【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】
5(MX僅ZC7110機(jī)型,其余機(jī)型為X-X).X-X: 第一個(gè)X表示記憶組,共5組:15;第二個(gè)X表示記憶組中的某個(gè)測(cè)試步驟,每個(gè)記憶組有3個(gè)測(cè)試步驟,每個(gè)測(cè)試步驟可任意設(shè)定不同的測(cè)試類型.:交流電壓設(shè)定 :直流電壓設(shè)定:漏電電流上限設(shè)定 XXXXMΩ:絕緣電阻下限設(shè)定:測(cè)試時(shí)間設(shè)定 ZC7110與其余三種機(jī)型參數(shù)設(shè)定略有不同,ZC7110參數(shù)設(shè)定可分為記憶組設(shè)定、耐電壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定; ZC711ZC71ZC7122參數(shù)設(shè)定可分為記憶組設(shè)定、步驟間連續(xù)測(cè)試設(shè)定、步驟選擇設(shè)定、測(cè)試類型設(shè)定 、耐電壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定或絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定。依次敘述如下。 ZC7110機(jī)型參數(shù)設(shè)定Memory:XRange: 1—5 在待測(cè)模式下按一下“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入記憶組設(shè)定模式,液晶顯示: 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵將“程式記憶組”的數(shù)字輸入?yún)?shù)設(shè)定程式內(nèi),設(shè)定完后再按“設(shè)置(SET)”鍵就進(jìn)入耐電壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定()。在設(shè)定參數(shù)的任何時(shí)刻按“退出(EXIT)”鍵,程式會(huì)詢問(wèn)是否要保存參數(shù),界面如下:S a v e ?N o:S e t Y e s:E x t 按“設(shè)置(SET)”鍵不保存設(shè)定參數(shù),退出參數(shù)設(shè)定模式,回到待測(cè)狀態(tài);按“退出(EXIT)”鍵,保存設(shè)定參數(shù),退出參數(shù)設(shè)定模式,回到待測(cè)狀態(tài)。 當(dāng)設(shè)定完最后一項(xiàng)參數(shù)時(shí),按“設(shè)置(SET)”鍵程式會(huì)回到最初的參數(shù)項(xiàng)目,即記憶組設(shè)定模式。 ZC711ZC71ZC7122機(jī)型參數(shù)設(shè)定 記憶組設(shè)定Memory:XRange: 1—5 在待測(cè)模式下按一下“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入記憶組設(shè)定模式,液晶顯示: 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵將“程式記憶組”的數(shù)字輸入?yún)?shù)設(shè)定程式內(nèi)。 步驟間連續(xù)測(cè)試設(shè)定在設(shè)定完后按“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)進(jìn)入步驟間連續(xù)測(cè)試設(shè)定模式,界面如下:M o d e?。?A u t oSelect?。猓?。铮颉。鯩 o d e?。?M a n u a lSelect by ^?。铮颉。? 或 M a n u a l:手動(dòng)方式,當(dāng)前記憶組的三個(gè)測(cè)試步驟為手動(dòng)方式。做完第一步,必須按“啟動(dòng)(TEST)”鍵才能做第二步,做完第二步,必須再按“啟動(dòng)(TEST)”鍵才能做第三步。A u t o:自動(dòng)方式,第一步做完程式自動(dòng)做第二步再到第三步。 無(wú)論是手動(dòng)還是自動(dòng)方式,程式總是以第一步驟開(kāi)始測(cè)試。 步驟選擇設(shè)定 以上設(shè)定完后按“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)進(jìn)入步驟選擇設(shè)定模式,界面如下:S t e p: XRnge:1—3請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵來(lái)選擇您要設(shè)置的步,以便對(duì)該步驟的測(cè)試參數(shù)進(jìn)行設(shè)定。 測(cè)試類型設(shè)定 以上設(shè)定完后按“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)進(jìn)入測(cè)試類型設(shè)定模式,此時(shí)您可以根據(jù)您的需要來(lái)選擇AC、DC、IR或――,界面如下:S t e pX: XXSelect by ^?。铮颉。? X是上一項(xiàng)目(步驟選擇設(shè)定)的設(shè)定值,XX是測(cè)試類型:AC、DC、IR、或――(空類型),您可用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵來(lái)選擇其中之一,但第一步驟無(wú)――(空類型)。