包裝印刷太陽能電池工藝手冊(編輯修改稿)
2025-01-19 03:46 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 maintain： 印刷偏移 背面電極和背場偏移 日常 maintain： 毛刺、線條模糊 日常 maintain： 鋁珠鋁包 燒結爐溫度過高導致的背場鋁包 日常 maintain： 翹曲 鋁背場濕重偏大導致的背電場翹曲 日常 maintain： 缺印 缺少漿料導致的背電場缺印 堵網(wǎng)導致的背電極缺印 四、效率異常排查 效率偏低 測試排查 印刷質(zhì)量排查 烘箱、燒結爐排查 效率異常排查 電性能異常分析 效率排查流程： 效率異常排查 ： 測試對比 :通過同一廠區(qū)不同測試機臺 10pcs測試對比，以及不同廠區(qū) 10pcs測試對比確認測試機光源等硬件設備上是否存在異常。 ： 產(chǎn)線效率問題排查 ： 檢查確認絲網(wǎng)各道濕重 SPC是否在正常范圍，若超出范圍，即時調(diào)節(jié)相關參數(shù)恢復正常； 印刷外觀是否正常，尤其是第三道正面電極印刷，在 3D顯微鏡下觀察柵線高寬、平整度是否良好。 、烘箱 ： 檢查確認溫度是否正常，有無異常波動，必要時使用 DATEPAQ測試爐腔內(nèi)溫度曲線。 檢查外圍抽風是否穩(wěn)定，抽風大小是否合適，抽風流量是否穩(wěn)定。 效率異常排查 4. 電性能異常分析 ： 產(chǎn)線效率問題排查 Isc偏低 : Isc低 原材料因素 原材料雜質(zhì)含量高 少子壽命低 電阻率低 工藝因素 制絨絨面不好，未完 全出絨，影響光的吸收 PN結太深 方阻太低 PE減反射膜效果 鈍化效果不好 并聯(lián)電阻小漏電大 印刷柵線高寬比小 刻蝕異常 工藝衛(wèi)生 差 網(wǎng)板變形嚴重 開路電壓 低 材料本體 工藝因素 硅片電阻率高 硅片質(zhì)量較差 少子壽命低 硅片厚度厚 制絨表面 損傷層未完全 去除，減薄量小 擴散 PN結 質(zhì)量較差 擴散爐管 潔凈度差 PE鈍化效果 較差 擴散鈍化效果 較差 網(wǎng)印背電場 效果較差 Rsh小 暗電流大 產(chǎn)線效率問題排查 Uoc偏低： 并聯(lián)電阻低 原材料素 硅片中金屬質(zhì) 含量過高 缺陷密度過大 工藝因素 刻蝕工藝 工藝時間過短氣 體比例不合適邊緣 PN結未完全去除 邊緣刻蝕過寬 檢查并測試機 刻蝕效果 PE工藝 PE膜的致密性較 差導致燒結易穿 橢偏移到廠后定量 測試膜厚折射率 擴散燒結工藝 燒結溫度太高 方阻太高 燒結和方阻不匹配 燒結
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