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正文內(nèi)容

spc講座(編輯修改稿)

2025-03-10 15:01 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 求哪些與質(zhì)量特性有關(guān) , 應(yīng)選擇與使用目的有重要關(guān)系的質(zhì)量特性來作為控制的項(xiàng)目 .– 有些雖然不是最終產(chǎn)品質(zhì)量的特性 , 但為了達(dá)到最終產(chǎn)品的質(zhì)量目標(biāo) , 而 在生產(chǎn)過程中所要求的質(zhì)量特性也應(yīng)列為控件目– 在同樣能夠滿足對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下 , 應(yīng)該 選擇容易測(cè)定的控件目 . 用統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行質(zhì)量控制。如無質(zhì)量特性數(shù)據(jù)就無法進(jìn)行 .質(zhì)量特性與管制圖的選擇– 在同樣能夠滿足產(chǎn)品質(zhì)量控制的情況下 , 應(yīng)選擇對(duì)生產(chǎn)過程容易采取措施的控件目 .– 為了使控制最終取得最佳效果 , 應(yīng)盡量采取 影響產(chǎn)品質(zhì)量特性的根本原因 有關(guān)的特性或接近根本原因的特性作為控件目 .– 產(chǎn)品的質(zhì)量特性有時(shí)不止一個(gè) , 則應(yīng)同時(shí)采取幾個(gè)特性作為控件目 .使用管制圖的注意事項(xiàng)? 分組問題– 主要是使在大致相同的條件下所收集的質(zhì)量特性值分在一組 , 組內(nèi)不應(yīng)有不同本質(zhì)的數(shù)據(jù) , 以保證組內(nèi)僅有普通原因的影響 .– 我們所使用的管制圖是以影響過程的許多變動(dòng)因素中的普通因素所造成的波動(dòng)為基準(zhǔn)來找出異常因素的 , 因此 , 必須先找出過程中普通原因波動(dòng)這個(gè)基準(zhǔn) .時(shí)間質(zhì)量特性 制程的變化分組時(shí)的重要考慮讓組內(nèi)變化只有普通原因讓組間變化只有特殊原因組內(nèi)變異小組間變異大使用管制圖的注意事項(xiàng)? 分層問題– 同樣產(chǎn)品用若干臺(tái)設(shè)備進(jìn)行加工時(shí) , 由于每臺(tái)設(shè)備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異 , 這些差異常常是增加產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)、使散差加大的原因 . 因此 , 有必要按不同的設(shè)備進(jìn)行質(zhì)量分層 , 也應(yīng)按 不同條件 對(duì)質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制 , 作分層管制圖 . – 另外 , 當(dāng)管制圖發(fā)生異常時(shí) , 分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法 .Question? 請(qǐng)問有哪些層別分析的角度?復(fù)合層別的說明使用管制圖的注意事項(xiàng)? 控制界限的重新計(jì)算– 為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程 , 在確定管制圖最初的控制線 CL、 UCL、 LCL時(shí) , 常常需要反復(fù)計(jì)算 , 以求得切實(shí)可行的管制圖 . 但是 , 管制圖經(jīng)過使用一定時(shí)期后 , 生產(chǎn)過程有了變化 , 例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后 , 應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù) , 以重新計(jì)算控制界限并作出新的管制圖 .控制界限的延用取樣的方式? 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小,組間變異大? 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明 每組樣本數(shù)組數(shù)的要求 (最少 25組 )當(dāng)制程中心值偏差了二個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差時(shí),它在控制限內(nèi)的概率為 那么連續(xù) 25點(diǎn)在線內(nèi)的概率為:? A收集數(shù)據(jù):在計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下:? B計(jì)算控制限n C過程控制解釋n(同 XR圖解釋 )n D過程能力解釋Sigma P? A收集數(shù)據(jù)– 一般情況下,中位數(shù)圖用在樣本容量小于 10的情況,樣本容量為奇數(shù)時(shí)更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù),中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。? B計(jì)算控制限nC過程控制解釋n(同 XR圖解釋 )? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差:? 單值控制在檢查過程變化時(shí)不如 XbarR圖敏感。? 如果過程的分布不是對(duì)稱的,則在解釋單值管制圖時(shí)要非常小心。? 單值管制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性,最好能使用 XbarR。? 由于每一子組僅有一個(gè)單值,所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較大的變性,直到子組數(shù)達(dá)到 100個(gè)以上。? A收集數(shù)據(jù)– 收集各組數(shù)據(jù)– 計(jì)算單值間的移動(dòng)極差。通常最好是記錄每對(duì)連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差,第二和第三讀數(shù)間的差等 )。