精密測量技術(shù)ppt課件(2)(編輯修改稿)
2025-05-31 06:10 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 至于定位誤差，則理想要素置于相對于基準某一確定有位置上，其定位條件可稱為定位最小條件。 2022/6/1 25 跳動： 跳動的分類： 它可分為圓跳動和全跳動。 圓跳動：是指被測實際表面繞基準軸線作無軸向移動的回轉(zhuǎn)時，在指定方向上指示器測得的最大讀數(shù)差。 全跳動：是指被測實際表面繞基準軸線無軸向移動的回轉(zhuǎn)，同時指示器作平行或垂直于基準軸線的移動，在整個過程中指示器測得的最大讀數(shù)差。 跳動是某些形位誤差的綜合反映。 2022/6/1 26 167。 31直線度誤差測量 ? 一、測量方法 ? 直線度誤差的測量方法分為線差法和角差法兩大類。 ? (一 )、線差法 ? 線差法的實質(zhì)是：用模擬法建立理想直線，然后把被測實際線上各被測點與理想直線上相應(yīng)的點相比較，以確定實際線各點的偏差值，最后通過數(shù)據(jù)處理求出直線度誤差值。 ? 理想直線可用實物、光線或水平面來體現(xiàn)。 ? 實物基準法是用高精度的實物來體現(xiàn)理想直線，如用刀口尺、標準平尺、拉緊的鋼絲、光學(xué)平晶等體現(xiàn)理想直線。 2022/6/1 27 ? 干涉法 ? 對于小尺寸精密表面的直線度誤差．可用干涉法測量。光學(xué)平晶工作面的平面度精度很高，其工作面可作為一理想平面，在給定方向上則體現(xiàn)一條理想直線。測量時，把平晶置于被測表面，在單色光的照射下、兩者之間形成等厚干涉條紋 (如圖 )。然后讀出條紋彎曲度 a及相鄰兩條紋的間距 b值，被測表面的直線度誤差為 ? (λ為光波波長 )。表面凹凸的判別方法是以平晶與被測表面的接觸線為準，條紋向外彎，表面是凸的，反之，表面是凹的。 2ba ??2022/6/1 28 ? 對于較長的研磨表面，如研磨平尺，當沒有長平晶時，也可采用圓形平晶進行分段測量．即所謂 3點連環(huán)干涉法測量，如圖所示。若被測平尺長度為200mm，則可選用 Φ100mm的平晶，將平尺分成 4段進行測量，每次測量以兩端點連線為準，測出中間的偏差。測完一次，平晶向前移動 50mm(等于平晶的半徑 )。圖中所示被測平尺只需測量 3次即可，然后通過數(shù)據(jù)處理，得出平尺的直線度誤差。 2022/6/1 29 2022/6/1 30 ? 跨步儀法 ? 跨步儀法使用的測量裝置如圖所示。該裝置由具有兩個支承的本體和裝在其上的指示表組成，后支承至前支承的距離與前支承至指示表測頭的距離相等。其測量原理是以兩支承點的連線作為理想直線測量第三點相對于此連線的偏差。測量前，把此裝置放在高精度平尺或平板上，將指示表的示值調(diào)整為零，然后將測量裝置放置在被測面上進行測量，每次移動一個 L距離，讀取一個讀數(shù)。移動時，前次的測點位置，就是后次測量的前支承點位置，如此依次逐段測完全長，最后經(jīng)數(shù)據(jù)處理，即可求出被測件的直線度誤差。 2022/6/1 31 ? 則各點相對于測量裝置兩支承原始位置 A0和A1，連線的偏差為 y2， y3， … ， yi。因讀數(shù)a2為被測面上 A2點相對于 A0、 A1連線的偏差，讀數(shù) a3為被測面上 A3點相對于 A A2連線的偏差，其余依此類推，即后一點上的讀數(shù)為相對于前兩點連線的偏差值。 ? 如圖所示，設(shè)在被測面的 A2， A3， … ， Ai點上指示表的讀數(shù)分別為 a2,a3…ai, 2022/6/1 32 2022/6/1 33 ? 光軸法 ? 該法是以測微準直望遠鏡或自準直儀所發(fā)出的光線為測量基線 (即理想直線 )，測出被測直線相對于該理想直線的偏差量，再經(jīng)數(shù)據(jù)處理求出被測線的直線度誤差。測量原理如圖所示。 2022/6/1 34 ? 測量步驟如下： ? (1)將被測線兩端點連線調(diào)整到與光軸測量基線大致平行； ? (2)若被測線為平面線，則 xi代表被測線長度方向的坐標值， yi為被測線相對于測量基線的偏差值。 ? 沿被測線移動瞄準靶 2，同時記錄各點示值(yi)(i=1， 2， …n) 。 ? 再經(jīng)數(shù)據(jù)處理求出直線度誤差值。 ? 該法適用于大、中型工件及孔和軸的軸線的直線度誤差測量。 2022/6/1 35 ? 激光具有能量集中，方向性和相干性好等優(yōu)點，因此，用激光作為基準線來測量直線度誤差可克服傳統(tǒng)光學(xué)準直法的上述缺點。 ? 激光準直儀的原理如圖所示。由氦 氖激光器 1發(fā)出的一束光，通過擴束望遠鏡 2后射出直徑為 10mm的激光束，此光束橫斷面的光能量分布近似于高斯分布 (正態(tài)分布 )。在一定條件下，相當長距離內(nèi)各斷面光能量的
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1