【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 在檢測(cè)表面上從斜探頭的入射點(diǎn)到缺陷測(cè)出的距離。（30）探頭到焊縫距離： 在檢測(cè)表面從斜探頭的入射點(diǎn)到焊縫的參考線的距離（看圖6）。 （31）探頭入射點(diǎn)： 當(dāng)使用斜探頭時(shí)，超聲波束中心的入射點(diǎn)。（32）脈沖：一組瞬時(shí)波，圍繞那些波或者振動(dòng)沒有其他的聲波或振動(dòng)，是電能脈沖。（33）脈沖回波技術(shù)：通過直接用超聲脈沖在被檢工件表面進(jìn)入被檢工件，來搜查內(nèi)部缺陷，材料質(zhì)量 的一種技術(shù)。（34）脈沖寬度：一個(gè)發(fā)射脈沖的期間，指出現(xiàn)在陽(yáng)極射線管熒光屏上發(fā)射脈沖的橫向?qū)挾龋卜Q作“脈 沖能量”。（35）阻塞：在接收器已經(jīng)接收發(fā)射脈沖后的瞬間靈敏度降低或缺少靈敏度。（36）參考試塊（基本校正試塊）：用作規(guī)定試樣的試塊以及作為探傷儀的靈敏度調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)，大多數(shù)鋼 材料或相似于試樣的材料制成縮寫符號(hào)RB或BCB。（37）抑制：相對(duì)于探傷儀控制回波或噪聲不大于某一高度，也稱作“抑制”。（38）區(qū)間：通過顯示在校正刻度板上的回波高度范圍，并通過回波高度來估計(jì)缺陷尺寸。（39）遲到波：出現(xiàn)在檢測(cè)范圍好像是缺陷波的回波，當(dāng)在被檢工件中超聲波衰減時(shí)，回波出現(xiàn)非常長(zhǎng) 的距離，好像它是短的距離，由于高的脈沖重復(fù)頻率。因此也稱作“草狀波“。（40）分辨率：從探頭來的兩個(gè)靠近的但不同距離的缺陷回波在陰極射線管上能區(qū)別的能力。（41）轉(zhuǎn)動(dòng)掃查：在斜探頭檢測(cè)時(shí)，為了讓超聲波束朝焊縫線改變，拿探頭的入射點(diǎn)作為中心轉(zhuǎn)動(dòng)探頭 而實(shí)施的一種掃查方法。（42）在焊縫鄰近的母材金屬上掃查：在斜探頭技術(shù)時(shí)遵循實(shí)施的一種掃查方法。在斜探頭檢測(cè)時(shí)僅使 用一個(gè)探頭在兩邊掃查的一種方便的方法。放探頭對(duì)焊縫線成一定的角度，讓這種運(yùn)動(dòng)平行于焊縫線（看 圖7）。（43）掃查不能實(shí)施的區(qū)域：部件，超聲波束不能達(dá)到的檢測(cè)斷面的地方，出現(xiàn)在表面因?yàn)樘筋^接近極限長(zhǎng)度及入射點(diǎn)間的最小距離被限止。這種部件被稱為“掃描不能實(shí)行的區(qū)域”，在串列式掃查時(shí)，它遵行試樣兩邊的鄰近是掃描不能實(shí)行的區(qū)域（看圖8）。（44）邊壁回波： 從邊表面反射的回波（45）跨距：在檢測(cè)表面上從斜探頭的入射點(diǎn)到1跨距的距離被稱作為1跨距。以及縮寫為1S。探頭到 焊縫距離，（看圖9）。 ，跨距（46）跨距點(diǎn)： 斜探頭探測(cè)時(shí)，超聲波束由檢測(cè)表面反射的點(diǎn)或檢測(cè)面對(duì)邊的表面反射的點(diǎn)。由檢測(cè)面 跨距（看圖9）。（47）方形掃查：在斜探頭檢測(cè)時(shí)，在一個(gè)選定的距離移動(dòng)探頭與焊縫線成直角的掃描方法（看圖2）。 （48）標(biāo)注孔：當(dāng)實(shí)施增益調(diào)節(jié)時(shí)，用作標(biāo)注反射源的一個(gè)孔有形狀和尺寸，以及在參考試塊上制作和 標(biāo)準(zhǔn)化。（49）標(biāo)準(zhǔn)試塊折射角： 用標(biāo)準(zhǔn)試塊A1或標(biāo)準(zhǔn)試塊A3測(cè)定的折射角。（50）跨騎掃查：放每一個(gè)探頭在焊縫線兩側(cè)的掃查方法（雙探頭技術(shù)的一種）以及讓這些探頭為了檢 測(cè)諸如橫向裂紋。在同時(shí)移動(dòng)以及在斜探頭檢測(cè)時(shí)對(duì)著焊縫線垂直方向移動(dòng)。：（51）串列式比較線： 在焊接完成后因?yàn)闄z測(cè)面的位置不能被知道先于焊接在搜索表面。在剖口情況下 離剖口面固定距離上標(biāo)記的線。當(dāng)在決定串列式比較線時(shí)此線組成基礎(chǔ)（看圖11）。 圖11. 串列式比較線（52）串列式參考線：當(dāng)探頭在串列式搜索移動(dòng)時(shí)構(gòu)成基礎(chǔ)的線。 距的地方（看圖1）。（53）串列式搜索法： 在斜探頭探傷時(shí)為了檢測(cè)垂直于掃查面的缺陷兩個(gè)探頭一前一后排列用一個(gè)探頭 作為發(fā)射探頭，另一個(gè)探頭作為接收探頭實(shí)施的缺陷掃查方法（看圖1）。 （54）檢測(cè)頻率：超聲波檢測(cè)使用的頻率。 （55）時(shí)基線： 陽(yáng)極射線管的橫軸。（56）超聲波： 20KHZ以上的聲波，當(dāng)它能在確定方向以集中成銳角傳送能量時(shí)，超聲波被用作檢測(cè)缺 陷。