【文章內(nèi)容簡介】 5（MX僅ZC7110機型，其余機型為X－X）．X－X： 第一個X表示記憶組，共５組：15；第二個X表示記憶組中的某個測試步驟，每個記憶組有３個測試步驟，每個測試步驟可任意設(shè)定不同的測試類型．：交流電壓設(shè)定 ：直流電壓設(shè)定：漏電電流上限設(shè)定 ＸＸＸＸMΩ：絕緣電阻下限設(shè)定：測試時間設(shè)定 ZC7110與其余三種機型參數(shù)設(shè)定略有不同，ZC7110參數(shù)設(shè)定可分為記憶組設(shè)定、耐電壓測試參數(shù)設(shè)定； ZC711ZC71ZC7122參數(shù)設(shè)定可分為記憶組設(shè)定、步驟間連續(xù)測試設(shè)定、步驟選擇設(shè)定、測試類型設(shè)定 、耐電壓測試參數(shù)設(shè)定或絕緣電阻測試參數(shù)設(shè)定。依次敘述如下。 ZC7110機型參數(shù)設(shè)定Ｍｅｍｏｒｙ：ＸＲａｎｇｅ： １—５ 在待測模式下按一下“設(shè)置（SET）”鍵，程式會自動進入記憶組設(shè)定模式，液晶顯示： 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵將“程式記憶組”的數(shù)字輸入?yún)?shù)設(shè)定程式內(nèi)，設(shè)定完后再按“設(shè)置（SET）”鍵就進入耐電壓測試參數(shù)設(shè)定（）。在設(shè)定參數(shù)的任何時刻按“退出（EXIT）”鍵，程式會詢問是否要保存參數(shù)，界面如下：S a v e ?N o：S e t Y e s：E x t 按“設(shè)置（SET）”鍵不保存設(shè)定參數(shù)，退出參數(shù)設(shè)定模式，回到待測狀態(tài)；按“退出（EXIT）”鍵，保存設(shè)定參數(shù)，退出參數(shù)設(shè)定模式，回到待測狀態(tài)。 當設(shè)定完最后一項參數(shù)時，按“設(shè)置（SET）”鍵程式會回到最初的參數(shù)項目，即記憶組設(shè)定模式。 ZC711ZC71ZC7122機型參數(shù)設(shè)定 記憶組設(shè)定Ｍｅｍｏｒｙ：ＸＲａｎｇｅ： １—５ 在待測模式下按一下“設(shè)置（SET）”鍵，程式會自動進入記憶組設(shè)定模式，液晶顯示： 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵將“程式記憶組”的數(shù)字輸入?yún)?shù)設(shè)定程式內(nèi)。 步驟間連續(xù)測試設(shè)定在設(shè)定完后按“設(shè)置（SET）”鍵，程式會進入步驟間連續(xù)測試設(shè)定模式，界面如下：M o d e?。?A u t oＳｅｌｅｃｔ?。猓?。铮颉。鯩 o d e?。?M a n u a lＳｅｌｅｃｔ?。猓?。铮颉。? 或 M a n u a l：手動方式，當前記憶組的三個測試步驟為手動方式。做完第一步，必須按“啟動（TEST）”鍵才能做第二步，做完第二步，必須再按“啟動（TEST）”鍵才能做第三步。A u t o：自動方式，第一步做完程式自動做第二步再到第三步。 無論是手動還是自動方式，程式總是以第一步驟開始測試。 步驟選擇設(shè)定 以上設(shè)定完后按“設(shè)置（SET）”鍵，程式會進入步驟選擇設(shè)定模式，界面如下：S t e p： XＲｎｇｅ：１—３請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵來選擇您要設(shè)置的步，以便對該步驟的測試參數(shù)進行設(shè)定。 測試類型設(shè)定 以上設(shè)定完后按“設(shè)置（SET）”鍵，程式會進入測試類型設(shè)定模式，此時您可以根據(jù)您的需要來選擇AC、DC、IR或――，界面如下：S t e pX： XXＳｅｌｅｃｔ?。猓　ｏｒ?。? Ｘ是上一項目（步驟選擇設(shè)定）的設(shè)定值，XX是測試類型：AC、DC、IR、或――（空類型），您可用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵來選擇其中之一，但第一步驟無――（空類型）。不同型號的儀器在測試類型選擇上會有所不同，下表為各機型與測試類型的對照表： 機 型 Step1 Step2 Step3 7112 AC/IR AC/IR/ AC/IR/ 7120 AC/DC AC/DC/ AC/DC/ 7122 AC/DC/IR AC/DC/IR/ AC/DC/IR/ 以上設(shè)定完后按“設(shè)置（SET）”鍵，程式會進入測試參數(shù)設(shè)定，不同的測試類型有不同的測試參數(shù)設(shè)定，例如當測試步驟的類型設(shè)定為AC時，就進入交流耐電壓測試參數(shù)設(shè)定；當測試步驟的類型設(shè)定為DC時，就進入直流耐電壓測試參數(shù)設(shè)定；當測試步驟的類型設(shè)定為IR時，就進入絕緣電阻測試參數(shù)設(shè)定；當為――（空類型）時，該測試步驟就被屏蔽不執(zhí)行。 耐電壓測試參數(shù)設(shè)定 輸出電壓設(shè)定 （AC或DC）時，按“設(shè)置（SET）”鍵后，程式會自動進入交流或直流輸出電壓設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示： 交流耐電壓測試 直流耐電壓測試Ｗ－Ｖｏｌｔａｇｅ：Ｘ．ＸＸｋＶＲａｎｇｅ：０－６．００ｋＶＤＣＷ－Ｖｏｌｔａｇｅ：Ｘ．ＸＸｋＶＲａｎｇｅ：０－５．００ｋＶＡＣ 或請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇測試電壓量值。單位為kV。 漏電電流上限（HI—Limit）設(shè)定 在上一設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵后，程式會自動進入交流電流或直流電流上限設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示： 交流耐電壓測試 直流耐電壓測試Ｗ－Ｈｉｇｈ：　 Ｘ．