【導讀】摘要調研了國外大多數(shù)知名品牌的最新原子吸收光譜儀系列。對儀器重要部件的新設計、改進、發(fā)展以。及利弊得失作了敘說和討論。對異軍突起的電感耦合等離子發(fā)射光譜是否會取代原子吸收光譜的功能及其。它們測量方法之間有無互補優(yōu)勢問題作了述評。類光譜儀綜合比對后的評價是：具有較強的互補性以及不可取代性。新世紀來臨后，原子吸收光譜并沒有遭到預言之厄運。在光譜儀類別選型上仍占有一席之地。廠商致力于一臺主機和兩種原子化器轉換時的方便性和可靠性的研究，形成了以下系列產品?；鹧婧褪珷t串聯(lián)在同一光軸的原子化器光室中，分析轉換時位置無須改變，使用很方便。轉換后所用原子化吸收池每次需檢查是否和光路嚴格準直。火焰法稱量較大、噴霧時基體較高、其雙原子化器互相間不沾污、干擾有了良好保證。但只限于固態(tài)樣品。中原子、分子的重組畸變，凝聚態(tài)干擾與記憶效應等很突出，各種物理化學干擾很嚴重。

　　

【正文】 這種不正確的誤差；或在 ICP 法的測量中，才能得到和有證標樣吻合的正確值。又如在四氧化三鐵中測鈣鋁硅，原子吸收火焰法測量有困難，靈敏度低、干擾大。而用 ICP 測，則靈敏度高，線性好，還能連測，工作曲線純鐵打底即可。又如銅和銅合金、鎂和鎂合金中鈹鋯鉻的測定，用氧化亞氮 乙炔火焰法仍得不到良好結果，而在 ICP 法中，則能做到最好，鈹銅中鈹高的測到 2%左右，免去化學重量法的操作冗長；鎂合金中最低能測到 %鈹。還有石墨爐中和碳結合力強的高溫元素的殘留效應，在 ICP中是不存在的，如鎢鉭鈮鈦釩鋯鈀鉬等。再 如稀土分量的測定石墨爐要求的原子化溫度均太高，空心陰極燈的制作也不理想，如 ICP 光譜分辨力能達要求，則分析此含量 ICP 光譜法更見長。 總之，以上所述，原子吸收光譜法和電感耦合等離子體發(fā)射光譜法之間其優(yōu)勢互補還是很明顯的：AAS 光譜干擾小、化學干擾大；而 ICPAES 則光譜干擾顯著、化學干擾卻小或無。另外石墨爐原子吸收微量采樣的痕量元素分析優(yōu)勢，是目前 ICPAES 所不能取代的。因此，在公正的對外分析的第三方實驗室中，原子吸收光譜這種儀器的添置還是必不可少的，是能發(fā)揮其最大效用的。中國的光譜儀器制造基礎工業(yè) 還很薄弱，學習借鑒國外先進經驗倍感重要。 [ 5556] 但人和儀器的關系，人是第一位的，如何發(fā)揮主觀能動性、揚長避短用好儀器，是發(fā)展新儀器及其新手段的基礎。 [ 57] 6. 參考文獻 [1] Walsh A. Spectrochim. Acta[J], 1955,7:108 [2] Russel B J ,Shelton J P, Walsh A. Spectrochim. Acta[J], 1957,8:317 [3] L， vov B V. Spectrochim. Acta[J] 1984,39B:149 [4] Holak W. [J],1969,41:1712 [5] Thermo Elemental, HS90 高靈敏汞分析裝置（金汞齊收集裝置）聯(lián)用說明書 [Z].2020 [6] 戴亞明，現(xiàn)代科學儀器 [J],1998,6:52 [7] Hieftje G M. [J],1989， 4： 117 [8] Sturgon R E. Fresenius [J],1990,337:538 [9] L， vov B V, Slavin W. [J],1991， 6： 191 [10] Hieftje,. [J],1991,6:192 [11] Sturgeon,. Analyst[J], 1992,117:233 [12] Jordan,. [J], 1995,5(9):5 [13] Singer,R. LaborPraxis[J],1995,19(12):48 [14] Ivaldi,.。Carnrick,G.。