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正文內(nèi)容

se-p60-03產(chǎn)品總體設(shè)計方案書(編輯修改稿)

2025-07-04 07:59 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 /刪除、進程、任務(wù)等。在內(nèi)容較多的情況下,可以引用其它單獨文檔。同時要描述如何實現(xiàn)生成系統(tǒng)架構(gòu)時產(chǎn)生的衍生需求。對于可測試性設(shè)計的功能,如果是單獨的系統(tǒng)功能,則在下面用單獨的小節(jié)進行運行概念描述,如果只是某些系統(tǒng)功能中的一部分功能,則在相應的系統(tǒng)功能運行概念中進行說明。 如果是系統(tǒng)升級,著重描述新增的需求如何實現(xiàn)。如果升級沒有改變系統(tǒng)架構(gòu),則這里不需要描述,直接描述在子系統(tǒng)運行概念中。 System external interfaces 系統(tǒng)外部接口。 Interfaces between subsystems 子系統(tǒng)間接口 Interface identification and diagrams 接口標識和圖例通過圖例說明子系統(tǒng)間接口,并給每個接口賦予唯一的標識號。如果是升級類產(chǎn)品,注明接口的變化。 Interface 1 接口1從接口標識、接口類型、接口協(xié)議和元素屬性等方面逐一描述每個子系統(tǒng)間接口,可加子章節(jié)以描述不同接口實體的屬性。 Interface 2 接口2…… Subsystem allocated requirements子系統(tǒng)分配需求描述各個子系統(tǒng)的目的,分配給子系統(tǒng)的功能需求和性能需求(包括產(chǎn)品工程設(shè)計,例如可測試性),要和需求跟蹤工具中的跟蹤關(guān)系對應。同時描述由于衍生需求產(chǎn)生的子系統(tǒng)分配需求。對可測試性設(shè)計,描述子系統(tǒng)應具有的主要可測試性規(guī)格和設(shè)計描述。概要介紹子系統(tǒng)的設(shè)計方案。 Subsystem’s development status/type 子系統(tǒng)的開發(fā)狀態(tài)/類型給出每個子系統(tǒng)的開發(fā)狀態(tài)/類型,例如新開發(fā)、重用現(xiàn)有的子系統(tǒng)、重用現(xiàn)有的設(shè)計、對現(xiàn)有的設(shè)計或子系統(tǒng)進行重工程、開發(fā)用于重用的子系統(tǒng)等。 Specifications of outsourced subsystem外包、外購子系統(tǒng)規(guī)格全面定義產(chǎn)品開發(fā)需要外包、外購的各子系統(tǒng)(如HFC的變頻器等)規(guī)格,包括結(jié)構(gòu)造型、功能、性能指標、技術(shù)參數(shù)、接口、標準等方面。此部分將來需要作為外包、外購子系統(tǒng)驗收的標準。描述外包方的概況及實現(xiàn)方式7 Subsystem design specifications(software) 子系統(tǒng)設(shè)計規(guī)格(軟件類) Subsystem architecture 子系統(tǒng)架構(gòu)標識組成子系統(tǒng)的系統(tǒng)構(gòu)件,描述之間的“靜態(tài)”關(guān)系,一般采用方框圖的形式。 Subsystem concept of execution 子系統(tǒng)運行概念描述如何通過最小CI間的動態(tài)交互,以實現(xiàn)子系統(tǒng)設(shè)計需求中的功能和性能,可以按功能劃分成小節(jié)描述??梢允褂枚喾N方法,包括控制流、數(shù)據(jù)流、狀態(tài)遷移圖、時序圖、優(yōu)先級表、中斷控制、時序關(guān)系、異常處理、同步執(zhí)行、動態(tài)定位、對象動態(tài)創(chuàng)建/刪除、進程、任務(wù)等。在內(nèi)容較多的情況下,可以引用其它單獨文檔。同時要描述如何實現(xiàn)生成子系統(tǒng)架構(gòu)時產(chǎn)生的衍生需求。