【文章內(nèi)容簡介】 靈敏度就調(diào)節(jié)好了。為了便于發(fā)現(xiàn)缺陷可再增益 5～10dB作為掃查靈敏度。 【 例 1】 用 φ 500mm的實心圓柱體鍛件， CL=5900mm/s，問如何利用底波調(diào)節(jié)500mm/φ 2靈敏度？ 解：由題意得 1 計算： 500mm處底波與 φ 2mm平底孔回波分貝差為： 22 2 2 . 3 6 5 0 02 0 l g 2 0 l g 4 5 . 53 . 1 4 2x dBf? ??? ? ? ??2λD2 調(diào)節(jié)：將探頭對準完好區(qū)圓柱底面，調(diào)“增益”使底波 B1達基準 60％高，然后用“衰減器”增益 46 dB，這時 φ 2靈敏度就調(diào)好了，必要時再增益 6 dB作為掃查靈敏度。 【 例 2】 用 φ 1000mm，內(nèi)徑為φ 100mm的空心圓柱體鍛件， CL=5900mm/s，問如何利用內(nèi)空回波調(diào)節(jié) 450mm/φ 2靈敏度？ 5 .92 .3 62 .5cmmf? ? ?λ解：由題意得 D=1000mm，d=100mm 1 0 0 0 1 0 0 45022Ddx m m??? ? ?1 計算： 450mm處內(nèi)孔回波與 φ 2mm平底孔回波分貝差為： 222 2 2 . 3 6 4 5 0 1 0 02 0 l g 2 0 l g 1 0 l g 2 0 l g 1 0 l g 3 4 . 53 . 1 4 2 1 0 0 0P B x d dBP f D f D???? ? ? ? ? ? ??λ2 調(diào)節(jié)：將探頭對準完好區(qū)的內(nèi)孔衰減 45dB，調(diào)“增益”使底波 B1達基準 60％高，然后用“衰減器”增益 35 dB，作為檢測靈敏度，再增益 6 dB作為掃查靈敏度。 （ 2）試塊調(diào)節(jié)法 1）單直探頭檢測：當鍛件的厚度 或由于幾何形狀所限或底面粗糙時，應(yīng)利用具有人工反射體的試塊來調(diào)節(jié)檢測靈敏度，如 CSⅠ 試塊和 CSⅡ 試塊。調(diào)節(jié)時將探頭對準標準試塊的平底孔，調(diào)“增益”使平底孔回波達基準波高即可。 值得注意的是，當試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時，要進行耦合補償。當試塊與工件的材質(zhì)衰減相差較大時，還要考慮介質(zhì)衰減補償。 【 例 1】 用 50mm的小鍛件，采用 CSⅠ 試塊調(diào)節(jié) 50/φ 2靈敏度，試塊與鍛件表面耦合差 3dB，問如何調(diào)節(jié)靈敏度？ 將探頭對準 CSⅠ 試塊中 1號試塊的 φ 2平底孔，距離為 50mm，調(diào)“增益”使 φ 2平底孔回波達 60％高，然后再用“衰減器”增益 3dB，這時 50/φ 2靈敏度就調(diào)好了。 【 例 2】 用 400mm的鍛件，問如何利用 100/φ 4平底孔試塊調(diào)節(jié)400/φ 2靈敏度？試塊與工件表面耦合差 6dB。 解：計算： 100/φ 4平底孔與 400/φ 2平底孔回波分貝差： 1 2 4 4 0 02 0 l g 4 0 4 0 l g 3 62 1 2 1 0 0P f x dBP f x???? ? ??△ ＝調(diào)節(jié)：將探頭對準 100/φ 4平底孔，調(diào)節(jié)“增益”使φ 4平底孔回波達基準高，然后用“衰減器”增益 36＋6＝ 42Db,這時 400/φ 2靈敏度就調(diào)節(jié)好了。這時工件上400/φ 2靈敏平底孔缺陷回波正好達基準波高。 