【文章內容簡介】 n. –晶體類型 閃爍晶體–CN應用條件：–最小井眼直徑 in. mm–最大井眼直徑 16 in. mm–CN優(yōu)點和地質應用：––（與密度或聲波測井綜合評價）–CN測井質量控制（ 1）n 補償中子測井 (CNL)為非極板式儀器，特別設計用于與幾種其它的儀器組合，以提供連續(xù)的中子測井。用弓形彈簧使儀器偏心；n 影響資料質量的主要因素是泥餅、井徑變化和鉆井液中的氯離子濃度，雙源距 的中子探頭可以有效地減小這些影響；n 常用鉆井液中的加比重材料引起探頭計數率增高，呈現(xiàn)地層低孔隙的假象；n CNL可用于充滿流體的套管或裸眼井中，但不能用于充滿氣體的井眼；超熱中子 (CNL)則可用于充滿氣體的井眼；CN測井質量控制（ 2）n 目的層應作至少重復測量加 60m井段，并在統(tǒng)計誤差范圍內比較兩者的重復性；n CNL記錄的視孔隙度，不僅反映有效孔隙內流體的氫含量，而且也反映泥質和束縛水中氫的含量；n 氯、鐵和硼是影響中子測井的很強的熱中子吸收體；地層水礦化度很高時，或地層泥質中的鐵和硼含量較高時，都會對中子測井造成很大影響，使視孔隙度偏低；n 像密度測井一樣，將測量的視孔隙度轉換為實際孔隙度時，需知道巖石的骨架值。CDL(Compensated Densilog)n 2227補償密度測井儀是用于裸眼井中測井地層體積密度的放射性測井儀器。它裝有 2居里的伽瑪源和兩個光子探測器，利用光子與電子的彈性散射即康普頓效應來確定介質的電子密度。經過石灰?guī)r地層模型刻度確定視體積密度。雙源距探測實現(xiàn)了對泥餅影響的校正。測井時，裝有放射源和探測器的極板與井壁保持良好接觸。CDL(Compensated Densilog)n 儀器發(fā)射伽瑪射線進入地層，當伽瑪射線與地層原子碰撞時，發(fā)生康普頓散射而損失能量。其中一些伽瑪射線折射回儀器的兩個探頭而被接收。由于致密地層吸收較多的伽瑪射線，探頭的低計數率反映高密度的地層；高計數率反映了低密度的地層。計數率與地層的密度成對數關系。所有的儀器都使用 “脊肋 ”圖板自動校正井眼的泥餅影響， △ ρ 曲線為校正量。密度儀的探測深度＜ 20． 3cm (8in)。CDL技術指標–直徑 in –長度 重量 345lb 耐溫 350 ℉ 177℃ ( hr.)–300 ℉ 149℃ (3 hrs.)–耐壓 20kpsi –測量范圍 g/cc–探測深度 8 in. mm–垂直分辨率 19 in. mm–探頭類型 閃爍晶體–CDL應用條件：–最小井眼直徑 in. mm–最大井眼直徑 in. mm–CDL優(yōu)點和地質應用：––––校正，提高了測量精度CDL測井質量控制（ 1）n 密度儀器為極板式，由井徑臂推靠向地層。密度儀可用于充滿空氣、天然氣或鉆井液的裸眼井中；在含重晶石的鉆井液中，由于重晶石的影響會導致不可靠的讀數；n 通常，在目的層段的穩(wěn)定地層中重復 60m， 檢查與主測井曲線的重復性；并每次都記錄井徑曲線以檢查井眼不規(guī)則對密度曲線的影響；CDL測井質量控制（ 2）n 由于磨損造成的極板傾斜或極板附著泥餅，曲線會出現(xiàn)固定的補償（ △ ρ )偏移， △ ρ 超出 ／ cc時表明密度孔隙度資料存在問題；n 泥餅較厚或鉆井液比重＜ ， △ ρ 應為正值。在比重＜ ，負的補償平均＜ ／ cc很可能不正常，應要求對所有的補償和刻度進行檢查；泥餅較厚和鉆井液比重＞ ／ cc , 特別是當鉆井液中含有重晶石時， △ ρ 是負值屬正常；n 檢查已知巖性地層如硬石膏或鹽巖的密度讀數，若記錄了密度孔隙度曲線，應檢查是否使用了正確的骨架，在曲線上應有所反映； Z密度測井儀 ZDL(ZDensity Log)n 巖性密度測井是在補償密度測井的基礎上發(fā)展起來的。補償密度測井的物理基礎是康普頓效應，它并未充分利用地層所提供的信息， 因此在巖性比較復雜的情況下，它不能準確評價地層孔隙度。巖性密度測井的物理基礎是光電效應。 巖性密度儀發(fā)射伽瑪射線進入地層，如果發(fā)射的伽瑪射線損失較多的能量，就會被地層中的原子所吸收并釋放出光子，探頭測量地層中釋放的光子。地層釋放的光子與地層的平均原子數 (Z)成比例，記錄的 Pe曲線即 Z的函數。ZDL技術指標 (2222)：–直徑 –長度 –重量 470 lb –耐溫 350 ℉ 177℃ ( hr– 300 ℉ 149℃ (3 hrs.)–耐壓 20kpsi –測量范圍 g/cc–探測深度 8 in. mm–垂直分辨率 19 in. mm–探頭類型 閃爍晶體–ZDL應用條件：–最小井眼直徑 in. mm–最大井眼直徑 22 in. mm–ZDL優(yōu)點和地質應用：–––––測壓取樣系列n 重復地層測試器 FMT（ Formation Multitester）n 地層測試器 FMT是用于完井前對裸眼井中的產層估算產能。