根據(jù)軟件結(jié)構(gòu)圖,描述可測性的實現(xiàn)原理,包括測試輸入輸出通道、子系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)測和控制、子系統(tǒng)業(yè)務(wù)通道狀態(tài)監(jiān)測和控制、單板硬件運行狀態(tài)監(jiān)測和控制、子系統(tǒng)資源狀態(tài)和其它狀態(tài)的監(jiān)測 和控制、功能和接口的可控性、測試任務(wù)的建立與控制設(shè)計 、隔離性和診斷設(shè)計、BIST設(shè)計等。如果是系統(tǒng)升級,著重描述新增的需求如何實現(xiàn)。注明軟件模塊的增加、或刪除,注明接口標準、接口功能、接口變量定義和接口參數(shù)的變化部分; 軟件模塊間接口1. 接口標識和圖例通過圖例說明最小CI間接口,并給每個接口賦予唯一的標識號。如果是系統(tǒng)升級,注明接口的變化。2. 詳細接口定義從接口標識、接口類型、接口協(xié)議和元素屬性等方面逐一描述每個軟件最小CI之間的關(guān)鍵接口,可加子章節(jié)描述不同的接口屬性。對非關(guān)鍵接口可以不給出詳細定義。 軟件模塊的分配需求描述各個最小CI的目的,分配給最小CI的功能需求和性能需求(包括產(chǎn)品工程設(shè)計,例如可測試性),要和需求跟蹤工具中的跟蹤關(guān)系對應。同時描述由于衍生需求產(chǎn)生的最小CI分配需求。對可測試性設(shè)計,描述軟件最小CI應具有的主要可測試性規(guī)格和設(shè)計描述,能控點的選擇和控制通道、能觀點的選擇和輸出通道。概要介紹最小CI的設(shè)計方案。 軟件模塊的開發(fā)狀態(tài)/類型給出每個最小CI的開發(fā)狀態(tài)/類型,例如新開發(fā)、重用現(xiàn)有的最小CI、重用現(xiàn)有的設(shè)計、對現(xiàn)有的設(shè)計或最小CI進行重工程、開發(fā)用于重用的最小CI等。 外包、外購的所有軟件模塊的規(guī)格全面定義產(chǎn)品開發(fā)需要外包、外購的所有軟件最小CI(模塊)(如XX算法等)規(guī)格,包括功能、性能指標、技術(shù)參數(shù)、接口、標準等方面。此部分將來需要作為外包、外購軟件最小CI(模塊)驗收的標準。描述外包方的概況及實現(xiàn)方式8 Subsystem design specifications (Hardware)子系統(tǒng)設(shè)計規(guī)格(硬件類) Subsystem architecture 子系統(tǒng)架構(gòu)標識組成子系統(tǒng)的系統(tǒng)構(gòu)件,描述之間的“靜態(tài)”關(guān)系,一般采用方框圖的形式。 Subsystem concept of execution 子系統(tǒng)運行概念描述如何通過最小CI間的動態(tài)交互,以實現(xiàn)子系統(tǒng)設(shè)計需求中的功能和性能,可以按功能劃分成小節(jié)描述。可以使用多種方法,包括控制流、數(shù)據(jù)流、狀態(tài)遷移圖、時序圖、優(yōu)先級表、中斷控制、時序關(guān)系、異常處理、同步執(zhí)行等。在內(nèi)容較多的情況下,可以引用其它單獨文檔。同時要描述如何實現(xiàn)生成子系統(tǒng)架構(gòu)時產(chǎn)生的衍生需求。根據(jù)硬件結(jié)構(gòu)圖,描述可測性的實現(xiàn)原理,包括測試輸入輸出通道、子系統(tǒng)/模塊級/板內(nèi)單元級測試總線、各功能模塊的能控性設(shè)計、各功能模塊的能觀性設(shè)計、測試工具接口,隔離性設(shè)計、BIST設(shè)計等。 在描述運行概念中描述硬件配置,例如單板配置圖。同時,應說明各種關(guān)于可測性設(shè)計的物理模塊位置、載體,說明這些物理部件的配置關(guān)系。哪些可測性功能模塊位于哪些物理部件中,如整機系統(tǒng)測試控制臺的命令解釋器的位置等等。如果是系統(tǒng)升級,著重描述新增的需求如何實現(xiàn)。注明硬件模塊的增加、或刪除, 單板功能的變化,接口標準變化等。 硬件的模塊間接口1. 接口標識和圖例通過圖例說明最小CI間接口,并給每個接口賦予唯一的標識號。如果是升級類產(chǎn)品,注明接口的變化。2. 詳細接口定義描述各最小CI間關(guān)鍵接口的接口標準、信號定義等,可加不同接口屬性的子章節(jié)。對非關(guān)鍵接口可以不給出詳細定義。如果是升級類產(chǎn)品, 注明單板功能的變化,接口標準變化等。 