支柱絕緣子檢測(cè)通用工藝(編輯修改稿)
2025-07-20 18:45 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 最強(qiáng)反射波，調(diào)到 80%波高，此靈敏度相當(dāng)于外徑 40mm 支柱瓷絕緣子的掃查靈敏度。支柱瓷絕緣子的外徑每增大 10mm，掃查靈敏度提高增益 2dB，當(dāng)支柱瓷絕緣子聲速小于 6100/s 時(shí)，應(yīng)在外徑差補(bǔ)償?shù)幕A(chǔ)上再提高增益 2dB~4dB。 缺陷的檢測(cè)對(duì)缺陷進(jìn)行定量（最大把射波幅及指示長(zhǎng)度）和位置來(lái)測(cè)定。缺陷的定量測(cè)定方法如下：（1）找到缺陷反射波最大波高，根據(jù)調(diào)整掃查靈敏度的方法，與相近聲程 Φ1mm 橫通孔進(jìn)行當(dāng)量比較，判定為不小于 Φ1mm 橫通孔進(jìn)行當(dāng)量或不大于 Φ1mm 橫通孔進(jìn)行當(dāng)量，記錄為Φ1177。（）dB（2）移動(dòng)探頭，如缺陷波連續(xù)存在，采用半波高度法測(cè)定缺陷的指示長(zhǎng)度，并做好良錄。（3）采用小角縱波斜入射法檢測(cè)時(shí)，應(yīng)對(duì)用半波高度法（6）測(cè)出的缺陷指示長(zhǎng)度進(jìn)行修正，缺陷指示長(zhǎng)度值按下式計(jì)算： L=(12H/D)L0 缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定：缺陷長(zhǎng)度的測(cè)定分為絕對(duì)靈敏度法和相對(duì)靈敏度法。絕對(duì)靈敏度法是一種以缺陷最大回波高度為基準(zhǔn)的測(cè)長(zhǎng)方法。絕對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)的方法是當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷回波時(shí)，找到時(shí)回波下降的相對(duì)于最大高度的某一確定值，記下此時(shí)的探頭位置，再沿著相反方向移動(dòng)探頭，使缺陷回波下降到與另一側(cè)同樣高度時(shí)，記下探頭的位置。量出兩個(gè)位置間探頭移動(dòng)的距離，即為缺陷的指示長(zhǎng)度。.. . . ..學(xué)習(xí)參考相對(duì)靈敏度法指的是 6dB 法或半波高度法。6dB 法測(cè)長(zhǎng)的方法：檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，找到缺陷最大回波高度，并將缺陷最大回波高度調(diào)整至基準(zhǔn)波高（如垂直滿刻度的 80%） 。然后將基準(zhǔn)波提高增益 6dB。以缺陷最大回波高度點(diǎn)為起始點(diǎn)，沿缺陷長(zhǎng)度方向分別向兩側(cè)移動(dòng)探頭，當(dāng)缺陷回波高度降至基準(zhǔn)高度時(shí)，記錄探頭位置，測(cè)量出兩側(cè)探頭中心位置之間的距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，圖 14 為 6dB 法的示意圖（通常采用比較簡(jiǎn)便的半波高度法進(jìn)行測(cè)長(zhǎng)，操作方法是找到缺陷最大回波高度后，沿缺陷長(zhǎng)度方向向兩側(cè)移動(dòng)探頭，當(dāng)缺陷回波高度降低一半時(shí)，標(biāo)記探頭位置，測(cè)量?jī)蓚?cè)探頭中心位置之間的距離，即為缺陷的指示長(zhǎng)度） 。支柱瓷絕緣子缺陷長(zhǎng)度的測(cè)定一般采用半波高度法。圖 14 6dB 法測(cè)量缺陷長(zhǎng)度 回波分析：如顯示僅有孤立底波，無(wú)雜波，波型清晰，應(yīng)判定無(wú)缺陷，如圖 15 所示。圖 15 支柱瓷絕緣子內(nèi)部無(wú)缺陷掃查圖（a）支柱瓷絕緣子檢測(cè)示意圖；（b）A 掃查圖；（c）B 掃查圖支柱瓷絕緣子內(nèi)部晶粒粗大時(shí)，探頭掃查時(shí)會(huì)出現(xiàn)草狀反射波（在檢測(cè)靈敏度下一般波高＜30%屏.. . . ..學(xué)習(xí)參考高） ，探頭稍作移動(dòng)，反射波會(huì)立即下降或消失，此時(shí)應(yīng)判定為晶粒反射波。支柱瓷絕緣子內(nèi)部存在夾雜物、氣孔及裂紋等缺陷，底波出現(xiàn)點(diǎn)狀或叢狀反射波，底波也可能會(huì)降低，此時(shí)應(yīng)判定為缺陷波，如圖 16 所示圖 16 支柱瓷絕緣子內(nèi)部點(diǎn)狀缺陷反射波（a）支柱瓷絕緣子內(nèi)部點(diǎn)狀缺陷的檢測(cè)示意圖；（b）A 掃查圖；（c）B 掃查圖在支柱瓷絕緣子探測(cè)面的對(duì)應(yīng)側(cè)表面存在裂紋時(shí)，底波前會(huì)出現(xiàn)裂紋波，隨著裂紋水深度的增大，裂紋波與底波的間距增大，且底波會(huì)降低，如圖 17 所示。圖 17 支柱瓷絕緣子對(duì)稱面缺陷反射波（a）支柱瓷絕緣子對(duì)稱面缺陷的檢測(cè)示意圖；（b）A 掃查圖；（c）B 掃查圖 小角度縱波檢測(cè)結(jié)果評(píng)定：根據(jù)缺陷當(dāng)量的大小、密集程度和缺陷的指示長(zhǎng)度進(jìn)行評(píng)定。（1）凡判定為裂紋的缺陷波為不合格。（2）單個(gè)缺陷波大于或等于 Φ1 橫通孔當(dāng)量，判定為不合格。（3）單個(gè)缺陷波小于 Φ1 橫通孔當(dāng)量，且指示長(zhǎng)度不小于 10mm，判定為不合格。（4）單個(gè)缺陷波小于 Φ1 橫通孔當(dāng)量，呈現(xiàn)多個(gè)（不小于 3 個(gè)）反射波或林狀反射波，判定.. . . ..學(xué)習(xí)參考為不合格。（5）對(duì)稱面缺陷應(yīng)采用爬波驗(yàn)證，以爬波檢測(cè)為主要依據(jù)進(jìn)行判定。6 爬波法檢測(cè) 探頭的選擇：使用并聯(lián)式結(jié)構(gòu)爬波探頭。探頭頻率為 ,晶片尺寸選用 10mm12mm 雙晶片，移動(dòng)范圍較小時(shí)采用 8mm10mm 或 6mm10mm 雙晶片探頭。在探頭移動(dòng)范圍許可的情況下
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