一次下井可以記錄多個壓力測試點數據和抽取兩個地層流體樣本。 FMT利用一個貼在井壁上的密封極板將井筒流體和地層流體分開。通過這種方法，地層流體樣本流入取樣桶，產生局部壓降，通過對這些壓降的分析可以估算地層滲透率。因為 FMT的壓力計是受地面面板控制的，所以一次下井可以收集到大量測壓數據。這些測試結果，可以計算出壓力梯度，從而判斷油水界線。用自然電位或自然伽瑪曲線可以進行深度校正，實現(xiàn)準確定位。壓力測試點的信息可以用于判斷是否開啟一個還是兩個取樣桶以確保取到高質量的樣本，取樣桶有多種容量： 4 升， 10升和 20升。 FMT技術指標：–直徑： –長度： 40ft –重量： 982 lb –耐溫： 330℉ 166℃ *–耐壓： 12 kpsi ** 石英壓力計數據–FMT應用條件：–最小井眼尺寸 in. (146 mm) 采用最小的 KIT–最大井眼尺寸 in. (482 mm) 采用最大的 KITFMT優(yōu)點和地質應用：–；–；–取樣；–；–；–；–，電阻值，含水量及油氣比；–，可變壓力控制設計增強了流體取樣的壓力恢復。FMT質量控制（ 1）n 作業(yè)前應通知測井工程師作好準備工作 (取樣筒的數量和尺寸 )，并確定是否需要作高壓物性 (PVT)取樣；預測試測壓應采取下測方式，以使溫度遲滯效應減至最??；n 預測試應選擇孔隙度和滲透率好的層位；流體取樣應在全井測壓結束后進行，并應選擇在較均質的高滲透地層頂部進行，以避免鉆井液濾液和儲層內烴的可能重力分異；n 在浮式 (或半潛式 )平臺上作業(yè)時，儀器座封后應放松電纜，保持座封牢固；n 座封失敗時 (常發(fā)生在大井眼、井壁坍塌或封隔器損壞 )，壓力迅速回到鉆井液靜液壓，收回儀器重新座封；可在套管中檢查封隔器密封的好壞；n 測壓和取樣前，對照裸眼井曲線 (如 GR)檢查地層測試器的深度，并記錄在膠片上；若井段較長，應分段檢查深度精度。FMT質量控制（ 2）n 儀器下井到達預定深度后，應使壓力計溫度穩(wěn)定后，再開始測試 (壓力應當不變 )，每一壓力點測前與測后的鉆井液柱壓力應相同；n 應使用井壁間隙器，以盡量減少儀器與地層接觸的時間，以防儀器遇卡；n 取 PVT分析樣品不能泄壓，應在保持壓力的情況下將取樣筒取出；n 最終的壓力數據應經過溫度校正，與所使用的儀器相符的校正圖板應附在膠片上；n 取樣時應盡量選用大取樣筒，如 (6gal)， 鉆井液濾液和地層流體的混合物進入第一取樣筒，第二取樣筒就可能取到較好的地層流體。改進的儀器可先排空鉆井液濾液，然后取地層流體，這樣就可取到兩個深度的地層流體樣。流體類型的確定可通過管線上的電容或電阻率探頭來監(jiān)視；FMT質量控制（ 3）n 低滲透地層往往會發(fā)生測量的地層壓力大大超過真實地層壓力的情況。這是由于鉆井液侵入帶來的高壓 (取決于鉆井液壓力 )難以釋放，形成 “超壓 ”現(xiàn)象。在井眼條件允許的情況下，測地層測試之前盡量不要劃眼和循環(huán)鉆井液；n 測壓期間，現(xiàn)場監(jiān)督應及時作出壓力與深度剖面，以檢查異常點。對任何可疑點都應上提或下放 測量，以便確認取得的壓力真實性。若發(fā)現(xiàn)堵塞現(xiàn)象，可將儀器座在好水層沖洗解堵；n 操作者及監(jiān)督應密切注意井內靜液壓梯度變化，有變化要及時正確判斷，鉆井液靜液度線的突然變化可能是壓力讀數不穩(wěn)定的結果；梯度線的逐漸變化可能是井筒鉆井液液面高度的變化或是鉆井液隨時間的推移而產生分異 (較重的顆粒沉淀到井底 )所造成。 儲層特性測井儀RCI(Reservoir Characterization Instrument)n 儲層測試儀（ RCI） 是新一代的電纜式儲層特性評價測井儀器。它能準確的確定儲層的產量和產能以及可動流體的成分。與以往的地層測試儀相比， RCI能夠通過測量和控制采集流體的壓力、體積和溫度的變化為用戶提供更全面的儲層流體特性描述。實時井下流體識別確保采集到真實的地層原樣。高技術的泵抽式設計，既可以對進入儀器或某一取樣桶的樣本進行控制和監(jiān)視，同時又可對樣本進行測量分析。儀器的所有功能都由地面采集系晨刂，包括記錄所有測試數據，以及取樣時體積、速度和壓力降控制，現(xiàn)場使用更加安全可靠。RCI的技術指標–耐壓 20 k ( psi ) ( MPa )–耐溫 20 ~ 350 ℉ ~ 177 ℃–系列號 長度 外徑