淺談反求工程與現(xiàn)代制造技術(shù)(編輯修改稿)
2025-02-05 20:05 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 的創(chuàng)新和改進(jìn)。 4 反求工程的步驟 ? (3) 制造階段 ? 按照產(chǎn)品通常的制造方法，完成反求產(chǎn)品的制造。采用一定的檢測手段，對(duì)反求產(chǎn)品進(jìn)行結(jié)構(gòu)和功能檢測。如不滿足設(shè)計(jì)要求，則需要返回分析階段或再設(shè)計(jì)階段進(jìn)行重新的修改和設(shè)計(jì)。 5 反求工程中的關(guān)鍵技術(shù) ? 一、數(shù)據(jù)采集技術(shù) ? 接觸式測量 ? 非接觸式測量 ? 二、數(shù)據(jù)處理技術(shù) ? 點(diǎn)云法 ? 數(shù)據(jù)的平滑 ? 三、自由曲面 /曲面三維重建 接觸式測量 ★ 三坐標(biāo)測量儀 是一種大型精密的三坐標(biāo)測量儀器，可以對(duì)形狀復(fù)雜的工件的空間尺寸（數(shù)據(jù)）進(jìn)行測量。 坐標(biāo)測量機(jī)一般采用觸發(fā)式接觸測量頭，一次采樣只能獲取一個(gè)點(diǎn)的三維坐標(biāo)值。 坐標(biāo)測量機(jī)主要優(yōu)點(diǎn)是測量精度高，適應(yīng)性強(qiáng)，但測量效率低，而且對(duì)一些軟質(zhì)表面無法進(jìn)行測量。 只能反求外部形狀 一 數(shù)據(jù)采集技術(shù) 一 數(shù)據(jù)采集技術(shù) 接觸式測量 ★ 層析法 將被反求的零件原形填充后，采用逐層銑削和逐層光掃描相結(jié)合的方法獲取零件原形不同截面的內(nèi)外輪廓數(shù)據(jù)，并將其組合起來獲得零件的三維數(shù)據(jù)。 層析法的優(yōu)點(diǎn)在于對(duì)任意形狀、任意結(jié)構(gòu)零件的內(nèi)外輪廓進(jìn)行測量，但測量方式是破壞性的 。 可以反求內(nèi)部形狀 一 數(shù)據(jù)采集技術(shù) 非接觸式測量 ★ 基于光學(xué)三角型原理的激光掃描法 這種測量方法根據(jù)光學(xué)三角型測量原理，以光作為光源，其結(jié)構(gòu)模式可以分為光點(diǎn)、單線條、多光條等。將其投射到被測物體表面，并采用光電敏感元件在另一位置接收光的反射能量，根據(jù)光點(diǎn)或光條在物體上成像的偏移，通過被測物體基平面、像點(diǎn)、像距等之間的關(guān)系計(jì)算物體的深度信息。 一 數(shù)據(jù)采集技術(shù) 非接觸式測量 ★ 基于相位偏移測量原理的莫爾條紋法 這種測量方法將光柵條紋投射到被測物體表面，光柵條紋受物體表面形狀的調(diào)制，其條紋間的相位關(guān)系會(huì)發(fā)生變化，然后用數(shù)字圖像處理的方法解析出光柵條紋圖像的相位變化量，進(jìn)而獲取被測物體表面的三維信息。 一 數(shù)據(jù)采集技術(shù) 非接觸式測量 ★ 基于 CT和 ICT斷層掃描圖像逆向工程法 對(duì)被測物體進(jìn)行斷層截面掃描，以 X射線的衰減系數(shù)為依據(jù)，經(jīng)過處理重建斷層截面圖像，根據(jù)不同位置的斷層圖像可建立物體的三維信息。 該方法可以對(duì)被測物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和形狀進(jìn)行無損測量。該方法造價(jià)高，測量系統(tǒng)的空間分辨率低，獲取數(shù)據(jù)時(shí)間長，設(shè)備體積大。美國 LLNL實(shí)驗(yàn)室研制的高分辨率 ICT系統(tǒng)測量精度為 。 一
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