【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 mA/div250ΩIN41481V10mA1mA/div250ΩIN40011A50mA/div250Ω穩(wěn)壓二極管型號(hào)規(guī)格正向電壓(VF)正向電流(IF) X 軸Y 軸功耗電阻IN47311mA1V/div1kΩIN474313V2V/div1kΩ標(biāo)記處數(shù)更改文件號(hào)簽 字日期 集成電子類元器件入廠檢驗(yàn)規(guī)范******************有限公司2009年10月ZD9110******************有限公司集成電子類元器件代替：共5頁(yè)第1頁(yè)1 范圍本規(guī)范規(guī)定了集成電子類元器件的技術(shù)要求、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)手段、設(shè)備、工具及抽樣方法。本規(guī)范適用于集成電子類元器件的入廠檢驗(yàn)。集成電子類元器件包括：集成芯片包括（邏輯IC 、時(shí)鐘IC、比較器IC、放大器IC、FIash閃存、單機(jī)片、數(shù)字信號(hào)處理器、微處理器、存儲(chǔ)器）、三端穩(wěn)壓器、光耦、ACDC電源模塊、DCDC電源模塊2 技術(shù)要求、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)手段、設(shè)備、工具及抽樣方法集成電子類元器件的技術(shù)要求、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)手段、設(shè)備、工具及抽樣方法見表1～表10。表1 集成芯片序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求和檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)手段、設(shè)備及工具抽樣方法1外觀用肉眼觀察集成芯片，表面有無(wú)損傷、管腳無(wú)彎曲、銹斑、氧化，芯片本體絲印與元件清單相對(duì)應(yīng)。目測(cè)、元件清單：IL=ⅡAQL=2高溫老化將待檢集成芯片放入烘箱老化，溫度55℃，老化16h后，元件在恢復(fù)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，至少保持1小時(shí)，方可取出進(jìn)行測(cè)試，應(yīng)合格。烘箱全檢3功能測(cè)試（此項(xiàng)只適用于NZK329S上的集成芯片）請(qǐng)參照NZK329S集成芯片測(cè)試操作規(guī)程，文件圖號(hào)：NZK329S集成芯片測(cè)試夾具、操作規(guī)程：IL=ⅡAQL=4可焊性用電烙鐵在集成芯片管腳上上錫，錫應(yīng)能與引腳牢固粘附在一起，不會(huì)脫落。電烙鐵(20W)每批抽查三只入廠檢驗(yàn)規(guī)范會(huì) 簽標(biāo)準(zhǔn)化編 制審 定標(biāo)記處數(shù)更改文件號(hào)簽 字日期校 對(duì)批 準(zhǔn)ZD9111集成電子類元器件入廠檢驗(yàn)規(guī)范共5頁(yè)第2頁(yè)表2 三端穩(wěn)壓器序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求和檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)手段、設(shè)備及工具抽樣方法1外觀用肉眼觀察三端穩(wěn)壓器，表面有無(wú)損傷、管腳無(wú)彎曲、銹斑、氧化，穩(wěn)壓器本體絲印與元件清單相對(duì)應(yīng)。目測(cè)、元件清單：IL=ⅡAQL=1功能測(cè)試將直流穩(wěn)壓源的正極接在穩(wěn)壓器的輸入端（1腳是Vin）、負(fù)極接在穩(wěn)壓器的地端（3腳是GND），之后調(diào)節(jié)直流電壓（備注：三端穩(wěn)壓器的輸入回路電壓應(yīng)高于穩(wěn)壓值3V左右的直流電壓），最后用萬(wàn)用表測(cè)量穩(wěn)壓器的輸出電壓，此值和規(guī)定要求的誤差值應(yīng)在177。5%以內(nèi)。穩(wěn)壓器管腳定義只做參考1腳輸入、2腳輸出、3腳接地。