不同型號(hào)的儀器在測(cè)試類型選擇上會(huì)有所不同,下表為各機(jī)型與測(cè)試類型的對(duì)照表: 機(jī) 型 Step1 Step2 Step3 7112 AC/IR AC/IR/ AC/IR/ 7120 AC/DC AC/DC/ AC/DC/ 7122 AC/DC/IR AC/DC/IR/ AC/DC/IR/ 以上設(shè)定完后按“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)進(jìn)入測(cè)試參數(shù)設(shè)定,不同的測(cè)試類型有不同的測(cè)試參數(shù)設(shè)定,例如當(dāng)測(cè)試步驟的類型設(shè)定為AC時(shí),就進(jìn)入交流耐電壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定;當(dāng)測(cè)試步驟的類型設(shè)定為DC時(shí),就進(jìn)入直流耐電壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定;當(dāng)測(cè)試步驟的類型設(shè)定為IR時(shí),就進(jìn)入絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定;當(dāng)為――(空類型)時(shí),該測(cè)試步驟就被屏蔽不執(zhí)行。 耐電壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定 輸出電壓設(shè)定 (AC或DC)時(shí),按“設(shè)置(SET)”鍵后,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入交流或直流輸出電壓設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示: 交流耐電壓測(cè)試 直流耐電壓測(cè)試W-Voltage:X.XXkVRange:0-6.00kVDCW-Voltage:X.XXkVRange:0-5.00kVAC 或請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇測(cè)試電壓量值。單位為kV。 漏電電流上限(HI—Limit)設(shè)定 在上一設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵后,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入交流電流或直流電流上限設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示: 交流耐電壓測(cè)試 直流耐電壓測(cè)試W-High: X.XXmARange: 0.02-5mAW-High: XX.XXmARange: 0.01-12mA 或 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇漏電電流上限值。單位為mA。 漏電電流下限(Low—Limit)設(shè)定 在上一設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵后,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入交流電流或直流電流下限設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示: 交流耐電壓測(cè)試 直流耐電壓測(cè)試W-Low: X.XXmARange: 0.00-5mAW-Low: XX.XXmARange:0.00-12mA 或 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇漏電電流下限值。單位為mA。 緩升時(shí)間(W—Ramp)設(shè)定 在上一設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵后,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入緩升時(shí)間設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示:W-Ramp: XXX.Xs- 0=o f f請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇緩升時(shí)間值。單位為s。如果緩升時(shí)間設(shè)定為0,則輸出電壓不緩升,直接輸出至設(shè)定值。 測(cè)試時(shí)間(W—Dwell)設(shè)定 在上一設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵后,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入測(cè)試時(shí)間設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示:W-Dwell: XXX.Xs0.1-999.9s 0=Con 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇測(cè)試時(shí)間值。單位為s。如果測(cè)試時(shí)間設(shè)定為0,則為持續(xù)測(cè)試。 輸出頻率設(shè)定 如果以上設(shè)定的是交流耐電壓測(cè)試,在上一設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵后,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入輸出頻率設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示:Freq:?。叮啊。龋樱澹欤澹悖簟。猓 摹。铮颉。觯疲颍澹瘢骸。担啊。龋樱澹欤澹悖簟。猓 摹。铮颉。? 或請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇測(cè)試頻率。而如果選擇的是直流耐電壓測(cè)試,則沒(méi)有這一項(xiàng)設(shè)定,自動(dòng)跳到“電弧靈敏度”設(shè)定。 電弧靈敏度(W-Arc)設(shè)定 在上一設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵后,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入電弧靈敏度設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示:W-Arc: XRange: 0-9 0=o f f 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇電弧靈敏度。