（57）超聲波范圍： 幾乎不出現(xiàn)缺陷回波及衰減相對(duì)低的區(qū)域。（58）V形掃查： 這種掃查方法意味著一收一發(fā)兩個(gè)探頭被相互放置在對(duì)面距離一跨距距離及超聲波束 在試樣中以字母V形傳播的一種方法。（59）楔塊：安裝在探頭前面形狀似楔的合成樹脂用作收發(fā)超聲波與檢測(cè)表面成一角度。（60）鋸齒形掃查：在斜探頭檢測(cè)時(shí)通過平行于焊縫線移動(dòng)探頭來回移動(dòng)掃查并或多或少的移動(dòng)掃查而 實(shí)施的一種掃查方法（看圖12）。 。：（美國(guó)STB）：使用CSKⅠA （STBA1）。 1）STBA1：STBA1用作測(cè)定聲速入射點(diǎn)控制掃描范圍及STB折射角的測(cè)定（看圖13）。 圖13. CSKⅠA（STBA1）的外形。2）STBA3用作測(cè)定聲速入射點(diǎn)控制掃描范圍及STB折射角的測(cè)定（看圖14）。STBA3可用在標(biāo)稱頻率4或5MHZ的斜探頭和89或1010mm公稱尺寸的探頭，提供250mm內(nèi)的探 測(cè)范圍。圖14. STBA3的外形（BCB）1）基本校準(zhǔn)試塊（ABSBCB）?；拘?zhǔn)試塊被用作控制靈敏度（看圖15）。焊縫接頭厚度 基本校準(zhǔn)試塊 T≤25mm 20mm或T 50mm≥T＞25mm 40mm或T 100mm≥T＞50mm 80mm或T 2）標(biāo)準(zhǔn)試塊要求：，材料要檢測(cè)過。 。部件要檢測(cè)過。（1個(gè)V字路徑）的聲速。 。 。、壓力容器、壓力管道檢測(cè)時(shí)使用的試塊為: CSKIA；CSKⅡA；CSKⅢA；CSKⅣA。 ～8mm對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)時(shí)使用的試塊為: CSKⅡAm。 : CSKIB、RBRBRB3。，也可以采用驗(yàn)收規(guī)范或設(shè)計(jì)文件要求的其他形式的試塊。 探 頭探頭的標(biāo)稱頻率為2MHz～5MHz。斜探頭的K值（角度）選取可參照下表的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。 耦合劑：機(jī)油、化學(xué)漿糊，有時(shí)候水可以被用在平的表面。 工藝參數(shù) 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A、B、C三個(gè)檢測(cè)級(jí)別。超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。 不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的要求⑴ A級(jí)僅適用于母材厚度≥8mm～46mm的焊接接頭。可用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。⑵ B級(jí)檢測(cè)：a. 母材厚度≥8mm～46mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。b. 母材厚度大于46mm～120mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測(cè)。c. 母材厚度大于120mm～400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10176。d. 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10176?！?0176。作兩個(gè)方向的斜平行掃查。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查。⑶ C級(jí)檢測(cè)：采用C級(jí)檢測(cè)時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對(duì)焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測(cè)。a. 母材厚度≥8mm～46mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10176。，其中一個(gè)折射角應(yīng)為45176。b. 母材厚度大于46mm～400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10176。對(duì)于單側(cè)坡口角度小于5176。的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對(duì)檢測(cè)與坡口表面平行缺陷有效的檢測(cè)方法。c. 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查。 檢測(cè)頻率: ，薄壁探傷時(shí)，可采用5MHz。 