【文章內(nèi)容簡介】 60。注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應清楚地注明 “初始研究 ”字樣。2 計算控制限3 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 4 5 21計算平均極差（ R）及過程均值（ X）6 R=（ R1+R2+…+Rk ） /k（ K表示子組數(shù)量）7 8 X=（ X1+X2+…+Xk ） /k9 22計算控制限10 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均11 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。13 計算公式：14 UCLx=X+A2RUCLR=D4R15 LCLx=XA2RLCLR=D3R16 接上頁注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值見下表 ：n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術上為一個負值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個 “同樣的 ”測量結(jié)果是可能成立的。 23在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 ? 平均極差和過程均值用畫成實線。? 各控制限畫成虛線。? 對各條線標上記號（ UCLR， LCLR， UCLX， LCLX）? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。3 過程控制分析4 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。5 （即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當?shù)拇胧? 7 注 1： R圖和 X圖應分別分析，但可進行比較，了解影響過程8 的特殊原因。9 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差，10 因此，首先應分析 R圖。31分析極差圖上的數(shù)據(jù)點311超出控制限的點a出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)，應分析。b超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種：控制限計算錯誤或描點時描錯 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞）測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗員或量具）c有一點位于控制限之下，說明存在下列情況的一種或多種控制限或描點時描錯 分布的寬度變?。ㄗ兒茫y量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點）UCLLCLUCLLCLRR受控制的過程的極差312鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢：?連續(xù) 7點在平均值一側(cè)；?連續(xù) 7點連續(xù)上升或下降；a高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部：a1輸出值的分布寬度增加，原因可能是無規(guī)律的（例如：設備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜樱┗蚴怯捎谶^程中的某要素變化（如使用新 的不一致的原材料），這些問題都是常見的問題，需要糾正。a2測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 )。b低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部：b1輸出值的分布寬度減小，好狀態(tài) b2測量系統(tǒng)的改好。注 1： 當子組數(shù)（ n）變得更?。?5或更小）時，出現(xiàn)低于 R的鏈的可能性增加，則 8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。注 2： 標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間 。UCLLCLRUCLRLCL不受控制的過程的極差（存在高于和低于極差均值的兩種鏈）不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈）313明顯的非隨機圖形a非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關系等。b一般情況，各點與 R的距離：大約 2/3的描點應落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 C如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調(diào)查：c1控制限或描點已計算錯描錯 c2過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。c3數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 d如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組，如果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調(diào)查：d1控制限或描點計算錯或描錯。d2過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混淆）。注： 如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。32識別并標注所有特殊原因（極差圖）a對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進行標注，作一個過程操作分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。b應及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開始分析過程原因。 33重新計算控制限（極差圖） a在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已被識別和消除或制度化，然后應重新計算控制限，以排除失控時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因影響的子組，然后重新計算新的平均極差 R和控制限，并畫下來，使所有點均處于受控狀態(tài)。b由于出現(xiàn)特殊原因而從 R圖中去掉的子組，也應從 X圖中去掉。修改后的 R和 X可用于重新計算均值的試驗控制限， X177。A2R注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是 “丟棄壞數(shù)據(jù) ”。而是排除受已知的特殊原因影響的點。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。34分析均值圖上的數(shù)據(jù)點341超出控制限的點： a一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多：a1控制限或描點時描錯a2過程已更改，或是在當時的那一點（可能是一件獨立的事件）或是一種趨勢的一部分。a3測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點超過控制限）受控制的過程的均值UCLLCLXLCLUCLX342鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢：連續(xù) 7點在平均值一側(cè)或 7點連續(xù)上升或下降a與過程均值有關的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者。 a1過程均值已改變a2測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度）注：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈）不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈）UCLXLCLUCLXLCL343明顯的非隨機圖形a非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關系等。b一般情況，各點與 X的距離：大約 2/3的描點應落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的點應落在控制限較近之處（位于外 1/3的區(qū)域）。c如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調(diào)查：c1控制限或描點計算錯描錯c2過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全不 同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)。 c3數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）d如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組，如 果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調(diào)查： d1控制限或描點計算錯描錯 d2過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波動的響應）。 注：如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。UCLXLCLUCLXLCL均值失控的過程（點離過程均值太近）均值失控的過程（點離控制限太近）35識別并標注所有特殊原因（均值圖） a對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)，防止再發(fā)生。b應及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開始分析過程原因。36重新計算控制限（均值圖）在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫過程均值 X和控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。 37為了繼續(xù)進行控制延長控制限a當首批數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控制限，將其作為將來的一段時期的控制限。b當子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率）應調(diào)整中心限和控制限 方法如下：b1估計過程的標準偏差（用 σ?表示），用 現(xiàn)有的 子組容量計算： σ?=R/d2式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2為隨樣本容量變化的常數(shù)，如下表：n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 b–2按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d D D4和 A2，計算新的極差和控制限：R新 =σ?d2UCLR=D4R新 LCLR=D3R新 UCLX=X+A2R新 LCLX=X–A2R新 將這些控制限畫在控制圖上。4過程能力分析如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是否有能力滿足顧客需求的問題時； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定，說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能力通過標準偏差來評價。 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)）規(guī)范下限LCL規(guī)范上限UCL范圍LCL UCL范圍不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出）LCL LCLUCL UCL范圍范圍標準偏差與極差的關系（對于給定的樣本容量 ,平均極差