故障測試ppt課件(編輯修改稿)
2025-05-27 18:22 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 內(nèi)容逐項半加；再計算機或帶微機的儀器中，在開機自檢時都必須對RAM和 ROM進(jìn)行測試?。。?sum比較電子科大 CAT室第 ROM測試電子科大 CAT室ROM只讀存儲器 只讀，存放程序或固定數(shù)組等：0x88,0x82,0xf0,0x00,0x85,0x90,0x20,0xe5,0x20,0x5b,0x60,0xf8,0x09,0xb9,0x04,0xe3,0xeb,0x23,0xfb,0x08,0xb8,0x07,0xda,0x79,0x00,0x90,0x06,0x60,0xe9,0x93,0x90,0x00,0x01,0xf0,0x85,0x90,0x20,0x30,0x01,0xfa,0x09,0xb9,0x10,0xed,0x75,0x10,0x40,0x75,0x11,0x40,0x75,0x12,0x40,0x75,0x13,0x40,0x75,0x14,0x40,0x75,0x15,0x40,0x7d,0x00,0x79,0x40,0x77,0x0a,0xe9,0x24,0x10,0xf9,0x0d,0xbd,0x0b,0xf6,0x78,0x40,0x79,0x40,0x7a,0x00,0x7c,0x00,0x7f,0x00,0x75,0xd0,0x00,0x75,0x26,0x00,0x75,0x22,0x00,0x75,第 ROM測試電子科大 CAT室應(yīng)用于桌面的 PXI混合信號測試系統(tǒng) 第 CPU測試CPU測試的復(fù)雜性新的故障模型：?Sa0/sa1?Bitj=0/1時， bitisa0/1?Bitj=0/1時， biti不能從 01/10?Bitj與 biti作用相互顛倒，出現(xiàn)錯亂?對指令花樣的敏感性，對不同指令的組合有不同的執(zhí)行時間等等?。PU內(nèi)部各功能塊之間故障的相互影響CPU與外部 ROM,RAM及 I/O之間的相互影響電子科大 CAT室第 CPU算法產(chǎn)生測試基本步驟：?將 CPU功能分塊?利用指令集分別對各功能塊進(jìn)行測試?由小到大策略，程序計數(shù)器 寄存器 其它功能塊?根據(jù)上述測試過程整理出測試算法，生成測試圖形（矢量）以 Intel8080為例指令 可測試的功能塊MOV,MVI寄存器組RLC,RRC,DAAAADD,ADI,CMPALUINX,DADBC,DECALLn,JMPPC,SPPUSH,POPSPNOPPC指令寄存器Z指令譯碼器Y累加器A計算單元ALU內(nèi)部總線BC,DE,HLSPPC控制定時寄存器組電子科大 CAT室第 CPU算法產(chǎn)生測試測試流程 ：初始化測 PC測寄存器測 SP測 ALU測 A完成所用指令開機復(fù)位， 0PCNOPMOVr1,r2PUSH,POPADDRLC,ADD電子科大 CAT室第 CPU功能測試算法基本步驟：指令寄存器Z指令譯碼器Y累加器A計算單元ALU內(nèi)部總線BC,DE,HLSPPC控制定時寄存器組CPU通用模型電子科大 CAT室第 CPU功能測試算法 沒有選到數(shù)據(jù)源（ F1
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