無損檢測(cè)招聘網(wǎng)(編輯修改稿)
2025-08-03 14:33 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 續(xù)時(shí)間稱為（a）：（c）：，以熒光屏縱軸顯示超聲波信號(hào)強(qiáng)度，以橫軸顯示超聲波傳播時(shí)間或反射體深度的脈沖顯示法叫做（b）：，出現(xiàn)草狀回波的原因主要是由于（c），調(diào)節(jié)靈敏度的方式是（b）：，發(fā)現(xiàn)第二次水層界面波與鋼板第二次底波重合，則鋼板的厚度是水層厚度的（c），探頭至探測(cè)面的水層距離應(yīng)調(diào)節(jié)在使一次與二次界面回波之間至少出現(xiàn)一次（c）（a），若后者探測(cè)面粗糙且與前者耦合差為5dB，當(dāng)前者的底面回波調(diào)至示波屏滿幅的80%時(shí)，后者的底面回波應(yīng)為示波屏滿幅的（c）%%%%？（b）（a）：，為防止在第一次底面回波前面出現(xiàn)第二次界面回波，當(dāng)水層厚度為50毫米時(shí)，能探測(cè)鋼材的最大厚度為（b）：(d):(c):(b),縱波聲速CL,橫波聲速CS,表面波聲速CR之間的關(guān)系是(c)＞CS＞CL＞CL＞CR＞CS＞CR,可能發(fā)生(d):,遇到尺寸與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí),將發(fā)生(b),無反射,又繞射,無繞射,反射波與透過波聲能的分配比例取決于(c),其傳播方向的改變主要取決于(b)176。斜探頭,探測(cè)鋁材時(shí),其折射角(a):176。176。176。,下面的敘述哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的?(d)176。176。時(shí)的反射率最高176。時(shí)的反射率最低,聲束進(jìn)入工件后將(b)(c):(c):=2650m/s,鋼工件的CS=3100m/s和CR=2850m/s,用瑞利波檢測(cè)時(shí)的最佳入射角是(b)176。176。176。176。,質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向與波的傳播方向垂直的波型是(b):a).縱波(a):(b):=cz=ρc=ρz(a)a.△dB=20lg(P1/P2)b.△dB=10lg(P1/P2)c.△dB=20lg(P2/P1)d.△dB=10lg(P2/P1)(a)a.△dB=20lg(I1/I2)b.△dB=10lg(I1/I2)c.△dB=20lg(I2/I1)d.△dB=10lg(I2/I1),如果超聲波頻率增大,則聲束擴(kuò)散角將(b):,哪種波的傳播速度隨頻率不同而改變?(b):(a),探頭和接收器的組合性能,聲速與頻率的關(guān)系為(a):=fλ=cf=cλ=f/c(d)有關(guān):,縱,橫波聲速之比與材料的(d)有關(guān):(b):＞橫波反射角(c)?(c)(Tc=115176。)(Tc=365176。)(Tc=1200176。)(Tc=75176。)(c):,當(dāng)分別傳播縱,橫波時(shí),它的聲阻抗將(c)(a):(d),缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是(c)(c)的機(jī)械振動(dòng)波屬于超聲波范疇:,低于20KHz,如果入射角達(dá)到第二臨界角,將會(huì)發(fā)生(c)176。折射,如降低縱波的頻率,其聲速將(c):，探測(cè)距離為X，聲壓公式為Px=P0πD2/4λx，則（e）＜N（近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度）此公式正確＞＞＞6N時(shí)此公式正確、c和d45176。的探頭，有機(jī)玻璃楔塊內(nèi)聲速為2730m/s，被檢材料（碳鋼）中的聲速為3230m/s，求入射角α的公式為（b）=(3230/2730)sin45176。=sin1(3230/2730)sin45176。=(3230/2730)Sin45176。，縱波在第一介質(zhì)的入射角應(yīng)（c）176。角入射到鋼內(nèi)，此時(shí)的橫波折射角（a），水中入射角為7176。，在鋼中主要存在的振動(dòng)波型是（c）、橫波同時(shí)存在、橫波都不存在176。的有機(jī)玻璃斜探頭探測(cè)鋼時(shí)，折射橫波的折射角是（a）176。