計量值管制圖的制作與解析(ppt46)-質(zhì)量檢驗-資料下載頁
2025-08-08 13:21本頁面
【導(dǎo)讀】小n及抽樣間隔,樣本組數(shù)k.·能測定的產(chǎn)品或製程特性.·與客戶使用及生產(chǎn)關(guān)係重大的特性.·經(jīng)常出問題的特性.·n約在2-5個之間,不宜太大.及同一短時間內(nèi)取樣.·每組樣本可識別日期,時間,作業(yè)員,機臺,原材料或零件批.·不影響生產(chǎn)及可接受的成本下.變異有機會出現(xiàn).性的平均數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)差.全距Ri,總平均數(shù)x及R.·將數(shù)據(jù)記錄於空白的計量值管制圖上.·兩管制圖之座標(biāo)尺寸分開製訂.·中心線置於從座標(biāo)之中心位置上.·決定一格的大小及從座標(biāo)之尺寸.決定各組及平均數(shù)之間的變異程度,因此,R管制圖的穩(wěn)定性必須先解析.有點超過管制上限。·計算錯誤或描點錯誤.變大或趨勢性變大.·量測系統(tǒng)曾經(jīng)改變.應(yīng)該調(diào)查而推廣。８點以上來代表製程變異的減小。·數(shù)據(jù)成曾經(jīng)修改.不同變異來源的數(shù)據(jù),如進料混批.續(xù)多久,應(yīng)該是非常有用的指引.·量測系統(tǒng)的改變.變異是因製程數(shù)據(jù)分組造成的.$對平均數(shù)管制圖上顯示的特殊原因,
【正文】 k = Ca = *** CPK = CPU 單邊下限 LSL Cp = *** CPL = (X LSL) / 3σ ZLSL = (X LSL) / σ CPU = *** k = Ca = *** CPK = CPL 雙邊規(guī)格 Cp = (USL – LSL ) / 6σ CPU = (USL – X ) / 3σ ZUSL = (USL – X) / σ CPL = (X – LSL) / 3σ ZLSL = (X – LSL) / σ k = C a= CPK = MIN(CPU , CPL) = (1Ca ) Cp X – ( USL+LSL) / 2 ( USL – LSL) / 2 3 估計製程不良率 :製程特性分配為常態(tài)時 ,可用下式估計 雙邊規(guī)格 PUSL = P﹝Z ﹥Z USL﹞ PLS L = P﹝Z ﹥Z LSL﹞ P = PUSL + PLS L 4. 若依客戶要求的品質(zhì)水準(zhǔn) ,顯示製程能力不足 ,則進行改善活動計劃 ,短期內(nèi)可用下列方式進行 . 以全檢挑選不良品 取得客戶的同意修改規(guī)格 七 延長管制界限開始管制 若製程在管制狀態(tài)下且製程能力足夠則延長管制界限開始管制 .其管制界線以過去解析的數(shù)據(jù)來估計 ,估計方法如下 : 1. 估計製程平均 μ 及標(biāo)準(zhǔn)差 σ μ= X , σ= R / d2 2. 重新計算管制界限 UCLX =μ+ 3 σ/ √n , UCLR= d2σ+3d3σ CLX = μ , CL R = d2σ LCLX = μ 3σ/ √n , LCLR= d2σ 3d3σ 3. 以此管制界限監(jiān)控製程之變化 .
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