直流穩(wěn)壓源、MY6數(shù)字式萬(wàn)用表2可焊性用電烙鐵在三端穩(wěn)壓器的引腳上錫，錫應(yīng)能牢固地黏附在引腳表面，不會(huì)脫落。電烙鐵（20W）每批抽查三只表3 光耦序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求和檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)手段、設(shè)備及工具抽樣方法1外觀用肉眼觀察光耦芯片，表面有無(wú)損傷、管腳無(wú)彎曲、銹斑、氧化，光耦本體絲印與元件清單相對(duì)應(yīng)。目測(cè)、元件清單：IL=ⅡAQL=2功能測(cè)試請(qǐng)參照無(wú)源光耦測(cè)試操作規(guī)程，文件圖號(hào)：無(wú)源光耦測(cè)試夾具、操作規(guī)程3可焊性電烙鐵對(duì)光耦的引腳上錫，所上的錫應(yīng)能牢固粘附到引腳上不會(huì)脫落。電烙鐵(20W)每批抽查三只4高溫老化將待檢光電耦合器放入烘箱老化，溫度55℃，持續(xù)老化16h后，元件在恢復(fù)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下，至少保持1小時(shí)，方可取出進(jìn)行測(cè)試，應(yīng)合格。烘箱全檢標(biāo)記處數(shù)更改文件號(hào)簽 字日期ZD9111集成電子類元器件入廠檢驗(yàn)規(guī)范共5頁(yè)第3頁(yè)表4 ACDC電源模塊、DCDC電源模塊序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求和檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)手段、設(shè)備及工具抽樣方法1外觀電源模塊型號(hào)規(guī)格正確、外殼無(wú)損傷、引腳標(biāo)識(shí)正確、無(wú)彎曲、銹斑、氧化等不良現(xiàn)象。目測(cè)：IL=ⅡAQL=2.線性調(diào)整率測(cè)試1. 定義：反映交流輸入電壓變化對(duì)輸出電壓的影響，又稱電壓調(diào)整率。2. 測(cè)試方法1) 交流輸入電壓220V，輸出電流為滿載時(shí)，測(cè)出穩(wěn)定的直流輸出電壓Vo2) 調(diào)整交流輸入電壓為90V、265V，輸出電流為滿載時(shí)，測(cè)出穩(wěn)定的直流輸出電壓Vo1 、Vo23) 計(jì)算90V、265V條件下電壓調(diào)整率 α1=( Vo1 Vo)/ Vo100﹪ α2=( Vo2 Vo)/ Vo100﹪4) 對(duì)于多路輸出，其它各路輸出應(yīng)同時(shí)加100﹪負(fù)載交（直）流源、MY6數(shù)字式萬(wàn)用表、示波器、功率電阻、送檢報(bào)告單、電源模塊測(cè)試夾具、調(diào)壓器3輸出負(fù)載調(diào)整率測(cè)試1. 定義：反映負(fù)載電流的變化對(duì)輸出電壓的影響。2. 測(cè)試方法1) 交流輸入電壓220V，輸出電流為50﹪Io，測(cè)出穩(wěn)定的直流輸出電壓Vo2) 調(diào)整負(fù)載電流為100﹪Io與（10﹪15﹪）Io，測(cè)出穩(wěn)定的直流輸出電壓Vo1 、Vo23) 計(jì)算100﹪Io與（10﹪15﹪）Io條件下電壓調(diào)整率α1=( Vo1 Vo)/ Vo100﹪ α2=( Vo2 Vo)/ Vo100﹪4) 對(duì)于多路輸出，其它各路輸出應(yīng)同時(shí)加100﹪或（10﹪15﹪）負(fù)載4效率測(cè)試1. 交流輸入電壓90V、220V、265V輸出電流為100﹪Io、30﹪Io、空載時(shí)測(cè)出對(duì)應(yīng)穩(wěn)定的直流電壓Vo與對(duì)應(yīng)的交流輸入功率η2. 計(jì)算效率η=（Vo Io）/Pin100﹪3. 對(duì)于多路輸出，其輸出功率為各路輸出功率之和。標(biāo)記處數(shù)更改文件號(hào)簽 字日期ZD9111集成電子類元器件入廠檢驗(yàn)規(guī)范共5頁(yè)第4頁(yè)序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求和檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)手段、設(shè)備及工具抽樣方法5輸出紋波電壓1. 