邁向6s之路(1)(編輯修改稿)
2025-03-17 07:03 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 號100 100 901 2 2% % %P管制圖備註及原因追查 :不良數(shù) d不良率 P 製 品 名 稱管制項目檢驗數(shù) n期 間抽樣方法2905P =UCL 紅 色製造部門機臺別測定者3%CL%%UCLLCL%%%%%%%%%%%% ? 機遇原因：不可控變因（ Chance cause) ? 非機遇原因：可控變因（ assignable cause) 品質(zhì)變異原因 % % % % % % % % LCL C區(qū) C區(qū) B區(qū) B區(qū) A區(qū) A區(qū) % % % CL UCL μ 1α μ 2α μ+2α μ+3α μ3α μ+1α μ 規(guī) 范 范 圖 （安定）狀態(tài)之鑑別基準係 ? 沒有點子超出管制界限外 ? 點子的分布呈隨機分布（無規(guī)則可循） 鑑別是根據(jù)或 然率之理論而加以判定的，符合下述 之一項者，即為不正常之形態(tài)。 管制圖的判定 （ 1）點超出管制界限 C L C 區(qū) B 區(qū) A 區(qū) +3σ +2σ +1σ ˙˙ ˙ UCL (2) 在中心線，連續(xù)三點中有兩點落在Ａ 區(qū)或Ａ區(qū)以外者 CL C區(qū) －－－－－－－－－－－－－－－ UCL B區(qū) A區(qū) ˙ ˙˙˙˙˙˙˙˙˙+1σ +2σ +3σ (3)在中心線同側，連續(xù)五點中有四點落 在 B區(qū)或 B區(qū)以外者 CL C區(qū) B區(qū) A區(qū) －－－－－－－－－－－－－－－ UCL ＋ 1σ ＋ 2σ ＋ 3σ ˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙ (4)八個連續(xù)點子出現(xiàn)在中心線之同側者 C區(qū) A區(qū) B區(qū) ＋ 1σ ＋ 2σ ＋ 3σ CL －－－－－－－－－－－－－－－－ UCL ˙˙˙ ˙ ˙˙ ˙˙ （ 5）連續(xù)七點同一方向者 －－－－－－－－－－－－－－－－ UCL CL －－－－－－－－－－－－－－－－－ LCL 1σ ＋ 3σ ＋ 2σ ＋ 1σ 2σ 3σ B區(qū) A區(qū) C區(qū) C區(qū) B區(qū) A區(qū) ˙˙˙˙ ˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙ DPMO DPMO： Defect Per Million Opportunity 缺點（ defect）－－ 是指一個產(chǎn)品或零件的必要特性，因變異太大以致無法達成顧客的物理或功能要求。例如零件公差的尺寸超出公差，是一個缺點；組件無法達成預定的功能也是一個缺點 DPMO＝ Σ 106 製程之不良數(shù) 該段零件數(shù)＋點數(shù)＋製程數(shù) 直通率 ? First time yield (FTY):製程段不發(fā)生不良的比率 ? First yield Rate:全製程不發(fā)生不良的比率 First Yield Rate=FTY1FTY2… FTYn 直通率＝ ICT良率 SMT目檢良率開 機測試良率功能測試良率 PRIMAX產(chǎn)線統(tǒng)計手法對照圖 PACKSHIP MILSTD105E AQL= SMT DIP PQC QA 進料檢驗 CPK PCHART DPMO MILSTD105E II級 , AQL= CPK PCHART DPMO PCHART MILSTD105E II級 , AQL= MBF 品質(zhì)推移圖 CUST COMP 電子類 :S4級 機構 ,包材類 :II級 製程能力 分配正對中心 偏移177。 (T/8) 偏移177。 為 At177。3σ: 2700ppm不良 12300ppm不良 6681ppm不良或 T=6 σ %產(chǎn)率 %產(chǎn)率 %產(chǎn)率 為 At 177。4σ: 63ppm不良 1135ppm不良 6610ppm不良或 T=8 σ %產(chǎn)率 %產(chǎn)率 %產(chǎn)率 為 At 177。5σ: 86ppm不良 233ppm不良為 T=10 σ %產(chǎn)率 %產(chǎn)率 %產(chǎn)率 為 At 177。6σ: 或 T= 12 σ %產(chǎn)率 %產(chǎn)率 %產(chǎn)率 製程能力對照表 為了不同行業(yè)估算的競爭基準與世界標竿，我們可以依據(jù)“ 直通率對應 Sigma表”推定自己公司的競爭力。 Assumed Primax 三月份為直通率
教學課件相關推薦
鄂ICP備17016276號-1