硬件的模塊分配需求描述各個最小CI的目的,分配給最小CI的功能需求和性能需求(包括產(chǎn)品工程設(shè)計,例如可測試性),要和需求跟蹤工具中的跟蹤關(guān)系對應。同時描述由于衍生需求產(chǎn)生的最小CI規(guī)格。對可測試性設(shè)計,描述硬件最小CI應具有的主要可測試性規(guī)格和設(shè)計描述。概要介紹最小CI的設(shè)計方案。如果有,要特別描述以下內(nèi)容:(1) 關(guān)鍵器件規(guī)格從器件質(zhì)量等級/可靠性、環(huán)境適應性、可加工、外形尺寸及接口、可維護、可測試性方面描述關(guān)鍵器件的工程設(shè)計要求,提出影響器件質(zhì)量/可靠性的制造過程關(guān)鍵指標。(2) 器件應用可靠性設(shè)計描述根據(jù)產(chǎn)品可靠性總體要求,描述各類器件應用規(guī)則。(3) 連接設(shè)計方案說明本產(chǎn)品關(guān)鍵接插件類型、線纜連接部位,連接指標要求,設(shè)計方案。(4)電氣特性描述主要描述各單板的電氣特性,包括功耗等(5)單板硬件的一般要求單板機械結(jié)構(gòu)包括: 單板的機械結(jié)構(gòu)與尺寸,扣板的機械結(jié)構(gòu)與信號安排, 背板機械結(jié)構(gòu)和尺寸。單板硬件的基本要求包括: 電源與地的布置和安排、調(diào)節(jié)元件、調(diào)試接口、指示電路、主要時鐘、控制引腳、信號點設(shè)計、提供測試接口單板PCB包括:PCB布局及布線設(shè)計要求、PCB測試點設(shè)計要求 (6)單元電路設(shè)計要求內(nèi)部模塊接口和外部線路接口處理器及外圍電路包括: 處理器及接口擴展控制芯片、SDRAM 、FLASH、RTC、NVRAM可編程器件包括:外部電路可測性設(shè)計、邏輯加載可測性設(shè)計、內(nèi)部邏輯可測性設(shè)計JTAG應用模擬電路與射頻電路 硬件的模塊的開發(fā)狀態(tài)/類型給出每個最小CI的開發(fā)狀態(tài)/類型,例如新開發(fā)、重用現(xiàn)有的最小CI、重用現(xiàn)有的設(shè)計、對現(xiàn)有的設(shè)計或最小CI進行重工程、開發(fā)用于重用的最小CI等。 外包、外購的所有硬件模塊的規(guī)格全面定義產(chǎn)品開發(fā)需要外包、外購的所有硬件最小CI(模塊)(如XX板卡、單板等)規(guī)格,包括結(jié)構(gòu)、功能、性能指標、技術(shù)參數(shù)、接口、標準等方面。此部分將來需要作為外包、外購硬件最小CI(模塊)驗收的標準。描述外包方的概況及實現(xiàn)方式9 Specialty engineering專項設(shè)計 Reliability specification可靠性規(guī)格說明產(chǎn)品在設(shè)計上如何實現(xiàn)可靠性方面的需求。 Reliability Index Specifications可靠性指標規(guī)格給出產(chǎn)品可靠性指標的規(guī)格??煽啃灾笜说囊?guī)格包括整機任務(wù)可靠性指標和基本可靠性指標定量要求。整機任務(wù)可靠性指標要求主要有針對系統(tǒng)中斷的產(chǎn)品A(可用度)、MTBF(平均故障間隔時間)。該指標暫僅考慮用BELLCORE TR-332可靠性預計方法得到的硬件部分的產(chǎn)品固有可靠性,MTTR(平均修復時間)(除非標準有其他的要求)。有A=MTBF/(MTBF+MTTR)。整機基本可靠性指標要求主要為產(chǎn)品平均年返修率,基本可靠性指標要求通過產(chǎn)品典型配置下全串聯(lián)可靠性模型得到。 有 。其中,Ni為典型配置中的第i中單板的配置數(shù),F(xiàn)i為第i種單板的年返修率,F(xiàn)s為產(chǎn)品平均年返修率, 為產(chǎn)品的單元類型總數(shù)。且有 。其中, 為第i種單板的失效率FIT,t為1年的小時數(shù),為8760h。 Derated Device Qualification Rate器件降額合格率說明產(chǎn)品內(nèi)器件降額合格率的規(guī)格要求。依據(jù)《通信產(chǎn)品元器件可靠性降額準則》;降額合格率=滿足降額要求的元器件個數(shù)/系統(tǒng)內(nèi)所有元器件個數(shù);且不包括降額準則中規(guī)定不需考慮降額的元器件。目標值通常定為95%。 