176。176。176。176。，縱波在水中的入射角應(yīng)是（b）：176。176。176。176。，任一點(diǎn)的聲壓和該點(diǎn)振動(dòng)速度之比稱為（a）：，若介質(zhì)兩側(cè)面的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為（a）時(shí)，將有最大的聲壓透過率：，折射角主要取決于（b），（Z=聲阻抗）應(yīng)是（c）=(Z晶片+Z工件)1/2=(Z晶片Z工件)1/2=(Z晶片xZ工件)1/2=(Z晶片/Z工件)1/2，如果第一介質(zhì)的聲阻抗比較大，但聲速與第二介質(zhì)相同，則折射角（c），隨聲阻抗比Z1/Z2的增大，而透過聲壓（a），主要是由（a）所引起的：，聲程增加一倍，大平底的反射聲壓為原來的（a），聲程增加一倍，平底孔的反射聲壓為原來的（b），聲程增加一倍，橫通孔的反射聲壓為原來的（c）a.1/2倍，聲程增加一倍，球孔的反射聲壓為原來的（d）a.1/2倍，若聲程相同，則孔徑增加一倍時(shí)，平底孔反射聲壓為原來的（e）a.1/2倍，若聲程相同，則孔徑增加一倍時(shí)，橫通孔的反射聲壓為原來的（f）a.1/2倍，若聲程相同，則孔徑增加一倍時(shí)，球孔的反射聲壓為原來的（g）a.1/2倍，同直徑的平底孔，聲程從100mm增大到300mm，若不計(jì)材質(zhì)衰減，則聲壓減?。╠），同直徑橫孔，聲程增大1倍，不計(jì)材質(zhì)衰減，則聲壓減?。╞）：，同聲程的橫孔，直徑從2mm增大到8mm時(shí)，其回波聲壓提高（b）：，對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（b），對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（d），對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（b）可得到最大反射信號(hào)，，其半擴(kuò)散角度大約是（c）176。176。176。176。176。，則折射角約為（c）176。176。176。176。（b）：，該聲束將（d），對(duì)于斜探頭的選擇除了入射角以外還應(yīng)考慮（a），對(duì)于斜探頭的選擇應(yīng)考慮（d）=50mm，R2=25mm的牛角試塊（V2試塊），使斜探頭對(duì)正R1圓弧，則R2圓弧的第一次回波將出現(xiàn)在（d）：、Z耦、Z鋼，當(dāng)耦合劑薄層厚度為1/4波長(zhǎng)時(shí)，從聲阻抗考慮，超音波易于通過的條件為（c）：=(Z晶+Z鋼)1/2=(Z鋼Z晶)1/2=(Z晶Z鋼)1/2=(Z晶/Z鋼)1/2≥3N的距離上，當(dāng)聲程相同時(shí)，若孔徑相差一倍，則平底孔回波高度差（a）dB：≥3N的距離上，當(dāng)聲程相同時(shí)，若孔徑相差一倍，則橫通孔回波高度差（b）dB：≥3N的距離上，當(dāng)聲程相同時(shí)，若孔徑相差一倍，則球孔回波高度差（c）dB：≥3N的距離上，當(dāng)孔徑相同時(shí)，若聲程相差一倍，則平底孔回波高度差（a）dB：≥3N的距離上，當(dāng)孔徑相同時(shí)，若聲程相差一倍，則橫通孔回波高度差（d）dB：≥3N的距離上，當(dāng)孔徑相同時(shí)，若聲程相差一倍，則球孔回波高度差（a）dB：，超聲波的散射會(huì)影響試驗(yàn)結(jié)果？（b）：，聲壓為P，其換算關(guān)系式為（d）：=P2/2=P/2Z=I/2Z=P2/2Z（d）：=R=(r)1/2=(R)1/2=r2（c）：=t2=(t)1/2=(Z1/Z2)t2=(Z2/Z1)t2（c）：+r=1+r2=1=1d.(t2+r2)1/2=2,隨聲阻抗比Z1/Z2的增大，透過聲壓則（b）：進(jìn)波報(bào)警是指缺陷回波在下述那種情況下報(bào)警?(d)a)低于報(bào)警電平b)高于報(bào)警電平c)達(dá)到報(bào)警電平d)b和c,產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做(c):,產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做(b):,其電壓通?？蛇_(dá)(a):,放大器輸入端接收的回
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