spc及cpk教程(實(shí)戰(zhàn)篇)(專業(yè)版)
【正文】 其中 i=1 to n =CP=T/(6*Simga)=()/(6*)=K=|XbarSL|/T/2=||/=CPK=CP(1K)=()=判定 ﹕ CPK為 ﹐ 屬于制程能力充分的狀態(tài)下 ﹔22﹑ 計(jì)算管制上下限上管制界限 :UCL= Xbar +3*Sigma=+3*=下管制界限 :LCL= Xbar 3*Sigma =*=23﹑ 管制圖24﹑ 解析管制上下限上管制界限 :UCL= 實(shí)際管制上限 = 在實(shí)際解析中 ﹐ 如果測量的點(diǎn)比較分散 ﹐ 可以適當(dāng)放寬解析上限 ﹐ 再定期檢討 ﹑ 縮緊管制上限到理論值。2r 177。4r 177。發(fā)現(xiàn)異常及時處理43﹑ PDCA44結(jié) 束 語n用 CPK來解析制程 ﹐ 得到制程管控的目標(biāo) ﹔n用 SPC來定期檢驗(yàn)制程是否處于受控狀態(tài) ﹐ 并改善超出管控的異常 ﹔n再用 CPK來驗(yàn)証制程能力。2r 177。4r 177。252﹑ SPC管制▲ 將 CPK解析的管制上下限 ﹐ 作為 SPC的管制上下線 ﹔▲ 定時對生產(chǎn)制程進(jìn)行量測 ﹐ 這個時間可以是每天或每班 ﹔▲ 檢查每次的量測結(jié)果是否在管控范圍內(nèi) ﹔▲ 量測點(diǎn)超出管控線 ﹐ 需要立即檢討制程 ﹐ 尋找出原因 ﹔▲ 定期 (每月或每周 )對近期的控制圖進(jìn)行分析 ﹐ 檢查是否有不收控制的趨勢 (如周期變動 ﹑ 連續(xù) 7點(diǎn) ﹑ 連續(xù) 11點(diǎn)等 )。實(shí)例分析 ﹕n以解析錫膏厚度的管控上下限為例 ﹕n集中量測 25組錫膏厚度數(shù)據(jù) ﹔n每組由 5個量測點(diǎn)的數(shù)據(jù) ﹔n計(jì)算 CPK值 ﹐ 判定是否合理 ﹔n計(jì)算上下管制線。Kr 百分比 (%) 百萬分缺點(diǎn)數(shù) 177。6r 697700 308700 66810
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