spc統(tǒng)計實用培訓(xùn)教材(編輯修改稿)
2025-03-10 01:47 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 – UCL=p+3 – LCL=p 3. 畫線并標注 – 過程平均 ——水平實線 – 控制線路（ UCL、 LCL） ——水平虛線 169。John Z. Rao 2023 30 ?、 ?變化示意圖 時間 特性值 ?不變 ?傾向性變化 169。John Z. Rao 2023 31 ?、 ?變化示意圖 時間 特性值 ?不變 ?無規(guī)律變化 169。John Z. Rao 2023 32 ?、 ?變化示意圖 時間 特性值 ?規(guī)律性變化 ?不變 169。John Z. Rao 2023 33 ?、 ?變化示意圖 時間 特性值 ?無規(guī)律變化 ?不變 169。John Z. Rao 2023 34 ?、 ?變化示意圖 時間 特性值 ?無規(guī)律變化 ?無規(guī)律變化 169。John Z. Rao 2023 35 XR控制圖 ? 計量值最常用、重要的控制圖 ? 適用范圍廣： – X圖： ? X正態(tài) ?X正態(tài) ? X非正態(tài) ?近似正態(tài)（中心極限定理） ? 中心極限定理使得 X圖廣為應(yīng)用。 – R圖 ? 通過計算機上的模擬試驗證實：只要 X不是非常不對稱，則 R的分布無大的變化。 169。John Z. Rao 2023 36 XR控制圖 ? 靈敏度高 – X圖： X通過平均 – R圖：無此優(yōu)點 偶因至少可以部分抵消 （偶因反映在 ?上） 異因不變 靈敏度高 異因突出 169。John Z. Rao 2023 37 X圖的控制線 ? 設(shè)過程正常， x~N(?， ?2) ? 則可證明 X~N((?， ?2/n)， n為樣本大小 ? 若 ?、 ?已知，則 X圖的控制線為 ? UCL= ? CL ? LCL 169。John Z. Rao 2023 38 ? 若 ?、 ?未知，則需對其進行估計，即 169。John Z. Rao 2023 39 A1 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) A2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) A3 計算每個子組的均值（ X）和極差（ R） A4 選擇控制圖的刻度 A5 將均值和極差畫到控制圖上 169。John Z. Rao 2023 40 A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) a. 子組大小 使各樣本之間出現(xiàn)變差的機會小 在過程的初期研究中，子組一般由 4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合，僅代表一個單一的過程流。 b. 子組頻率 在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進行分組或很短的時間間隔進行分組 過程穩(wěn)定后，子組間的時間間隔可以增加。 c. 子組數(shù)的大小 一般 100個單值讀數(shù)， 25個子組 169。John Z. Rao 2023 41 12345和數(shù)讀日期時間在確定過程能力之前，過程必須受控。子組容量 A2 D3 D4 2 1. 88 * 3. 27 3 1. 02 * 2. 57 4 . 73 * 2. 28 5 . 58 * 2. 11 6 . 48 * 2. 00 7 . 42 . 08 1. 92 8 . 37 . 14 1. 86 9 . 34 . 18 1. 82 10 . 31 . 22 1. 78對特殊原因采取措施的說明? 任何超出控制限的點? 連續(xù)7點全在中心線之上或之下? 連續(xù)7點上升或下降? 任何其它明顯非隨機的圖形采取措施的說明1 不要對過程做不必要的改變2 在此表后注明在過程因素（人員、設(shè)備、材料、方法、環(huán)境或測量系統(tǒng)）所做的調(diào)整。X=讀數(shù)數(shù)量和R = 最高 最低R = 均值R = U C L = D4R = L C L = D3R = *X = 均值X = U C L = X + A2R = L C L = X A2R=極差（R 圖）均值（X 圖）工廠： XXX機器編號： XXX部門： XXX日期： XXX工序： 彎曲夾片特性： 間隙、尺寸“A ”計算控制限日期 工程規(guī)范： . 5 0 —. 9 0 m m樣本容量/ 頻率: 5/2h零件號： XXX零件名稱： XXX* 樣本容量小于7 時，沒有極差的下控制限X R 控 制 圖開始 A 1 步驟169。John Z. Rao 2023 42 A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) XR 圖通常是將 X圖畫在 R圖之上方，下面再接一個數(shù)據(jù)欄。 X和 R的值為縱坐標，按時間先后的子組為橫坐標。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點應(yīng)縱向?qū)R。 數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個讀數(shù)的空間。同時還應(yīng)包括記錄讀數(shù)的和、均值（ X）、極差（ R）以及日期 /時間或其他識別子組的代碼的空間。 169。John Z. Rao 2023 43 A3計算每個子組的極差和均值 畫在控制圖上的特性量是每個子組的樣本均值（ X）和樣本極差（ R），合在一起后它們分別反映整個過程的均值及其變差。 對每個子組，計算： 式中： X1， X2? 為子組內(nèi)的每個測量值。N為子
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