2）雙晶直探頭檢測：采用雙晶直探頭檢測時，要利用如圖 CSⅡ 標準試塊的平底孔來調(diào)節(jié)檢測靈敏度。先根據(jù)檢測要求選擇相應(yīng)的平底孔試驗塊，并依次測試一組距離不同、直徑相同的平底孔的回波，使其中最高回波達滿刻度的 80％，在此靈敏度條件下測出其他平底孔的回波最高點，并標在示波屏上，然后連接這些回波最高點，從而得到一條平底孔距離－波幅曲線，并以此作為檢測靈敏度。 缺陷位置和大小的測定 在鍛件檢測中，主要采用縱波直探頭檢測，因此可根據(jù)示波屏上缺陷前沿所對應(yīng)的水平刻度值 τ f和掃描速度 1： n來確定缺陷在鍛件中的位置。缺陷至探頭的距離 xf為 xf＝ nτ f (83) 鍛件檢測中，對于尺寸小于聲束截面的缺陷一般用當量法定量。若缺陷位于區(qū)域內(nèi)時，常用當量計算法和當量 AVG曲線法定量；若缺陷位于區(qū)域內(nèi)，常用試塊比較法定量，對于尺寸大于聲束截面的缺陷， 一般采用測長法，常用的測長法有 6dB法和端點 6dB法。必要時還可采用底波高度法來確定缺陷的相對大小。下面重點介紹當量計算法和 6dB法在鍛件探傷中的應(yīng)用。 (1)當量計算法是利用各種規(guī)則反射體的回波聲壓公式和實際探傷中測得的結(jié)果（缺陷的位置和波高）來計算缺陷的當量大小。當量計算法是目前鍛件探傷中應(yīng)用最廣的一種定量方法。用定量計算法定量時，要考慮調(diào)節(jié)探傷靈敏度的基準。 當用平底面和實心園柱體曲底面調(diào)節(jié)靈敏度時，當量計算公式為： 2222 0 l g 2 0 l g 2 (P B x f a x f x BP f D fx B?? ? ? ?λ△ Bf ） 當用空心圓柱體內(nèi)孔或外圓曲底面調(diào)靈敏度時，當量計算公式為： 2222 0 l g 2 0 l g 1 0 2 (P B x f a x f x BP f D fx B?? ? ? ?λ△ Bf ） 在平面工件檢測中，用 6dB法測定缺陷的長度時，探頭移動的距離就是缺陷的指示長度，如圖 。然而對圓柱形鍛件進行軸向探測時，探頭的移動距離不再是缺陷的指示長度了，這時要按幾何關(guān)系來確定缺陷的指示長度，如圖 。 L fx fLL fLf x 圖 平面探傷 6dB測長法 圖 圓弧面探傷 6dB測長法 外圓周向測長時，缺陷的指示長度 Lf為： LL f = ( 1 )RR x f?式中： L―― 探頭移動的外圓弧長， mm； R―― 圓柱體外半徑， mm； Xf1―― 缺陷的聲程， mm。 內(nèi)孔周向測長時，缺陷的指示長度 Lf為 () 內(nèi)孔周向測長時，缺陷的指示長度 Lf為 ()LLf r x fr??′ () 式中： L′―― 探頭移動的內(nèi)圓弧長， mm； r―― 圓柱體內(nèi)半徑， mm； Xf2―― 缺陷的聲程， mm。 在鍛件檢測中，不同性質(zhì)的缺陷回波是不同的，實際檢測時，可根據(jù)示波屏上的缺陷回波情況來分析缺陷的性質(zhì)和類型。 鍛件檢測中，示波屏上單獨出現(xiàn)的缺陷回波稱為單個缺陷回波，一般單個缺陷是指與臨近缺陷間距大于 50mm、回波高不小于 φ 2mm的缺陷。如鍛件中單個的夾層、裂紋等。檢測中遇到單個缺陷時，要測定缺陷的位置和大小，當缺陷較小時，用當量法定量，當缺陷較大時，用 6dB法測定其邊界和面積范圍。 鍛件檢測時，工件中的缺陷較多且分散，缺陷彼此間距較大，這種缺陷回波稱為分散缺陷回波。一般在邊長 50mm的立方體內(nèi)少于 5個，不小于 φ 2mm，如分散性的夾層。分散缺陷回波一般不太大。因此常用當量法定量，同時還要測定分散缺陷的位置。 鍛件檢測中，示波屏上同時顯示的缺陷回波很多，缺陷之間的間隔很小，甚至連成一片，這種缺陷回波稱為密集缺陷回波。 密集缺陷的劃分