淺談反求工程與現(xiàn)代制造技術(編輯修改稿)
2025-02-05 20:05 本頁面
【文章內容簡介】 的創(chuàng)新和改進。 4 反求工程的步驟 ? (3) 制造階段 ? 按照產(chǎn)品通常的制造方法，完成反求產(chǎn)品的制造。采用一定的檢測手段，對反求產(chǎn)品進行結構和功能檢測。如不滿足設計要求，則需要返回分析階段或再設計階段進行重新的修改和設計。 5 反求工程中的關鍵技術 ? 一、數(shù)據(jù)采集技術 ? 接觸式測量 ? 非接觸式測量 ? 二、數(shù)據(jù)處理技術 ? 點云法 ? 數(shù)據(jù)的平滑 ? 三、自由曲面 /曲面三維重建 接觸式測量 ★ 三坐標測量儀 是一種大型精密的三坐標測量儀器，可以對形狀復雜的工件的空間尺寸（數(shù)據(jù)）進行測量。 坐標測量機一般采用觸發(fā)式接觸測量頭，一次采樣只能獲取一個點的三維坐標值。 坐標測量機主要優(yōu)點是測量精度高，適應性強，但測量效率低，而且對一些軟質表面無法進行測量。 只能反求外部形狀 一 數(shù)據(jù)采集技術 一 數(shù)據(jù)采集技術 接觸式測量 ★ 層析法 將被反求的零件原形填充后，采用逐層銑削和逐層光掃描相結合的方法獲取零件原形不同截面的內外輪廓數(shù)據(jù)，并將其組合起來獲得零件的三維數(shù)據(jù)。 層析法的優(yōu)點在于對任意形狀、任意結構零件的內外輪廓進行測量，但測量方式是破壞性的 。 可以反求內部形狀 一 數(shù)據(jù)采集技術 非接觸式測量 ★ 基于光學三角型原理的激光掃描法 這種測量方法根據(jù)光學三角型測量原理，以光作為光源，其結構模式可以分為光點、單線條、多光條等。將其投射到被測物體表面，并采用光電敏感元件在另一位置接收光的反射能量，根據(jù)光點或光條在物體上成像的偏移，通過被測物體基平面、像點、像距等之間的關系計算物體的深度信息。 一 數(shù)據(jù)采集技術 非接觸式測量 ★ 基于相位偏移測量原理的莫爾條紋法 這種測量方法將光柵條紋投射到被測物體表面，光柵條紋受物體表面形狀的調制，其條紋間的相位關系會發(fā)生變化，然后用數(shù)字圖像處理的方法解析出光柵條紋圖像的相位變化量，進而獲取被測物體表面的三維信息。 一 數(shù)據(jù)采集技術 非接觸式測量 ★ 基于 CT和 ICT斷層掃描圖像逆向工程法 對被測物體進行斷層截面掃描，以 X射線的衰減系數(shù)為依據(jù)，經(jīng)過處理重建斷層截面圖像，根據(jù)不同位置的斷層圖像可建立物體的三維信息。 該方法可以對被測物體內部的結構和形狀進行無損測量。該方法造價高，測量系統(tǒng)的空間分辨率低，獲取數(shù)據(jù)時間長，設備體積大。美國 LLNL實驗室研制的高分辨率 ICT系統(tǒng)測量精度為 。 一
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