【文章內(nèi)容簡介】 程能力不足 發(fā)生不良品，必須進行全數(shù)檢驗，並改善製程管理。 5. /0 .83 ＞ Cp 製程能力不足 無法滿足品質(zhì)之狀態(tài)。必須追查原因，進行品質(zhì)改善和緊急對策。此外，須再度檢討規(guī)格的訂定。 28 MOTOROLA達到 6 Sigma的步驟 。 ，及他們的要求。 ，以提供顧客滿意的產(chǎn)品或服務(wù)。 (Define)現(xiàn)在的製程 (程序 ) (程序 )，避免浪費資源。 、分析、控制已改善的製程 (程序 )不斷改良，精益求精。 29 MOTOROLA邁向 6 Sigma之路 1979－管理階層的承諾與了解 1981－品質(zhì)喚醒 － 5年內(nèi) 10倍的改善 1986－企業(yè)標竿及品質(zhì)訪查 1987－ 6 Sigma遠景 1989－ 10倍之品質(zhì)改善 1991－ 100倍之品質(zhì)改善 1992－ 6 Sigma 1993－超越 6 Sigma 1994－每 2年 10倍之品質(zhì)改善 2023－獲利率乘 2倍 30 十、管制圖的運用 管制圖的由來 管制圖是 1924年由蕭華特博士 (Dr. W. A. Shewhart)，在研究產(chǎn)品品質(zhì)特性之次數(shù)分配時所發(fā)現(xiàn)。正常的工程所生產(chǎn)出來產(chǎn)品之品質(zhì)特性，其分配大都呈常態(tài)分配的，會超出三個標準差 (177。3σ)的產(chǎn)品只有 ％。依據(jù)此原理，將常態(tài)曲線圖旋轉(zhuǎn) 90度，在三個標準差的地方加上兩條界限，並將抽樣之數(shù)據(jù)順序點繪而成為管制圖。 31 A區(qū) B區(qū) C區(qū) C區(qū) A區(qū) B區(qū) % % % % % % 規(guī)格範圍 %％％％32 管制圖定義 一種用於調(diào)查製造程序是否在 穩(wěn)定狀態(tài)下，或者維持製造程 序在穩(wěn)定狀態(tài)上所用之圖。 33 數(shù) 據(jù) 分 為 語言資料：用語言所表現(xiàn)的事實 計量值： Variable Data,一種品質(zhì)特性之數(shù)值，可用連續(xù)量 (Continuous quantity)計量者。 計數(shù)值： Attribute Data,一種品質(zhì)特性之數(shù)值，可用以間斷數(shù)據(jù)計數(shù)者。 數(shù)值數(shù)據(jù) 34 管制圖的種類 ．計量值管制圖 X－ R Chart(平均值與全距管制圖 ) X－ R Chart(中位數(shù)與全距管制圖 ) X－ Rm Chart(個別值與移動全距管制圖 ) X－ S Chart(平均值與標準差管制圖 ) ．計數(shù)管制圖 P－ Chart(不良率管制圖 ) nP－ Chart(不良數(shù)管制圖 ) C－ Chart(缺點數(shù)管制圖 ) U－ Chart(單位缺點數(shù)管制圖 ) ～ 35 管制圖點繪原則 依照下述這些原則點繪管制圖，容易整齊劃一有助於資料之整理與研判 ．製程名稱、管制特性、測定單位、規(guī)格值、設(shè)備號碼、操作者、測定者、抽樣方法、樣本數(shù)、期間、製程要因、 (人員、設(shè)備、材料、方法、環(huán)境 )之任何變更資料需清楚填入，以便資料之分析整理。 ．中心線 (CL)記以實線，管制上限 (UCL)及管制下限 (LCL)記以虛線，中心線及管制上、下限，分別記入其數(shù)值及 CL、 UCL、 LCL等符號。 ． CL、 UCL、 LCL之位數(shù)比測定位數(shù)多兩位即可。 36 X－ R Chart (平均值與全距管制圖 ) 適用製程 ．