“9”為電弧靈敏度最高,“0”為不偵測(cè)。 至此,是耐電壓測(cè)試的最后一項(xiàng)設(shè)定,按“設(shè)置(SET)”鍵后,以便對(duì)您的設(shè)定作檢查。 退出設(shè)定及參數(shù)保存如果要退出設(shè)定模式,只要按一下“退出(EXIT)”鍵,此時(shí)會(huì)有兩種不同的退出界面。退出界面一: S a v e I t e m 12 ?N o:S e t Y e s:E x t ,按“退出(EXIT)”鍵出現(xiàn)。該界面表示是否保存第一、第二項(xiàng)目參數(shù),即記憶組和步驟間連續(xù)測(cè)試設(shè)定參數(shù)。按“設(shè)置(SET)”鍵,不保存第一、第二項(xiàng)目設(shè)定參數(shù),退出參數(shù)設(shè)定模式,回到待測(cè)狀態(tài)。按“退出(EXIT)”鍵,保存第一、第二項(xiàng)目設(shè)定參數(shù),退出參數(shù)設(shè)定模式,回到待測(cè)狀態(tài)。S a v e s t e p X ?N o:S e t Y e s:E x t 退出界面二: 該界面表示是否保存步驟X設(shè)定的測(cè)試參數(shù),X表示第幾步驟。 按“退出(EXIT)”鍵,保存設(shè)定參數(shù),返回到步驟選擇設(shè)定項(xiàng)目(),再按“退出(EXIT)”鍵,回到待測(cè)狀態(tài)。 按“設(shè)置(SET)”鍵,不保存設(shè)定參數(shù),返回到步驟選擇設(shè)定項(xiàng)目(),再按“退出(EXIT)”鍵,回到退出界面一,其后操作同退出界面一。 絕緣電阻測(cè)試參數(shù)設(shè)定 絕緣電阻測(cè)試輸出電壓設(shè)定 (IR)時(shí),按“設(shè)置(SET)”鍵后,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入絕緣電阻測(cè)試輸出電壓設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示:I-Voltage: X.XXkV0.10-1.00kVDC 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇測(cè)試電壓量值。單位為kV。 絕緣電阻上限(HI—Limt)設(shè)定 在前一參數(shù)設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入絕緣電阻測(cè)試的絕緣電阻上限設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示:I-High: XXXXMΩ0-1000MΩ 0=o f f 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇測(cè)試電壓量值。單位為MΩ。如果上限設(shè)定為0,表示不做絕緣電阻上限判定。 絕緣電阻下限(Lo—Limt)設(shè)定 在前一參數(shù)設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入絕緣電阻測(cè)試的絕緣電阻下限設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示:I-L o w: XXXXMΩRange: 1-1000MΩ 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇測(cè)試電壓量值。單位為MΩ。 延遲判定時(shí)間(Delay)設(shè)定 在前一參數(shù)設(shè)定確定后,按“設(shè)置(SET)”鍵,程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入絕緣電阻測(cè)試的延遲判定時(shí)間設(shè)定模式,液晶顯示器會(huì)顯示:I-Delay: XXX.Xs0.1-999.9s 0=Con 請(qǐng)用“增加(∧)”鍵或“減少(∨)”鍵選擇延遲判定時(shí)間。單位為s。如果測(cè)試時(shí)間設(shè)定為0,則為持續(xù)測(cè)試和判定。 至此,是絕緣電阻測(cè)試的最后一項(xiàng)設(shè)定,按“設(shè)置(SET)”鍵后,以便對(duì)您的設(shè)定作檢查。 退出設(shè)定及參數(shù)保存 。第十章 顯示器訊息以下為本儀器在執(zhí)行測(cè)試時(shí),出現(xiàn)在顯示器上的各種訊息。以下就單一功能測(cè)試的顯示器訊息說(shuō)明如下。 7110交流耐電壓測(cè)試 待測(cè)和參數(shù)設(shè)定模式以下的顯示訊息表示本儀器已進(jìn)入耐電壓測(cè)試的待測(cè)和參數(shù)設(shè)定模式:W-Set?。停亍? XXX.Xs?。兀兀兀耄郑粒谩。兀兀兀兀恚寥绻础皽y(cè)試(TEST)”鍵,本儀器進(jìn)入耐電壓測(cè)試;如果按“設(shè)置(SET)”鍵,本儀器進(jìn)入耐電壓參數(shù)設(shè)定模式。 耐電壓測(cè)試中止(Abort)Abort MX XXX.Xs?。兀兀兀耄郑粒谩?XX.XXmA 在測(cè)試中,如果按“復(fù)位(RESET)”鍵或通信口輸入復(fù)位信號(hào),耐電壓測(cè)試被中止,顯示器顯示: 緩升(Ramp Up)測(cè)試 耐電壓測(cè)試在緩升測(cè)試時(shí),電壓量值會(huì)不斷更新,電流量值一般也會(huì)不斷得到更新,在這一過(guò)程中,顯示器會(huì)顯示:Ramp MX XXX.Xs?。兀兀兀耄郑粒谩?XX.XXmA 耐電壓測(cè)試(Dwell) 耐電壓測(cè)試時(shí),測(cè)試量值會(huì)不斷得到更新,在這一過(guò)程中,顯示器會(huì)顯示:Test. . . MX XXX.Xs?。兀兀兀耄郑粒谩?XX.XXmA 漏電流上限(HI—Limit