mc過程對(duì)帶冕薄盤輻射譜的影響-資料下載頁(yè)
2025-09-20 20:40本頁(yè)面
【導(dǎo)讀】抽取其自由程并判斷是否會(huì)逃離系統(tǒng)；根據(jù)微分散射截面抽取散射光子的方向，并計(jì)算散射光子的能量；重復(fù)、直至光子逃逸盤冕系統(tǒng)或被吸收。若逃逸則記錄光子能量;3C273的觀測(cè)結(jié)果：10,~??建立更自洽的冕模型。BZ、MC過程的大尺度磁場(chǎng)應(yīng)當(dāng)對(duì)。閉合磁場(chǎng)的位形一致。如果這樣，由于磁耦合區(qū)緊鄰黑洞，廣義相對(duì)論效應(yīng)對(duì)冕中的康普頓化過程也產(chǎn)生影響。在超大質(zhì)量黑洞MCG－6-30-15的“DeepMinimum”態(tài)，DM態(tài)的兩個(gè)特征：高發(fā)射率指數(shù)和低X射線流量。型有望解釋低X射線流量。
【正文】 問題 6* 0. 99 8 , 3 , 10a n B G au ss? ? ?c os , , ?進(jìn)一步的工作 ? 建立更自洽的冕模型。 BZ、 MC過程的大尺度磁場(chǎng)應(yīng)當(dāng)對(duì)盤冕性質(zhì)產(chǎn)生影響，例如凍結(jié)效應(yīng)可能會(huì)使得冕的位形與閉合磁場(chǎng)的位形一致。如果這樣，由于磁耦合區(qū)緊鄰黑洞，廣義相對(duì)論效應(yīng)對(duì)冕中的康普頓化過程也產(chǎn)生影響。 ? 在超大質(zhì)量黑洞 MCG－ 63015的“ Deep Minimum”態(tài)， Garofalo amp。 Reynolds（ 2020, ApJ, 624, 94）初步解釋了DM態(tài)的兩個(gè)特征：高發(fā)射率指數(shù)和低 X射線流量 。我們已經(jīng)解釋了高發(fā)射率指數(shù)，利用冕位形的變化和自洽冕模型有望解釋低 X射線流量。 謝謝！
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