全膜電容器熱穩(wěn)定試驗(yàn)研究(編輯修改稿)
2025-07-22 08:58 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 0。 由于試品是按334kvar的外尺寸1：2縮小，其表面積為真型334kvar電容器的1／4，散熱能力是正比于表面積的。因此，注入試樣的能量為真型電容器對(duì)應(yīng)介質(zhì)損耗的1／4。根據(jù)全膜電容器的制造水平，%～%之間。因此，%，%，%三個(gè)點(diǎn)進(jìn)行試驗(yàn)研究。這時(shí)真型電容器的有功損耗和模型電容器的對(duì)應(yīng)損耗如表1所示，、容差等的作用，［2］。 環(huán)境因素考慮室溫條件和溫度類別上限值加5℃兩種狀況，溫度類別按最常用的40/B選取。試驗(yàn)過(guò)程為先室溫條件下進(jìn)行，后烘箱條件下進(jìn)行，先介損小的進(jìn)行，后進(jìn)行介損大的試驗(yàn)，以避免電容器模型絕緣過(guò)早劣化。3試驗(yàn)結(jié)果及分析 室溫14℃，試驗(yàn)結(jié)果如表2。 烘箱內(nèi)溫度按溫度類別上限加5℃進(jìn)行升溫，按1．35QN注入功率，試驗(yàn)結(jié)果如表3。 在這個(gè)試驗(yàn)中，有價(jià)值的數(shù)據(jù)是電容器內(nèi)最熱點(diǎn)同外殼最熱點(diǎn)的
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