測(cè)試條件：交流輸入電壓220V，輸出滿載。（對(duì)于多路輸出，各路均滿載） 可根據(jù)需要設(shè)定交流輸入電壓90V、220V、265V，滿載輸出條件下測(cè)試。2. 測(cè)試方法：測(cè)試時(shí)示波器Time/DIV擋置10μs/div帶寬置20MHz，讀取示波器顯示的輸出電壓峰峰值即為輸出紋波電壓（包含毛刺在內(nèi)的峰峰值為紋波+噪音）交（直）流源、MY6數(shù)字式萬(wàn)用表、示波器、功率電阻、送檢報(bào)告單、電源模塊測(cè)試夾具、調(diào)壓器：IL=ⅡAQL=6輸出過壓保護(hù)功能測(cè)試1. 測(cè)試條件：交流輸入電壓220V輸出滿載條件下測(cè)試（可根據(jù)需要加交流輸入電壓90V—100V，滿載輸出條件下過壓保護(hù)功能）2. 測(cè)試判斷方法1) 調(diào)整輸出電位器使輸出電壓緩慢升高，直到電源輸出突然關(guān)斷（輸出電壓突變?yōu)榱?，電源處于保護(hù)狀態(tài)）此時(shí)輸出電壓值既為輸出過壓保護(hù)點(diǎn)。2) 若無(wú)輸出調(diào)整電位器，可在電源滿載工作時(shí)，于輸出端外加直流電壓慢慢調(diào)高，直到電源保護(hù)無(wú)輸出。7上電時(shí)序Vo1先于Vo5（mS）1. 測(cè)試條件：直流輸入電壓300V輸出各路均為80﹪負(fù)載（可根據(jù)需要加直流輸入電壓145V，輸出80﹪負(fù)載）2. 將示波器通道1和通道2調(diào)到適當(dāng)位置，兩個(gè)碳頭分別測(cè)試Vo1和Vo5，在通電瞬間捕捉兩個(gè)上升電壓，既這兩個(gè)電壓先后順序的時(shí)間差，就是上電時(shí)序。8下電時(shí)序Vo1先于Vo5（mS）1. 測(cè)試條件：直流輸入電壓300V輸出各路均為80﹪負(fù)載（可根據(jù)需要加直流輸入電壓145V，輸出80﹪負(fù)載）2. 將示波器通道1和通道2調(diào)到適當(dāng)位置，兩個(gè)碳頭分別測(cè)試Vo1和Vo5，在斷電瞬間捕捉兩個(gè)下降電壓，既這兩個(gè)電壓先后順序的時(shí)間差，就是下電時(shí)序。標(biāo)記處數(shù)更改文件號(hào)簽 字日期ZD9111集成電子類元器件入廠檢驗(yàn)規(guī)范共5頁(yè)第5頁(yè)序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目技術(shù)要求和檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)手段、設(shè)備及工具抽樣方法9維持時(shí)間（mS）1. 測(cè)試條件：直流輸入電壓300V輸出各路均為80﹪負(fù)載（可根據(jù)需要加直流輸入電壓145V，輸出80﹪負(fù)載）2. 將示波器通道1和通道2調(diào)到適當(dāng)位置，兩個(gè)碳頭分別測(cè)試直流輸入電壓300V和Vo1，先通電幾分，然后再斷電，捕捉兩個(gè)下降電壓，既直流輸入電壓300V斷電后Vo1仍能持續(xù)電壓一段時(shí)間，這段時(shí)間就是維持時(shí)間。交（直）流源、MY6數(shù)字式萬(wàn)用表、示波器、功率電阻、送檢報(bào)告單、電源模塊測(cè)試夾具、調(diào)壓器：IL=ⅡAQL=10可焊性電烙鐵對(duì)光耦的引腳上錫，所上的錫應(yīng)能牢固粘附到引腳上不會(huì)脫落。電烙鐵(20W)每批抽查三只11絕緣阻抗輸入端對(duì)地端輸入端對(duì)輸出端地端對(duì)輸出端輸出端各回路之間它們之間的絕緣電阻大于500兆歐兆歐表每批檢三件12耐壓測(cè)試名稱最?。ˋC）測(cè)試條件輸入對(duì)地2000V漏電流5mA工頻50Hz /1min無(wú)擊穿或閃烙輸入對(duì)輸出2000V地對(duì)輸出1000V輸出回路之間500V耐壓測(cè)試儀每批檢三件 電源模塊由于型號(hào)不同，尺寸和輸出電壓也不同，因此需要參考電源模塊檢驗(yàn)卡片：電源模塊（LT220T05W25）、電源模塊（LAP15220T512）、電源模塊（LA220V05W15ZT）、電源模塊（LA220D0505W3WE）、電源模塊（ZT2155ZT11551）、標(biāo)記處數(shù)更改文件號(hào)簽 字日期