【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 二、基本的統(tǒng)計(jì)概念 主要的統(tǒng)計(jì)參數(shù) 10 ◆ 制程能力綜合指數(shù) — Cpk Cpk是綜合 Ca (k)及 Cp兩者的指數(shù) 計(jì)算為：當(dāng) Ca =0時(shí)， Cpk =Cp； 單邊規(guī)格時(shí)： Cpk即為 Cp的絕對(duì)值 等級(jí)評(píng)定 : 等級(jí) C pk 值 A B C ≦ C pk ≦ C pk ＜ C pk ＜ A級(jí)：制程能力充足 B級(jí)：制程能力尚可，仍需努力 C級(jí)：制程能力需要改善 31 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 二、基本的統(tǒng)計(jì)概念 主要的統(tǒng)計(jì)參數(shù) 11 ◆ 制程能力綜合指數(shù) — Cpk Cpk = (規(guī) 格上限 – Xbar ) / 3σ a 或 ( Xbar – 規(guī) 格下限 ) / 3σ a 兩 者取小值 32 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 二、基本的統(tǒng)計(jì)概念 主要的統(tǒng)計(jì)參數(shù) 12 ◆ 初期制程潛力 — Pp Pp初期制程潛力，為一項(xiàng)類似于 Cp的指數(shù)，但本項(xiàng)指數(shù)的計(jì)算，是以新制程之初期短程性研究所得的數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，取得的制程數(shù)據(jù)，至少應(yīng)包括該制程初期評(píng)估時(shí)的二十組數(shù)據(jù)，但計(jì)算時(shí)，應(yīng)定義“樣本標(biāo)準(zhǔn)差”而進(jìn)行 Pp= USLLSL 6σp 33 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 二、基本的統(tǒng)計(jì)概念 主要的統(tǒng)計(jì)參數(shù) 13 ◆ 初期制程能力 — Ppk Preliminary process capability Ppk初期制程能力，為一項(xiàng)類似于 Cpk的指數(shù)，但本項(xiàng)指數(shù)的計(jì)算，是以新制程之初期短程性研究所得的數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，取得的制程數(shù)據(jù)，至少應(yīng)包括該制程初期評(píng)估時(shí)的二十組數(shù)據(jù)，但計(jì)算時(shí)，應(yīng)于取得的數(shù)據(jù)足以顯示制程至于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)實(shí)施。 P p k= 規(guī)格上限 X bar 3σp X bar規(guī)格下限 3σp 或 (取其 較 小值 ) 34 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 制程控制系統(tǒng) ◆ 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 識(shí)別不斷變化的需求量和期望 顧客 統(tǒng)計(jì)方法 我們工作的方式 /資源的融合 產(chǎn)品或服務(wù) 輸入 過程的呼聲 輸出 過程 /系統(tǒng) 人 設(shè)備 材料 方法 環(huán)境 35 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 變差的普通原因和特殊原因 1 ◆ 普通原因：是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程的變差的原因。普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)系統(tǒng)的偶然原因。只有過程變差的普通原因存在且不改變時(shí)，過程的輸出才可以預(yù)測(cè)。 ◆ 特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始終作用于過程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成（整個(gè)）過程的分布改變。只用特殊原因被查出且采取 措 施 ,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測(cè)的影響過程的輸出 36 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 變差的普通原因和特殊原因 2 ◆ 如果僅存在變差的 普通原因，隨著時(shí)間 的推移，過程的輸出 形成一個(gè)穩(wěn)定的分布 并可預(yù)測(cè)。 ◆ 如果存在變差的特 殊原因，隨著時(shí)間的 推移，過程的輸出不 穩(wěn)定。 范圍 范圍 目標(biāo)值線 預(yù)測(cè) 預(yù)測(cè) 目標(biāo)值線 時(shí)間 時(shí)間 37 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施 ◆ 局部措施 通常用來(lái)消除變差的特殊原因通常由與過程直接相 關(guān)的人員實(shí)施通?？杉m正大約 15%的過程問題 ◆ 對(duì)系統(tǒng)采取措施 通常用來(lái)消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措 施，以便糾正大約可糾正 85%的過程問題 38 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 過程控制及過程能力 1 ◆ 過程控制 范圍 不受控 (存在特殊原因 ) 受控 (消除了特殊原因 ) 時(shí)間 39 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 過程控制及過程能力 2 ◆ 過程能力 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 (普通原因造成的變差太大 ) 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 時(shí)間 規(guī)范下限 規(guī)范上限 40 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 過程改進(jìn)循環(huán) ◆ 分析過程 本過程該做什么？ 會(huì)出現(xiàn)什么錯(cuò)誤？ 本過程正在做什么？ 達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)？ 確定能力 P A C D C A D C A D P P ◆ 維護(hù)過程 監(jiān)視過程性能 查找過程變差的特殊原因并采取措施 ◆ 改進(jìn)過程 改進(jìn)過程從而更好地理解普通原因變差 減少普通原因變差 41 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 控制圖 1 控制上限 中心線 控制下限 ◆ 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 ◆ 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限識(shí)別變差的特殊原因并采取措施 ◆ 分析及改進(jìn) 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過程 42 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 三、持續(xù)改進(jìn)及 SPC概述 控制圖 2 ◆ 控制圖的益處： ● 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用 ● 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地，可預(yù)測(cè)地保持下去 ● 使過程達(dá)到： ─ 更高的質(zhì)量 ─ 更低的單件成本 ─ 更高的有效能力 ● 為討論過程的性能提供共同的語(yǔ)言 ● 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南 43 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 四、管制圖的種類 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X med R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 XMR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 44 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 五、管制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？ 關(guān)心的是不合格品率？ 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？ 樣本容量是否恒定？ 使用 np或 p圖 使用 p圖 樣本容量是否 桓 定？ 使用 c或 u圖 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？ 子組均值是否能很方便地計(jì)算？ 使用中 位數(shù)圖 使用單值圖XMR 是 使用 u圖 否 是 是 是 是 是 是 否 否 否 否 否 子組容量是否大于或等于 9？ 是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值？ 使用 X— R圖 使用 X— R圖 使用 X— s圖 是 是 是 否 否 45 SPC統(tǒng)計(jì)制程管制 六、計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 P圖 /不良率管制圖 1 ◆ P圖是用來(lái)測(cè)量在一批檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品（缺陷）項(xiàng)目的百分?jǐn)?shù)。