小角x射線散射及聚合物表征分析(編輯修改稿)
2024-09-01 06:07 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 離）； ? Porod公式： ? k是 Porod常數(shù) ,它表明具有明銳界面的散射體在大角區(qū)域的散射強度遵守 q?4規(guī)則。正偏離反映基體微結(jié)構(gòu)的不均勻性，表明在基體上存在一定尺寸的微密度起伏，這種密度起伏不均勻區(qū)可能是由于組分不均勻，或者晶化不完全，存在無定形成分所致，應(yīng)該對正偏離進行校正，以得到凈的孔散射。 （ 5）散射體的自相似性（是否有分形特征） ： 散射體尺寸分布、平均尺度、回轉(zhuǎn)半徑、相關(guān)距離、平均壁厚、散射體體積分數(shù)、比表面、平均界面層厚度、分形維數(shù)等。 不均一體系 SAXS散射強度實驗曲線是凹面如右圖（ a） 在稠密體系中，考慮粒子間相互干涉對散射的影響，實驗曲線產(chǎn)生極大部分，如右圖（ b）和（ c）。有長期結(jié)構(gòu)存在的纖維，其小角散射強度曲線常數(shù)屬于此類型。 ① 研究溶液中的微粒，最為簡便 ② 研究生物體微結(jié)構(gòu)，研究活體和動態(tài)過程 ③ 某些高分子材料的散射強度很強 ④ 研究高聚物流態(tài)過程 ⑤ 確定粒子內(nèi)部封閉內(nèi)孔 ⑥ 獲得試樣內(nèi)統(tǒng)計平均信息 ⑦ 可準確確定兩相間比內(nèi)表面和離子體積百分數(shù)等參數(shù) ⑧ 制樣方便 ? 測 定溶液中高分子的形態(tài)和尺寸，測定膠體中膠粒的形狀、粒度及粒度分布，研究結(jié)晶高分子中晶粒、共混高分子中微區(qū)（分散相、連續(xù)相），高分子中空洞和裂紋的形狀、尺寸及其分布。 ? 測 定粒子量與相互作用參數(shù) ? 測 定晶體空間結(jié)構(gòu)分布 ? 通過長周期測定研究高分子體系中晶片的取向、厚度與結(jié)晶百分數(shù) ? 研究分子運動和相變 1 .云紋法、紅外熱像法（只能檢測材料表面情況） ? 云紋法 (moire method)又稱莫爾紋法，是變形分析的一種模擬方法，由光的干涉而產(chǎn)生。此法即利用光的機械干涉形成的云紋圖進行分析。分為面內(nèi)和影像(面外 )云紋法兩類 :根據(jù)前者的平行云紋圖和轉(zhuǎn)動云紋圖可求得應(yīng)變場 。后者已成功地用于褶皺形式和斷裂變形場的分析。 ? 紅外熱像法 是利用紅外探測器和光學(xué)成像物鏡接受被測目標的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖，這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對應(yīng)。通俗地講紅外熱像儀就是將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像。熱圖像的上面的不同顏色代表被測物體的不同溫度。 它是由探傷儀發(fā)射超聲波
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