結(jié)構(gòu)化綜合布線系統(tǒng)工程檢測(cè)與驗(yàn)收方法(編輯修改稿)
2024-12-01 15:07 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 （包括設(shè)備跳線和快接式跳線） 通過(guò)對(duì)線纜長(zhǎng)度的測(cè)量，驗(yàn)證鏈路的物理長(zhǎng)度不得超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)所允許的數(shù)值。 3）衰減（ Attenuation） 信號(hào)沿鏈路傳輸過(guò)程中的損失稱為衰減。衰減隨頻率而變化， TSB67基本鏈路“衰減值 (室溫 20 度 水平 UTP 長(zhǎng)度 =90 米 含 4米測(cè)試儀跳線 ) 頻率（ MHz） 三類（ dB） 四類（ dB） 五類（ dB） 1 4 4 8 6 10 10 16 20 25 100 _ 例如，測(cè)試 5 類非屏蔽雙絞線的信道衰減，要從 1MHz— 100MHz 范圍內(nèi)測(cè)試，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試設(shè)備應(yīng)測(cè)試出所安裝的每一對(duì)線最嚴(yán)重的衰減情況，并將衰減最大值與衰減允許值比較后，給出合格（ PASS）和不合格（ FAIL）的結(jié)論。 光纖測(cè)試 測(cè)試項(xiàng)目： 連通性測(cè)試 全程衰減及 ST/SC 連接頭衰減測(cè)試 具體測(cè)試方法如下： 多模光纖水平子系統(tǒng)需要測(cè)試端的參數(shù)； 沿一個(gè)方向在波長(zhǎng) 850nm 或 1300nm 處測(cè)試衰耗值 多模光纖主干系統(tǒng)及混合方式需要測(cè)試的參數(shù)； 沿一個(gè)方向在波長(zhǎng) 850nm 及 1300nm 處測(cè)試衰耗值 單模光纖水平子系統(tǒng)需要測(cè)試端的參數(shù)； 沿一個(gè)方向在波長(zhǎng) 1310nm 或 1550nm 處測(cè)試衰耗值 （注：由于不同方向的測(cè)試的數(shù)值之差，一般會(huì)很小，而且多半由測(cè)試儀器的精度或測(cè)試手法而引起，所以單方向測(cè)試已足夠。而水平子系統(tǒng)的距離標(biāo)準(zhǔn)極限很短（ 90米），所以其在不同波長(zhǎng)處測(cè)試值的差別不大，因而單波長(zhǎng)測(cè)試已足夠）。 為符合 TIA/EIA52814A 關(guān)于 多模光纖的安裝及光功率損耗的測(cè)試 及TIA/EIA5267 關(guān)于 單模光纖的安裝及光功率損耗的測(cè)試 等要求，光纖測(cè)試采用 Lucent938A 型測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試，對(duì)于光纖系統(tǒng)，測(cè)試指標(biāo)可由以下公式計(jì)算得出： 全程鏈路衰耗值 =光纜的衰耗值 +耦合器光纖連接頭損耗 +熔接頭衰耗值 +光功率比校正值 注：耦合連接具體依據(jù)其連接插頭型號(hào)有多種方式，如 ST、 SC、 LC 等連接方式，其衰耗值不同。相關(guān)的一些測(cè)試指標(biāo)如下： 1） 多模光纖系統(tǒng) 多模光纖 連接頭
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