薄膜干涉—等厚條紋(編輯修改稿)
2024-09-01 20:24 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 條暗紋，且第 9條在劈尖斜坡上端點M處， Si的折射率為 。試求 SiO2薄膜的厚度。 Si SiO2 O M 解：由 暗紋 條件 e = (2k+1)? /4n ?= 2ne = (2k+1） ? /2 (k=0,1,2…) 知 ,第 9條暗紋對應(yīng)于 k=8,代入上式得 = (?m) 所以 SiO2薄膜的厚度為 ?m。 劈 尖 膜 例 2 為了測量金屬細絲的直徑，把金屬絲夾在兩塊平玻璃之間，形成劈尖，如圖所示，如用單色光垂直照射 ，就得到等厚干涉條紋。測出干涉條紋的間距，就可以算出金屬絲的直徑。某次的測量結(jié)果為：單色光的波長 ? =距離 L=， 30條明紋間得距離為 ,求金屬絲的直徑 D？ L D 劈 尖 膜 mml ?解 相鄰兩條明紋間的間距 2s in?? ?lLD??s in其間空氣層的厚度相差為 ?/2于是 其中 ?為劈間尖的交角，因為 ? 很小，所以 mmmD 0 5 7 4 92110 3293 ????? ?????代入數(shù)據(jù)得 2?lLD ?劈 尖 膜 . S 分束鏡 M 顯微鏡 o 牛頓環(huán) 裝置簡圖 平凸透鏡 平晶 牛頓環(huán)：一束單色平行光垂直照射到此裝置上時 ， 所呈現(xiàn)的等厚 條紋是一組以接觸點 O為 中心的同心圓環(huán) 。 牛頓環(huán)光程差的計算 牛頓環(huán) 干涉條紋的特征 牛頓環(huán) 的應(yīng)用 牛頓環(huán)實驗裝置及光路 反射光光程差的計算 ? = 2e + ? /2 e A 牛頓環(huán) 1 2 牛頓環(huán)干涉條紋的特征 (1) 明暗條紋的判據(jù) r R e 0
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