各種仿真分析及其執(zhí)行方法(編輯修改稿)
2025-08-28 15:15 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 ll Technologies 主要參數(shù)： Max Truncation Error：最大截斷誤差。 EastWell Technologies 直流掃描分析 此分析用于檢驗(yàn)電路中的某個獨(dú)立電源在一定范圍按照指定規(guī)律變化時對靜態(tài)工作點(diǎn)的影響。 EastWell Technologies 主要參數(shù)： Independent Source： 獨(dú)立源（在列表中選?。? Sweep Range： 掃描范圍及掃描方式選擇。 Analysis Operating Point DC Transfer : EastWell Technologies 獨(dú)立源列表 選中需要進(jìn)行掃描的獨(dú)立源，雙擊之或單擊 OK按鈕或直接。 EastWell Technologies 可以通過四種方式獲取參與運(yùn)算的獨(dú)立源輸出值： Step By： 以 固定步長遞增。 數(shù)據(jù)輸入格式： from 初始值 to 終止值 by 步長 Linear ： 按次數(shù) m計算步長。 數(shù)據(jù)輸入格式： from 初始值 to 終止值 in 次數(shù) Log Steps： 按次數(shù) m計算步長。 數(shù)據(jù)輸入格式： from 初始值 to 終止值 in 次數(shù) Log Steps Set Values： 自定義參數(shù)值。 數(shù)據(jù)輸入格式：將指定數(shù)據(jù)添入文本框。 獨(dú)立源輸出值獲取方式 EastWell Technologies EastWell Technologies 蒙特卡羅分析 在模型參數(shù)值浮動范圍內(nèi)隨機(jī)取樣（取樣點(diǎn)數(shù)目由用戶設(shè)定），利用取得的參數(shù)值進(jìn)行多次特征分析，檢驗(yàn)器件參數(shù)浮動對電路特性的影響。 EastWell Technologies 浮動參數(shù)隨機(jī)取值 Random() 特征分析 (A A2…) 是否完成規(guī)定次數(shù) End Y N 三個未知數(shù)： 浮動參數(shù)； 參數(shù)的浮動范圍； 規(guī)定次數(shù)。 確定浮動參數(shù) EastWell Technologies 此窗口用于構(gòu)建分析結(jié)構(gòu) Edit： 確定新加入的分析或嵌套在當(dāng)前分析結(jié)構(gòu)中的位置； Add Loop： 添加嵌套； Add Analysis： 添加分析。 利用分析按鈕右側(cè)的下拉菜單也可以調(diào)整分析結(jié)構(gòu) ， 如將某個分析提前（Move Up）、 推后（ Move Down）、刪除（ Delete） 等。 單擊 mc按鈕即可調(diào)出蒙特卡羅分析仿真器。 Analysis Statistical Monte Carlo : EastWell Technologies 主要參數(shù)： Runs： 運(yùn)行次數(shù)； Seed： 隨機(jī)數(shù)獲取方式； Parameter List： 參數(shù)列表，可通過多種方式選擇進(jìn)行掃描的參數(shù)。 EastWell Technologies All Toplevel Parameters： 所有頂層模型參數(shù)； All Parameters： 所有參數(shù)； Browse Design： 在參數(shù)列表中選擇需要進(jìn)行分析的信號； Get Parameters from Selected Parts： 追加選擇模式； Append Parameters from Selected Parts ：覆蓋選擇模式。 選擇需要進(jìn)行掃描的模型參數(shù)
環(huán)評公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1