x射線熒光光譜分析儀(編輯修改稿)
2025-06-10 13:37 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 組成 。 如果是波長(zhǎng)色散型光譜儀 ， 對(duì)于一定晶面間距的晶體 ， 由檢測(cè)器轉(zhuǎn)動(dòng)的 2θ角可以求出 X射線的波長(zhǎng) λ， 從而確定元素成分 。 事實(shí)上 ， 在定性分析時(shí) ， 可以靠計(jì)算機(jī)自動(dòng)識(shí)別譜線 ， 給出定性結(jié)論 。 但是如果元素含量過(guò)低或存在元素間的譜線干擾時(shí) ， 仍需人工鑒別 。 首先識(shí)別出 X射線管靶材的特征 X射線和強(qiáng)峰的伴隨線 ， 然后根據(jù) 2θ角標(biāo)注剩斜譜線 。 在分析未知譜線時(shí) ，要同時(shí)考慮到樣品的來(lái)源 ， 性質(zhì)等因素 ， 以便綜合判斷 。 定性與定量分析 —— 定性分析 X射線熒光光譜法進(jìn)行定量分析的依據(jù)是元素的熒光 X射線強(qiáng)度 Ii與試樣中該元素的含量 Wi成正比： Ii=IsWi 式中 ， Is為 Wi=100%時(shí) ， 該元素的熒光 X射線的強(qiáng)度 。 根據(jù)上式 ， 可以采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法 ， 增量法 ， 內(nèi)標(biāo)法等進(jìn)行定量分析 。但是這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似 ， 否則試樣的基體效應(yīng)或共存元素的影響 ， 會(huì)給測(cè)定結(jié)果造成很大的偏差 。 定性與定量分析 —— 定量分析 標(biāo)樣制作 其實(shí)真正的標(biāo)準(zhǔn)樣品制做是一個(gè)很復(fù)雜的過(guò)程 ， 通常一般用戶為了使用儀器而自制的 “ 標(biāo)樣 ” （ 應(yīng)該不能叫標(biāo)樣 ， 是參考樣品 ） ， 這種參考樣品液態(tài)和粉末樣品比較容易 ， 而固態(tài)樣品比較難 ， 這種情況下 ， 一般用自己平常的生產(chǎn)樣品 ， 只要樣品穩(wěn)定 、 均勻 、 且化學(xué)組分用一定梯度 ， 可以覆蓋要求分析的化學(xué)元素范圍 ， 就可以由多個(gè)有經(jīng)驗(yàn)的化驗(yàn)人員 ， 同時(shí)分析平行樣品 ， 統(tǒng)計(jì)定值后 ， 便可以作為參考樣品使用 。 在參考樣品的制作過(guò)程中 ， 分析結(jié)果的重復(fù)性和樣品化學(xué)性質(zhì)的穩(wěn)定性是最主要的 。 另外 ， 如果對(duì)自己的分析結(jié)果沒(méi)有信心 ， 可以外送樣品到具有認(rèn)證資格 ， 或者權(quán)威部門進(jìn)行分析 、 定值 ， 也是一個(gè)比較妥善的方法 。 X熒光分析的 “ 標(biāo)樣 ” 不宜太少 ， 一般 “ 標(biāo)樣 ” 數(shù)要比分析元素的數(shù)目至少多兩個(gè) ， 當(dāng)然 ， 越多越好 。 要做一個(gè)測(cè)定鋁粉的標(biāo)樣如何制作？ 儀器生產(chǎn)廠家及儀器型號(hào) 技術(shù)指標(biāo)及性能特點(diǎn) ： 4GN銠靶 、 超尖端 、 超薄窗 (75um)、 端窗 X射線管 ，固態(tài) ， 最大電壓 60kV， 或最大電流 120mA， 9位晶體轉(zhuǎn)換器 ， 閃爍計(jì)數(shù)器 ， 最大線性計(jì)數(shù) 1500kcps， 流氣正比計(jì)數(shù)器 ， 最大線性計(jì)數(shù) 2022kcps， 流氣正比計(jì)數(shù)器窗膜 。 生產(chǎn)廠家： 美國(guó)熱電集團(tuán)瑞士 ARL公司； 儀器型號(hào) ： ADVANTXP； 主要附件 ： CWYII10kVA穩(wěn)壓電源 、循環(huán)水冷卻機(jī) 、 YYJ40壓片機(jī) 、 ZM1振動(dòng)研磨機(jī) 、 CLAISSE熔樣機(jī)；聯(lián)想計(jì)算機(jī)； HP1200激光打印機(jī)； 儀器金額 ： ￥ 1736475； 主要用途及使用方向 ：配備 Uniquant ?？蓪?duì)大部分固體樣品中的 70幾個(gè)元素進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣半定量分析，特別適合基體復(fù)雜、無(wú)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的樣品分析。也可用于金屬材料、高純金屬、化工產(chǎn)品、化學(xué)試劑、巖石、礦物、土壤、植物等樣品中常量和痕量的定量分析。檢出限： 10μg/g左右，精密度小于 1%。 生產(chǎn)廠家：荷蘭 PANalytical公司 生產(chǎn)廠家：英國(guó)牛津儀器公司 生產(chǎn)廠家：德國(guó)斯派克分析儀器公司 4 案例分析之一 Optimization of a glancing angle for simultaneous trace elemental analysis by using a portable total reflection Xray fluorescence spectrometer Shinsuke Kunimura, Daisuke Watanabe, Jun Kawai Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University, Sakyoku, Kyoto, 6068501, Japan Spectrochimica Acta Part B 64 (2022) 288–290 The total reflection Xray fluorescence (TXRF) analysis is a spectrometr
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