移動(dòng)極差的個(gè)數(shù)會(huì)比單值讀數(shù)少一個(gè) (25個(gè)讀值可得 24個(gè)移動(dòng)極差 ),在很少的情況下,可在較大的移動(dòng)組 (例如 3或 4個(gè) )或固定的子組 (例如所有的讀數(shù)均在一個(gè)班上讀取 )的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。nB計(jì)算控制限? C過程控制解釋– 審查移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn),這是存在特殊原因的信號(hào)。記住連續(xù)的移動(dòng)極差間是有聯(lián)系的,因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的。由于這個(gè)原因,在解釋趨勢(shì)時(shí)要特別注意。– 可用單值圖分析超出控制限的點(diǎn),在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布,以趨勢(shì)或圖形。但是這需要注意,如果過程分布不是對(duì)稱,用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時(shí),可能會(huì)給出實(shí)際上不存在的特殊原因的信號(hào)n 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差:n式中, R為移動(dòng)極差的均值, d2是用于對(duì)移動(dòng)極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。不良和缺陷的說明結(jié)果舉例 管制圖車輛不泄漏/泄漏 P圖NP圖燈亮/不亮孔的直徑尺寸太小或太大給銷售商發(fā)的貨正確/不正確風(fēng)窗玻璃上的氣泡 C圖U圖門上油漆缺陷發(fā)票上的錯(cuò)誤P管制圖的制做流程A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋建立 p圖的步驟 AA階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度A4將不合格品率描繪在控制圖A1子組容量、頻率、數(shù)量? 子組容量:用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的管制圖 一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗(yàn)出性能的變化,一般希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品,但樣本數(shù)如果太 大 也會(huì)有不利之處。? 分組頻率:應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時(shí)間隔短則反饋快,但也許與大的子組容量的要求矛盾? 子組數(shù)量: 要大于等于 25組以上,才能判定其穩(wěn)定性 。A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率? 記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值– 被檢項(xiàng)目的數(shù)量 ─n– 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 ─np– 通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率A3選擇管制圖的坐標(biāo)刻度? 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo),子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)??v坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。劃圖區(qū)域A4將不合格品率描繪在管制圖上? 描繪每個(gè)子組的 p值,將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。? 當(dāng)點(diǎn)描完后,粗覽一遍看看它們是否合理,如果任意一點(diǎn)比別的高出或低出許多,檢查計(jì)算是否正確。? 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況,當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時(shí),將它們記錄在管制圖的 “備注 ”部份。B計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率B2計(jì)算上、下控制限B3畫線并標(biāo)注建立 p管制圖的步驟 B計(jì)算平均不合格率及控制限畫線并標(biāo)注? 均值用水平實(shí)線:一般為黑色或藍(lán)色實(shí)線。? 控制限用水平虛線:一般為紅色虛線。? 盡量讓樣本數(shù)一致,如果樣本數(shù)一直在變化則會(huì)如下圖:100 200 300 100 200 100 100 200 300 1001 2 1 2 1 2 1 2 3 2收集數(shù)據(jù) 繪圖及計(jì)算 控制限 是否異常 延伸控制限N找出異常點(diǎn)原因并提出相應(yīng)措施制程有變化人機(jī)料法環(huán)測(cè)量Y控制限運(yùn)用說明過程能力解釋普通原因和異因并存 找出異因只剩普通原因運(yùn)用控制圖過程穩(wěn)定(連 25點(diǎn)不超限 )計(jì)算過程能力評(píng)價(jià)過程能力過程穩(wěn)定,不良率維持在一定的水平當(dāng)中降低不良率采取管理上的措施降低普通原因,如此才能縮小控制界限,降低不良率縮小控制限改善過程能力? 過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài),該過程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因 ─ 過程能力。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接采取管理措施,否則過程能力不可能得到改進(jìn)。有必要使用長(zhǎng)期的解決問題的方法來糾正造成長(zhǎng)期不合格的原因。? 可以使用諸如 排列圖 分析法及 因果分析圖 等解決問題技術(shù)。