Grosser,Z. Presented at Pittsburgh Conference,Chicago, [M].USA,March 1996,38 [15] 日本日立儀器公司，原子吸收系列使用說明書 [Z].2020 [16] 日本島津儀器公司 , 原子吸收系列使用說明書 [Z].2020 [17] 美國 PerkinElmer儀器公司 , 原子吸收系列使用說明書 [Z].2020 [18] 美國 ThermoElemental 公司（ 英國 Uni子公司） ,原子吸收系列使用說明書 [Z].2020 [19] 美國 Leeman儀器公司 ,原子吸收系列使用說明書 [Z].2020 [20] 美國 Varian儀器公司 ,原子吸收系列使用說明書 [Z].2020 [21] 澳大利亞 GBC儀器公司 ,原子吸收系列使用說明書 [Z].2020 [22] 德國 Jena儀器公司 ,原子吸收系列使用說明書 [Z].2020 [23]Welz,B,Sperling,M,Schlemmer,G,Wenzel,N,Marowksy,[J],1988,43B:1187 [24]Hill,Dawson,Price,et [J],1992,7:215R [25] 程志臣，申守乾，陳友緯等 .理化檢驗 化學分冊 [J],2020， 39（ 4）： 237 [26] Frech,W,Baxter,Hutsch,B. [J].1986,58:1973 [27] Slavin,W,Carnrick,Manning, . [J],1982,54:621 [28] Slavin,W, Manning, , Carnrick,. [J],1981,2:137 [29] Slavin,W, Carnrick,. [J],1984,39B:271 [30] 羅方若 ,分析測試通報 [J],1987,6(2):25 [31] Harnly,Radziuk,B. . Spectrom[J],1995,10(3):197 [32] Shuttler,I. [J],1992,13(5):174 [33] Hpautkorn,S,Schneider,G,Krivan,V. [J],1994,9:463 [34]Skroce,A,McCormick,M,Meehan,B,et al. [J],1993,48B(13):1639 [35]de LoosVollebregt,van Oosten,P,de Koning,et , [J],1993,48B(13):1505 [36] Slavin W, Carnrick G R. [J],1986， 7（ 1）： 913 [37] 李述信，分析化學譯刊 [J],第一集， 1987， 4（ 912） :95102 [38] 趙乃福，光譜實驗室 [J],1999， 16（ 2）： 129 [39] 何細華，趙秦 .現(xiàn)代儀器 [J],2020， 1： 60 [40] 揚嘯濤，何華琨，彭潤中等 .原子吸收分析中的背景吸收及儀器校正 [M],北京：北京大學出版社1989， 1247 [41] 陳九武，馮雪松 .現(xiàn)代科學儀器 [J],2020， 3:23 [42] 李述信，分析化學譯刊 [J],第一集 ,1987， 4（ 912） :371 [43] 戴亞明，國外分析儀器技術與應用 [J],1997， 3： 57 [44] 何志榮，陳江韓，何華緄 .高等學?；瘜W學報 [J],1998， 12（ 4）： 534 [45] Hanna,. Carnrick,. McIntosh,. et al. .[J],1995,16(2)： 80 [46] 張召香，淦五二，何友昭等 .分析試驗室， 2020， 23（ 3）： 25 [47] Howard,A. [J],1997,12(3)： 267 [48] MillerIhli,. Fresenius J. [J],1990,337:271 [49]LopezGarcia,.。SanchezMerlos,M.。HernandezCordoba,[J],1997,12(7)777 [50] Matusiewicz,H. [J],1997,52B(12) ； 1711 [51] Matusiewicz,H. Kopras,M. [J],1997,12： 1287 [52] 張德強 ,分析試驗室 [J],2020,21(1):9 [53] 原子吸收光譜編寫組，原子吸收光譜分析 [M].北京：地質出版社， 1979， 77 [54] GB/,鋁及鋁合金化學分析方法 火焰原子吸收光譜法測定鎂量 [S] [55] 邱海歐，鄭洪濤，湯志勇 .分析試驗室 [J], 2020， 22（ 1）： 102 [56] 胡延吉，現(xiàn)代科學儀器 [J],1998,3:5 [57] 李昌厚，孫吟秋，光譜儀器與分析 [J],2020， 1： 9