無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)(2)(編輯修改稿)
2025-05-26 12:06 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 振動(dòng)響應(yīng)的頻譜 華中科技大學(xué)機(jī)械學(xué)院 11 聲振檢測(cè)法 (2) 局部激振法 振動(dòng)熱圖法：適用于熱擴(kuò)散率低的工件。 振幅測(cè)量法：適用于蜂窩壁板中蒙皮與芯脫粘的檢測(cè)。 局部激振法是對(duì)被被測(cè)結(jié)構(gòu)的一點(diǎn)或多點(diǎn)施加激勵(lì)，使其發(fā)生振動(dòng)，并對(duì)所有欲測(cè)的各點(diǎn)測(cè)量其結(jié)構(gòu)的局部性能。 單點(diǎn)激振 華中科技大學(xué)機(jī)械學(xué)院 12 聲振檢測(cè)法 在每一被測(cè)點(diǎn)施加激勵(lì)，并在同一點(diǎn)上測(cè)量輸入力或振動(dòng)的響應(yīng)，可用來(lái)測(cè)量膠接結(jié)構(gòu)的脫粘、分層和疊層構(gòu)件的氣孔以及有缺陷的蜂窩結(jié)構(gòu)。 聲阻法 聲阻法是利用測(cè)量結(jié)構(gòu)件被測(cè)點(diǎn)振動(dòng)力阻抗的變化來(lái)確定是否有異常的結(jié)構(gòu)件存在。測(cè)量在單一振動(dòng)頻率下進(jìn)行，常用的頻率在 1~10kHz之間。 多點(diǎn)激振法 華中科技大學(xué)機(jī)械學(xué)院 13 聲振檢測(cè)法 雙片聲阻法稱為聲阻抗法 ，它是利用由兩個(gè)壓電晶片組成的檢測(cè)器 (一個(gè)晶片激振，另一個(gè)接收信號(hào) )，以點(diǎn)源形式激發(fā)樣品作彎曲振動(dòng)，并將樣品振動(dòng)的力阻抗通過(guò)觸頭轉(zhuǎn)移為檢測(cè)器的負(fù)載，通過(guò)對(duì)檢測(cè)器特性的測(cè)量，來(lái)檢測(cè)樣品力阻抗的變化，達(dá)到檢驗(yàn)?zāi)康摹? 單片聲阻法： 采用一個(gè)晶片激振和接收返回信號(hào)，主要用來(lái)檢測(cè)粘接質(zhì)量。 聲阻法又可分為雙片聲阻法和單片聲阻法。 華中科技大學(xué)機(jī)械學(xué)院 14 聲振檢測(cè)法 聲諧振檢測(cè)技術(shù)是復(fù)合材料構(gòu)件常用的質(zhì)量檢測(cè)方法。聲諧振技術(shù)實(shí)質(zhì)上是聲阻抗的一種持例。它們的共同點(diǎn)是：通過(guò)電聲換能器激發(fā)被測(cè)件，并測(cè)試以被測(cè)件為負(fù)載的換能器的阻抗特性。 聲諧振檢測(cè)通?？煞譃閮煞N類(lèi)型，以頻率隨時(shí)間變化的掃頻連續(xù)波入射工件和以可調(diào)的單一頻率的波入射工件。 掃描聲振檢測(cè)技術(shù)的基本原理是，檢測(cè)換能器與被檢工件耦合，并用比換能器自然頻率低的掃頻連續(xù)波激勵(lì)。當(dāng)此連續(xù)
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