光致發(fā)光pl光譜ppt課件(編輯修改稿)
2025-06-02 04:27 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 的綜合反映 ， 因而利用光致發(fā)光光譜可以獲得被研究材料的多種本質(zhì)信息 。 二、儀器及測(cè)試 測(cè)量半導(dǎo)體材料的光致發(fā)光光譜的基本方法是 ， 用激發(fā)光源產(chǎn)生能量大于被測(cè)材料的禁帶寬度 Eg、 且電流密度足夠高的光子流去入射被測(cè)樣品 ， 同時(shí)用光探測(cè)器接受并識(shí)別被測(cè)樣品發(fā)射出來的光 。 圖 2 光致發(fā)光光譜測(cè)量裝置示意圖 激光器電源 激光器 樣品室 樣品 反射鏡 濾光片 透鏡 透鏡 單色儀 狹縫 光電倍增管 鎖相放大器 計(jì)算機(jī) 真空泵 制冷儀 三、光致發(fā)光特點(diǎn) ?光致發(fā)光分析方法的實(shí)驗(yàn)設(shè)備比較簡(jiǎn)單、測(cè)量本身是非破壞性的，而且對(duì)樣品的尺寸、形狀以及樣品兩個(gè)表面間的平行度都沒有特殊要求。 ?它在探測(cè)的量子能量和樣品空間大小上都具有很高的分辨率，因此適合于作薄層分析和微區(qū)分析。 光致發(fā)光的優(yōu)點(diǎn) ?它的原始數(shù)據(jù)不主要感興趣的物理現(xiàn)象之間離得比較遠(yuǎn)，以至于經(jīng)常需要進(jìn)行大量的分析，才能通過從樣品外部觀測(cè)到的發(fā)光來推出內(nèi)部的符合速率。 ?光致發(fā)光測(cè)量的
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