掃描時(shí)基線調(diào)節(jié)：壁厚小于或等于20mm時(shí)，一般采用水平1:1調(diào)節(jié)，壁厚大于20mm時(shí)，一般采用深度1:1調(diào)節(jié)。 探傷靈敏度⑴ 掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。 ⑵ 檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。⑶ 距離—波幅曲線靈敏的確定按所執(zhí)行的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定執(zhí)行。 表面補(bǔ)償:一般為3dB（當(dāng)表面粗糙度Ra＞⒍3mm時(shí)應(yīng)實(shí)測(cè)）。 檢測(cè)區(qū)范圍: 檢測(cè)區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm，最大為10 mm。 探頭移動(dòng)區(qū)⑴ 采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，（T: 母材厚度，K: 探頭K值）。 ⑵ 采用直射法檢測(cè)時(shí)， TK（T: 母材厚度，K: 探頭K值）。 母材的檢測(cè): 對(duì)于C級(jí)檢測(cè)，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下: 檢測(cè)方法: 接觸式脈沖反射法，采用頻率2MHz～5MHz的直探頭，晶片直徑10mm～25mm。 檢測(cè)靈敏度: 將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。 凡缺陷信號(hào)幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。 距離波幅曲線的繪制 探頭前沿長(zhǎng)度的測(cè)量將探頭置于CSKIA或CSKIB試塊上，利用R100曲面測(cè)量探頭的前沿長(zhǎng)度，測(cè)量三次取平均值作為探頭的前沿長(zhǎng)度。 K值的測(cè)量:將探頭置于CSKⅢA或RB3試塊（或其他試塊）上，利用深度為20mm和40mm的孔測(cè)定K值，測(cè)量三次取平均值作為探頭K值。 掃描時(shí)基線的調(diào)節(jié):將探頭置于CSKⅢA或RB3試塊上，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)深度為20mm孔，前后移動(dòng)探頭找到的最大反射波，調(diào)節(jié)深度微調(diào)旋鈕和水平調(diào)節(jié)旋鈕，使反射波前沿對(duì)準(zhǔn)熒光屏刻度的20mm處（水平1: 1調(diào)節(jié)時(shí)對(duì)準(zhǔn)熒光屏刻度20Kmm處）。再將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)深度為40mm孔，前后移動(dòng)探頭找到的最大反射波，調(diào)節(jié)深度微調(diào)旋鈕和水平調(diào)節(jié)旋鈕，使反射波前沿對(duì)準(zhǔn)熒光屏刻度的40mm處（水平1: 1調(diào)節(jié)時(shí)對(duì)準(zhǔn)熒光屏刻度40Kmm處）。如此反復(fù)調(diào)節(jié)直至反射波前沿在熒光屏上位置準(zhǔn)確，然后將兩旋鈕鎖定。 繪制曲線:將探頭置于CSKⅢA或RB3試塊上，調(diào)節(jié)探頭位置和儀器衰減旋鈕，使深度為10mm孔的反射波高度為滿刻度的100%，在熒光屏上標(biāo)出反射波波峰所在的點(diǎn)；固定衰減器不變，分別探測(cè)不同深度的孔，在熒光屏上標(biāo)出最高反射波所在的點(diǎn)，用光滑曲線連接這些點(diǎn)，即得到面板距離—波幅曲線。并記錄此時(shí)衰減器讀數(shù)。 母材厚度為6mm～8mm的對(duì)接接頭超聲波檢測(cè)時(shí)，應(yīng)利用CSKⅡAm試塊調(diào)節(jié)掃描時(shí)基線，繪制距離波幅——曲線。 使用數(shù)字式超聲波檢測(cè)儀時(shí)，應(yīng)按照儀器使用說明書推薦的方法調(diào)節(jié)掃描比例、繪制距離—波幅曲線。 掃查表面和檢測(cè)缺陷方法1）掃查表面的選擇和缺陷檢測(cè)方法的選擇。作為規(guī)則掃查表面和缺陷檢測(cè)方法的選擇。 。2）缺陷檢測(cè)方法2缺陷檢查應(yīng)實(shí)施以便超聲波束方向?qū)⒉簧儆?個(gè)方向以便防止由于缺陷的傾斜而漏檢。缺陷如圖25到 29所示：。為了檢測(cè)可能出現(xiàn)在焊縫中的橫向缺陷，探頭應(yīng)與焊縫軸成15176。的角度及平行于焊縫長(zhǎng)度移動(dòng)。對(duì) 于表面磨平的焊縫，探頭放在焊縫表面即1/2焊縫軸與聲束平行向著焊縫的方向移動(dòng)。 缺陷檢測(cè)覆蓋: 在掃查表面上通過移動(dòng)探頭檢測(cè)的體積以便掃查到整個(gè)檢測(cè)體積，探頭每次通過 應(yīng)重迭垂