spc及cpk教程(實(shí)戰(zhàn)篇)(編輯修改稿)
2025-03-08 10:54 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 (間斷 )16﹑ 穩(wěn)定原則 預(yù)防處理n原則三 :不可過(guò)于集中分布n顯著多于 2/3的點(diǎn)集中在 CL附近 :即 90%的數(shù)據(jù)在 1 δ 線以內(nèi)n顯著少于 40%的數(shù)據(jù)落在 1 δ 線以內(nèi)n數(shù)據(jù)集中分布在 2 δ 到管制線之間 (超過(guò) 2/3)n3點(diǎn)中 ,有兩點(diǎn)接近一側(cè)之管制界限n7點(diǎn)中 ,有 3點(diǎn)以上接近控制界限n原則四 :符合過(guò)程能力要求17﹑ 長(zhǎng)期控制n符合以下條件 ,可將管制圖用于長(zhǎng)期控制 :n過(guò)程穩(wěn)定n符合過(guò)程能力的要求n再收集 15組數(shù)據(jù) ,無(wú)異常情形n利用已經(jīng)算出之管制界限進(jìn)行管制n按要求收集數(shù)據(jù) ,并進(jìn)行管制分析 /控制n在下列情況下 ,重新計(jì)算管制界限 :n初次過(guò)程能力研究 ,異常消除時(shí)n對(duì) 4M1E進(jìn)行重大改進(jìn)時(shí)n產(chǎn)品修正時(shí)n經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期運(yùn)行后 18現(xiàn)象 可能原因 處理分布不穩(wěn)定計(jì)算錯(cuò)誤數(shù)據(jù)未層別 查清原因 ,重新計(jì)算存在特殊原因 查清原因 ,予以消除過(guò)程能力不足過(guò)于分散平均值偏移 采用管理性 /技術(shù)性措施 ,進(jìn)行改進(jìn)﹑ 異常處理n可以采取的措施n有效后 , 標(biāo)準(zhǔn)化處理19三 ﹑ 制程管制實(shí)例1﹑ CPK解析目的 ﹕ 通過(guò)集中量測(cè)解析目前的制程能力 ﹐ 得出制程管控要求 ﹐ 對(duì)制程管控要求進(jìn)行分析 ﹐ 解析出合理的 制程管控上下限 。實(shí)例分析 ﹕n以解析錫膏厚度的管控上下限為例 ﹕n集中量測(cè) 25組錫膏厚度數(shù)據(jù) ﹔n每組由 5個(gè)量測(cè)點(diǎn)的數(shù)據(jù) ﹔n計(jì)算 CPK值 ﹐ 判定是否合理 ﹔n計(jì)算上下管制線。20﹑ 集中量測(cè) 25組錫膏厚度數(shù)據(jù)21﹑ 計(jì)算 CPK值Sigma= (Σ(XiXbar)2/(n1))189。 其中 i=1 to n =CP=T/(6*Simga)=()/(6*)=K=|XbarSL|/T/2=||/=CPK=CP(1K)=()=判定 ﹕ CPK為 ﹐ 屬于制程能力充分的狀態(tài)下 ﹔22﹑ 計(jì)算管制上下限上管制界限 :UCL= Xbar +3*Sigma=+3*=下管制界限 :LCL= Xbar 3*Sigma =*=23﹑ 管制圖24﹑ 解析
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