電容電感測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)開題報(bào)告-開題報(bào)告-資料下載頁
【導(dǎo)讀】1課題研究意義和目的························································································1. 2國(guó)內(nèi)外該方向研究現(xiàn)狀及分析··············································································1. 3系統(tǒng)總體方案論證··························································································1. 4系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)······················&#
【正文】 Lx 并聯(lián)到 L 的兩端。當(dāng)測(cè)量電容時(shí) , 輸入電路自動(dòng)把要測(cè)量的電容 Cx 并聯(lián)到 C1 的兩端。 圖 各部分測(cè)試電路 （ 1）電阻測(cè)量電路 電阻的測(cè)量采用“ 脈沖計(jì)數(shù)法” , 由 555 電路構(gòu)成的多諧振蕩電路 ,555 接成多諧振蕩 器的形式 ,其振蕩周期為： 得出 即 （ 2）電容測(cè)量電路 電容的測(cè)量同樣采用“脈沖計(jì)數(shù)法” ,由 555 電路構(gòu)成的多諧振蕩電路 ,通過計(jì)算振蕩輸出的頻率來計(jì)算被測(cè)電容的大小。 555 接成多諧振蕩器的形式 ,其振蕩周期為： T=t1+t2 =(ln2)(R1+R2 ) Cx +(ln2)R2 Cx 設(shè) R1=R2 ,得出 即 （ 3）電感測(cè)量電路 電感的測(cè)量是采用電容三點(diǎn)式振蕩電路來實(shí)現(xiàn)的。 LC 回路中與發(fā)射極相連的兩個(gè)電抗元件是同性質(zhì)的 ,另外一個(gè)電抗元件為異性質(zhì)的 ,而與發(fā)射極相連的兩個(gè)電抗元件同為電容時(shí)的三點(diǎn)式電路 ,成為電容三點(diǎn)式電路： 得出 即 5 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì) 主程序流程圖 本系統(tǒng)是通過 定時(shí)器定時(shí)并在定時(shí)期間對(duì) LRC電路所產(chǎn)生的脈沖進(jìn)行統(tǒng)計(jì) ,通過內(nèi)部程序計(jì)算出相應(yīng)的值并在 LCD上顯示。主程序流程圖如圖 4所示。 圖 測(cè)量子程序流程圖 圖 測(cè)量頻率擬定為 1秒鐘，具體由顯示效果確定。 6 實(shí)施計(jì)劃 第 1周 定下方案，收集資料，準(zhǔn)備開題； 第 2周 — 第 4周 指定實(shí)驗(yàn)方案，系統(tǒng)仿真； 第 5周 — 第 10 周 硬件的焊接調(diào)試，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的測(cè)試分析和系統(tǒng)的改進(jìn)性研究； 第 11 周 — 第 15 周 期末驗(yàn)收及論文撰寫； 第 16周 準(zhǔn)備答辯； 7 系統(tǒng)擬解決問題 該系統(tǒng)需要解決振蕩電路的起振、干擾和波形處理的問題。有時(shí) BJT 的放大倍數(shù)不夠則電路起振較難，不利于測(cè)試，具體 BJT 的選擇需要靠實(shí)際測(cè)試確定。另外，也要考慮到振蕩頻率不能超過單片機(jī)的計(jì)數(shù)最高頻率，也涉及到了晶振頻率的選擇問題。 另外，系統(tǒng)引入量程切換功能，對(duì)軟件的編寫來說也有一定的難度。同時(shí)系統(tǒng)的智能性也有待研究。 8 主要參考文獻(xiàn) [1] 閻石 .數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ) (第 5 版 )[M]．高等教育出版社 ,2021. [2] 華成英 ,童詩白 .模擬電子技術(shù)基礎(chǔ) (第 4 版 )[M].高等教育出版社 ,2021. [3] 閆玉德 , 等 .MCS:51 單片機(jī)原理與應(yīng)用 :C語言版 [M].機(jī)械工業(yè)出版社 ,2021. [4] 牛百齊 . 基于單片機(jī)的電容測(cè)量?jī)x設(shè)計(jì) [J].儀器儀表用戶 ,2021,12(4):2930. [5] 劉明亮 . 振蕩器的原理和應(yīng)用 [M].北京 : 高等教育出版社 ,1983. [6] 劉軍 , 李智 . 基于單片機(jī)的高精度電容電感測(cè)量?jī)x [J].國(guó)外電子測(cè)量技術(shù) ,2021,26(6): 4851. [7] A l Dutche r. 使用少量元件的廉價(jià)易用電感測(cè)試儀 [ J].電子設(shè)計(jì)技術(shù) , 2021(7): 108 111. [8] 陳江華 , 楊霓清 , 梁村梅 . 一種實(shí)用的電容、電感和電阻自動(dòng)測(cè)量?jī)x [ J]. 計(jì)量與測(cè)試技術(shù) ,2021,29(1):2126. [9] 丁金林 .智能 LRC測(cè)量?jī)x的設(shè)計(jì) .蘇州市職業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào) .2021年 第 6期 [10] 王恩貴 . 采用單片機(jī)的便攜式 LRC參數(shù)測(cè)試儀 .國(guó)外電子測(cè)量技術(shù) .2021年 第 10期 . [11] 李華等． MCS51 單片機(jī)實(shí)用接口技術(shù) [M]．北京航空航天大學(xué)出版社． [12] 周民德 .微機(jī)原理與接口技術(shù) .北京：人民郵電出版社， 2021. [13] 黃川 .智能電阻、電容、電感測(cè)試儀設(shè)計(jì) .科技資訊 .. [14] 劉新如何正確使用 LRC測(cè)試儀測(cè)量電子元件 [J].計(jì)量與測(cè)試技術(shù) ,2021,33(5):24. [15] 阮德生 .自動(dòng)測(cè)試技術(shù)與計(jì)算機(jī)儀器系統(tǒng)設(shè)計(jì) [M]．西安：西安電子科技大學(xué)出版社， 1997． [16] 陳尚松 ,雷加 ,郭慶 .電子測(cè)量與儀器 [M].北京 :電子工業(yè)出版社 ,2021. [17] 韋以明 .基于傳感中低 Q電感的測(cè)量 [J].現(xiàn)代電子技術(shù) ,2021,1(11):138140. [18] LCR MeterOperation Manual[Z].Japan:． [19] A HighAccuracy Automated Resistance Bridge for Measuring Quantum Hall Year:1985,Page(s):320322. [20] Automated voltage/current technique for costeffective impedance measurement [J]. amp。 POWER MARCH 1985.
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