統(tǒng)的測試主要是利用外部的測試儀器（ ETE）對被測設(shè)備進行測試， ATE是 ETE的自動化產(chǎn)物。由于 ATE費用高、種類多、操作復(fù)雜、人員培訓(xùn)困難，而且只能離線檢測，隨著復(fù)雜系統(tǒng)維修性要求的提高，迫切需要復(fù)雜系統(tǒng)本身具備檢測、隔離故障的能力以縮短維修時間。所以， BIT在測試研究當(dāng)中占據(jù)了越來越重要的地位，成為維修性、測試性領(lǐng)域的重要研究內(nèi)容。在測試性研究中， BIT技術(shù)應(yīng)用范圍越來越廣，正發(fā)揮著越來越重要的作用。 BIT簡介 ? BIT的定義 定義 1： BIT是指系統(tǒng)、設(shè)備內(nèi)部提供的檢 測、隔離故障的自動測試能力。 定義 2： BIT的含義是：系統(tǒng)主裝備不用外 部測試設(shè)備就能完成對系統(tǒng)、分系 統(tǒng)或設(shè)備的功能檢查、故障診斷與 隔離以及性能測試，它是聯(lián)機檢測 技術(shù)的新發(fā)展。 常規(guī) BIT技術(shù) ? 通用 BIT技術(shù) BIT通用設(shè)計性設(shè)計準(zhǔn)則 BIT測試點的選擇與配置 常規(guī) BIT技術(shù) ? 數(shù)字 BIT技術(shù) 板內(nèi) ROM式 BIT 微處理器 BIT 微診斷法 內(nèi)置邏輯塊觀察法 邊界掃描 BIT 常規(guī) BIT技術(shù) ? 板內(nèi) ROM式 BIT 板內(nèi)只讀存儲器 (on— boardROM)實現(xiàn)的機 內(nèi)測試是一種由硬件和固件實現(xiàn)的非并行 式 BIT
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