adda原理及主要技術(shù)指標(biāo)(編輯修改稿)
2024-09-17 01:03 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 的有限分辨率而引起的誤差即有限分辨率AD的階梯狀轉(zhuǎn)移特性曲線與無限分辨率AD (理想AD)的轉(zhuǎn)移特性曲線(直線)之間的最大偏差。通常是1個或半個最小數(shù)字量的模擬變化量表示為1LSB、1 /2LSB。 DAC的主要技術(shù)指標(biāo) 1）分辯率指輸出模擬電壓的最小增量即表明DAC輸入一個最低有效位(LSB)而在輸出端上模擬電壓的變化量。 2）建立時間是將一個數(shù)字量轉(zhuǎn)換為穩(wěn)定模擬信號所需的時間也可以認(rèn)為是轉(zhuǎn)換時間。DA中常用建立時間來描述其速度而不是AD中常用的轉(zhuǎn)換速率。一般地電流輸出DA建立時間較短電壓輸出DA則較長。 3）精度是指輸入端加有最大數(shù)值量時DAC的實際輸出值和理論計算值之差它主要包括非線性誤差、比例系統(tǒng)誤差、失調(diào)誤差。 4）線性度在理想情況下DAC的數(shù)字輸入量作等量增加時其模擬輸出電壓也應(yīng)作等量增加但是實際輸出往往有偏離。 自電子管ADC面世以來經(jīng)歷了分立半導(dǎo)體、集成電路數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的發(fā)展歷程。ADC和DAC的生產(chǎn)已進入全集成化階段同時在轉(zhuǎn)換速度和轉(zhuǎn)換精度等主要指標(biāo)上有了重大突破還開發(fā)了一些具有與計算機直接接口功能的芯片。在集成技術(shù)中又發(fā)展了模塊、混合和單片機集成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器技術(shù)。對高速ADC和 DAC的發(fā)展策略是在性能不受影響的前提下盡量提高集成度為最終用戶提供產(chǎn)品的解決方案。對ADC和DAC的需求大量增加而且要求性能指標(biāo)有較寬覆蓋面以便適應(yīng)不同場合應(yīng)用的要求。ADC主要的應(yīng)用領(lǐng)域不斷拓寬闊泛應(yīng)用于多媒體、通訊、自動化、儀器儀表等領(lǐng)域。對不同的領(lǐng)域的不同要求例如接口、電源、通道、內(nèi)部配置的要求每一類ADC都有相應(yīng)的優(yōu)化設(shè)計方法。同時用戶不僅要考慮到ADC本身的工藝和電路結(jié)構(gòu)而且還應(yīng)考慮到ADC的外圍電路如相應(yīng)的信號調(diào)理電路等模擬電路的設(shè)計。 隨著通信事業(yè)、多媒體技術(shù)和數(shù)字化設(shè)備的飛速發(fā)展信號處理越來越趨向數(shù)字化促進了高速DAC有了長足進步牽動著DAC制造商研制出許多新結(jié)構(gòu)、新工藝及各種特別用途的高速DAC。高速DAC的應(yīng)用領(lǐng)域主要有三個方面:數(shù)字化儀器包括波形重建和任意波形發(fā)生器。直接數(shù)合成(DDS) 包括接收器本機振蕩器、跳頻無線電設(shè)備、通信系統(tǒng)、正交調(diào)制(QAM)系統(tǒng)和雷達(dá)系統(tǒng)。圖形顯示系統(tǒng)包括失量掃描和光柵掃描。 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器技術(shù)是模擬信號和數(shù)字信號之間的重要橋梁低電壓、大電流、高效率、小尺寸、低成本是ADC /DAC轉(zhuǎn)換器發(fā)展的趨勢。同時 ADC /DAC轉(zhuǎn)換器的效率和密度也在不斷增加。除此以外通信與網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的集成化趨勢需要ADC /DAC轉(zhuǎn)換器集成更多的功能同時具有更寬的輸出電壓或多路輸出。近年來轉(zhuǎn)換器產(chǎn)品已達(dá)到數(shù)千種ADC和DAC的市場呈穩(wěn)步增長的發(fā)展趨勢它們在現(xiàn)代軍用和民用電子系統(tǒng)中均顯示出其重要性。DAC和ADC測試規(guī)格 DAC和ADC芯片必須執(zhí)行一些特定的靜態(tài)和動態(tài)參數(shù)檢測。下一面一一介紹這些指標(biāo)： DAC靜態(tài)參數(shù)指標(biāo)
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