可用以管制分組之計量數(shù)據(jù)，即每次同時取得幾個數(shù)據(jù)之工程。 ．是把握工程狀態(tài)最有效的一種管制圖。 37 X－ R管制圖公式 X管制圖： 中心線 (CL)＝ X 管制上限 (UCL)＝ X＋ A2R 管制下限 (LCL)＝ X－ A2R R管制圖： 中心線 (CL)＝ X 管制上限 (UCL)＝ D4R 管制下限 (LCL)＝ D3R X － R 管制圖係數(shù)表樣本大小 A2D4D32 03 04 05 15 06 07 8 9 10 2? dR??38 建立 X－ R管制圖步驟 ． 建立解析用管制圖的步驟： (1)搜集數(shù)據(jù)－依測定時間順序排列 (2)數(shù)據(jù)分組－以 3～ 5個數(shù)據(jù)為一組最佳 (3)記入管制圖的數(shù)據(jù)欄內(nèi) (4)計算平均值 X－求各組的平均值 X (5)計算全距 R－求各組的全距 R (6)計算總平均值 X－求各組均值 X的總平均值 X (7)計算全距的平均值 R－求各組全距 R的平均值 R (8)查係數(shù) A2， D4， D3並代入公式計算管制界限 (9)繪制管制界限及中心線－ X管制圖在上， R管制圖在下 (10)點繪－點在其數(shù)值之位置並以直線連接之 (11)管制界限檢討如流程圖 39 解析用計量值管制圖分析流程 (R－管制圖 ) 註：摘自 SPC Simplified 全距均在管制 界限內(nèi)嗎？ 是 否 只有一個或二個點 在管制界限外？ 是 否 3個以上的點在管制界限外 剔除這一或二個 全距值的樣本 重新計算 X、 R 的全距管制界限 全距失控 停止計算平均值的管制界限限外 其餘的全距值均在界限內(nèi)嗎？ 找出亦修正非機遇原因 重新收集資 計算平均值的管制界限 是 否 全距值均 在控制中 計算平均值的管制圖 平均值管制圖分析流程 40 ．建立製程管制用管制圖步驟 (1)記上必要事項 (2)繪入管制界限 (3)繪點 (4)狀態(tài)之判定 (5)改正措施 (6)管制界限的延續(xù)使用 41 X－ R Chart (中位數(shù)與全距管制圖 ) 適用製程與 X－ R Chart同，但檢出力較差，故多以 X－ R Chart代之。 公式： X管制圖： 中 心 線 (CL)＝ X 管制上限 (UCL)＝ X＋ m3A2R 管制下限 (LCL)＝ X－ m3A2R R管制圖： 中心線 (CL)＝ R 管制上限 (UCL)＝ D4R 管制下限 (LCL)＝ D3R 係數(shù)表樣本大小 m3A4D4D32 0 7 03 7 5 04 9 2 05 1 15 06 9 4 07 9 4 68 2 4 69 2 6 410 3 7 3～ ～ ～ ～ ～ 42 X－ Rm Chart (個別值與移動全距管制圖 ) 適用製程 ．耗用時間很多方能完成測試者 ．屬極為均勻一致之產(chǎn)品 ．破壞性試驗或是測量不易之產(chǎn)品 ．產(chǎn)品係非常貴重之物品 ．產(chǎn)量不大，批量很小時 ．爭取時效時 43 X－ Rm管制圖公式 X管制圖： 中 心 線 (CL)＝ X 管制上限 (UCL)＝ X＋ E2Rm 管制下限 (LCL)＝ X－ E2Rm Rm管制圖： 中 心 線 (CL)＝ Rm 管制上限 (UCL)＝ D4Rm 管制下限 (LCL)＝ D3Rm X － Rm 管制圖係數(shù)表樣本大小 E2D4D32 0 7 03 2 5 04 7 2 05 0 15 06 4 4 07 9 4 68 4 4 69 0 6 410 5 7 344 X－ S Chart (平均值與標準差管制圖 ) 適用製程與 X－ R管制圖同，但當 n＞ 10，則使用 X－ S管制圖 X管制圖： 中 心 線 (CL)＝ X 管制上限 (UCL)＝ X＋ A3S 管制下限 (LCL)＝ X－ A3S