Fault Management Specifications 故障管理規(guī)格1) Fault Detection Rate故障檢測率故障檢測率,是在規(guī)定的時間內(nèi),用規(guī)定的方法正確檢測到的故障數(shù)與故障總數(shù)之比??杀硎緸椋海渲?,指單板內(nèi)需要檢測的故障模式所屬器件的失效率,單位為FIT,通過預計得到; 指單板內(nèi)需要檢測的器件故障模式的發(fā)生概率,通常用百分數(shù)表示;指單板內(nèi)需要檢測的器件故障模式中,可檢測的故障模式所屬器件的失效率,單位為FIT,通過預計得到; 指單板內(nèi)需要檢測的器件故障模式中,可檢測的故障模式發(fā)生的概率,通常用百分數(shù)表示;對于致命故障(I類)、嚴重故障(II類)故障檢測率通常要求為100%,對于一般故障(III類)通常要求為85%。對輕微故障(IV類)通常不做要求。2) Fault Isolation Rate故障隔離率故障隔離率,是在規(guī)定的時間內(nèi),用固定的方法將檢測到的故障正確隔離到不大于規(guī)定的可更換單元數(shù)的數(shù)量與同一時間內(nèi)檢測到的故障數(shù)之比。,其中, 指單板內(nèi)可檢測的器件故障模式中,可隔離到現(xiàn)場維護最小單元的器件的失效率,單位為FIT,通過預計得到; 指單板內(nèi)可檢測、可隔離到現(xiàn)場維護最小單元的器件故障模式發(fā)生概率,通常用百分數(shù)表示;通常對于要求故障正確隔離到現(xiàn)場維護最小單元(1塊單板),致命故障(I類)、嚴重故障(II類)故障隔離率通常要求為100%,對于一般故障(III類)通常要求為95%。對輕微故障(IV類)通常不做要求。3) Redundant Units Switchover Success Rate Specification冗余單元倒換成功率規(guī)格冗余單板的倒換成功率定義為:當需要時可以成功倒換到備板的概率。當服務(wù)出現(xiàn)可接受的、短暫的中斷后,能夠得以維持或恢復,則認為倒換成功。倒換成功率C=CA CS ;其中, CA主用單板的故障檢測率;CS備用單板的故障檢測率;業(yè)界主備倒換成功率能達到或超過90%??筛鶕?jù)公司具體情況確定該規(guī)格。4) Redundant Units Switchover Time Specification冗余單元倒換時間規(guī)格冗余單元倒換時間定義為:倒換時間=檢測和定位時間+資源處理時間+倒換時間+同步確認時間。主要考察冗余單元倒換不中斷正常業(yè)務(wù)的能力。通常處于網(wǎng)絡(luò)級別越高的設(shè)備,倒換時間要求越嚴格。對SDH傳輸?shù)染W(wǎng)絡(luò)級別較高的設(shè)備,主備倒換時間應小于50ms,對網(wǎng)絡(luò)級別稍低的設(shè)備,倒換時間可以適當降低要求,但不應超過2s。通常,檢測/定位時間在ms級,不同產(chǎn)品、不同檢測方法間差異較大;資源處理時間指數(shù)據(jù)備份時間,在ms~s級;倒換時間指倒換電路動作時間,通常us級;同步確認時間通常ms級。 Environment specifications 環(huán)境規(guī)格 Product environment overall performance standard 產(chǎn)品環(huán)境總體性能指標 說明產(chǎn)品的總體環(huán)境性能指標,不包括指標分解。 根據(jù)產(chǎn)品的使用場所不同將產(chǎn)品分為三類:1)在有氣候防護和溫度可控的場所使用的設(shè)備。2)在有氣候防護和無溫度可控的場所使用的設(shè)備。3)在室外使用的設(shè)備。 產(chǎn)品環(huán)境總體指標包含溫度、濕度、太陽輻射、防水、機械條件、化學活性物質(zhì)、機械活性物質(zhì)、噪音、環(huán)保等方面的內(nèi)容。 Product environment performance design plan 產(chǎn)品環(huán)境適應性設(shè)計方案將產(chǎn)品環(huán)境性能指標分解給硬件設(shè)計、熱設(shè)計、結(jié)構(gòu)設(shè)計、包裝設(shè)計、工藝、采購等幾個方面來實現(xiàn),并且為設(shè)計提出建議。1)硬件設(shè)計根據(jù)產(chǎn)品環(huán)境規(guī)格為硬件工程師的單板設(shè)計、器件選型等其他需要注
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