但是 如果僅使用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在 ,通常盡可能地追溯變差的可疑原因,并 借助計(jì)量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分將有利于問題的解決以下是整理按每小時(shí)實(shí)施的對(duì)最終制品的抽樣檢查結(jié)果得出的 DATA。49 45 51 27 28 51 45 49 28 51 6 1 3 4 8 4 4 2 9 3樣本數(shù)不良品數(shù)時(shí)間 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10作成 p 管制圖, 判定工程是否穩(wěn)定狀態(tài)。P 管制圖因?yàn)榘l(fā)現(xiàn)了脫離管因?yàn)榘l(fā)現(xiàn)了脫離管 制上限制上限 的兩的兩 個(gè)點(diǎn),所以不能說處于管個(gè)點(diǎn),所以不能說處于管 制制 狀態(tài)。狀態(tài)。 進(jìn)而查明其原因。進(jìn)而查明其原因。P 管制圖不合格品數(shù) np圖? “np”圖是 用 來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量,與 p圖不同, np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。 p圖和 np圖適用的基本情況相同,當(dāng)滿足下列情況可選用np圖– 不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。– 各階段子組的樣本容量相同。 “np”圖的詳細(xì)說明與 p圖很相似,不同之處棄如下:A收集數(shù)據(jù)? 受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品,在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。? 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。B計(jì)算控制限過程控制解釋、過程能力解釋? C過程控制解釋:同 “p”圖的解釋。? D過程能力解釋:過程能力如下:100 100 100 100 100 100 100 100 100 1001 2 1 0 1 2 1 2 0 2不合格品數(shù) np圖對(duì)某制品在 n = 50個(gè)中出現(xiàn)的不良個(gè)數(shù)經(jīng)過 25 回調(diào)查的結(jié)果如下。 作成 np 管制圖后分析。332422332442533234141544412345678910111213141516171819202122232425編號(hào) 不良個(gè)數(shù) 編號(hào) 不良個(gè)數(shù) 編號(hào) 不良個(gè)數(shù)NP 管制圖沒有脫離管沒有脫離管 制制 限度線的點(diǎn),也看不出異常要因明顯的習(xí)性,限度線的點(diǎn),也看不出異常要因明顯的習(xí)性,因此可以說處于管因此可以說處于管 制制 狀態(tài)。狀態(tài)。 NP 管制圖缺陷數(shù) c圖? “c”圖 用 來測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量, c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定,它主要用以下兩類檢驗(yàn):– 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 (例如每匹維尼龍上的瑕疪,玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn) ),以及可以用不合格的平均比率表示的地方 (如每 100平方米維尼龍上暇疵 )。– 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格 (例如:在一個(gè)修理部記錄,每輛車或組件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格 )。? 主要不同之處如下:A收集數(shù)據(jù)? 檢驗(yàn)樣本的容量 (零件的數(shù)量,織物的面積,電線的長(zhǎng)度等 )要求相等,這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化 (缺陷的發(fā)生率 )而不是外觀的變化 (樣本容量 n),在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量;? 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù) (c)B計(jì)算控制限過程控制解釋、過程能力解釋? 過程控制解釋– 同 p圖解釋? 過程能力解釋– 過程能力為 c平均值,即固定容量 n的樣本的缺陷數(shù)平均值。包裝一 套 TV前欲用 c 管制圖管理。在過去 20天對(duì)每 10臺(tái)外觀不良 (缺點(diǎn) )Check 的結(jié)果發(fā)現(xiàn)如下。 作成 c 管制圖并分析。4 2 3 7 4 6 2 4 1 3 2 0 11 3 3 4 5 8 6 2 日期缺點(diǎn)數(shù)日期 缺點(diǎn)數(shù)1 2 3 4 5 6 7 8 9 1011 12 13 14 15 16 17 18 19 20C 管制圖發(fā)現(xiàn)了脫離發(fā)現(xiàn)了脫離 管制上限的管制上限的 一個(gè)點(diǎn),所以不能說處于管一個(gè)點(diǎn),所以不能說處于管 制制 狀態(tài)。狀態(tài)。 進(jìn)而查明其原因。進(jìn)而查明其原因。C 管制圖單位產(chǎn)品缺陷數(shù)的 u圖? “u”圖用來測(cè)量具有容量不同的樣本 (受檢材料的量不同 )的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。? 除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外,它是與 c圖相似的。 “u”圖和 “c”圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況,但如果樣本含有多于一個(gè) “單位產(chǎn)品 ”的量,為使報(bào)告值更有意義時(shí),可以使用 “u”圖,并且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用 “u”圖。? “u”圖的繪制和 “p”圖相似,不同之處如下:A收集數(shù)據(jù)? 各子組樣
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