ＸＸｍＡＲａｎｇｅ： ０．０２－５ｍＡＷ－Ｈｉｇｈ： ＸＸ．ＸＸｍＡＲａｎｇｅ： ０．01－１２ｍＡ 　或 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇漏電電流上限值。單位為ｍＡ。 漏電電流下限（Low—Limit）設(shè)定 在上一設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵后，程式會自動進入交流電流或直流電流下限設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示： 交流耐電壓測試 直流耐電壓測試Ｗ－Ｌｏｗ：　 Ｘ．ＸＸｍＡＲａｎｇｅ： ０．００－５ｍＡＷ－Ｌｏｗ： ＸＸ．ＸＸｍＡＲａｎｇｅ：０．00－１２ｍＡ 　或 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇漏電電流下限值。單位為ｍＡ。 緩升時間（Ｗ—Ｒａｍｐ）設(shè)定 在上一設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵后，程式會自動進入緩升時間設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示：Ｗ－Ｒａｍｐ： ＸＸＸ．Ｘｓ－ 0=o f f請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇緩升時間值。單位為s。如果緩升時間設(shè)定為０，則輸出電壓不緩升，直接輸出至設(shè)定值。 測試時間（Ｗ—Dwell）設(shè)定 在上一設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵后，程式會自動進入測試時間設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示：Ｗ－Ｄｗｅｌｌ： ＸＸＸ．Ｘｓ０．1－９９９．９s　 ０＝Con 　請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇測試時間值。單位為s。如果測試時間設(shè)定為０，則為持續(xù)測試。 輸出頻率設(shè)定 如果以上設(shè)定的是交流耐電壓測試，在上一設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵后，程式會自動進入輸出頻率設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示：Ｆｒｅｑ：?。叮啊。龋樱澹欤澹悖簟。猓　摹。铮颉。觯疲颍澹瘢骸。担啊。龋樱澹欤澹悖簟。猓　摹。铮颉。? 　或請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇測試頻率。而如果選擇的是直流耐電壓測試，則沒有這一項設(shè)定，自動跳到“電弧靈敏度”設(shè)定。 電弧靈敏度（W－Ａｒｃ）設(shè)定 在上一設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵后，程式會自動進入電弧靈敏度設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示：Ｗ－Ａｒｃ： ＸＲａｎｇｅ： ０－９ ０＝o f f 　 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇電弧靈敏度?！?”為電弧靈敏度最高，“0”為不偵測。 至此，是耐電壓測試的最后一項設(shè)定，按“設(shè)置（SET）”鍵后，以便對您的設(shè)定作檢查。 退出設(shè)定及參數(shù)保存如果要退出設(shè)定模式，只要按一下“退出（EXIT）”鍵，此時會有兩種不同的退出界面。退出界面一： S a v e I t e m 12 ?N o：S e t Y e s：E x t ，按“退出（EXIT）”鍵出現(xiàn)。該界面表示是否保存第一、第二項目參數(shù)，即記憶組和步驟間連續(xù)測試設(shè)定參數(shù)。按“設(shè)置（SET）”鍵，不保存第一、第二項目設(shè)定參數(shù)，退出參數(shù)設(shè)定模式，回到待測狀態(tài)。按“退出（EXIT）”鍵，保存第一、第二項目設(shè)定參數(shù)，退出參數(shù)設(shè)定模式，回到待測狀態(tài)。S a v e s t e p X ?N o：S e t Y e s：E x t 退出界面二： 該界面表示是否保存步驟X設(shè)定的測試參數(shù)，X表示第幾步驟。 按“退出（EXIT）”鍵，保存設(shè)定參數(shù)，返回到步驟選擇設(shè)定項目（），再按“退出（EXIT）”鍵，回到待測狀態(tài)。 按“設(shè)置（SET）”鍵，不保存設(shè)定參數(shù)，返回到步驟選擇設(shè)定項目（），再按“退出（EXIT）”鍵，回到退出界面一，其后操作同退出界面一。 絕緣電阻測試參數(shù)設(shè)定 絕緣電阻測試輸出電壓設(shè)定 （IR）時，按“設(shè)置（SET）”鍵后，程式會自動進入絕緣電阻測試輸出電壓設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示：I－Ｖｏｌｔａｇｅ： Ｘ．ＸＸｋＶ０．１０－１．００ｋＶＤＣ 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇測試電壓量值。單位為kV。 絕緣電阻上限（HI—Limt）設(shè)定 在前一參數(shù)設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵，程式會自動進入絕緣電阻測試的絕緣電阻上限設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示：I－Ｈｉｇｈ： ＸＸＸＸＭΩ０－１０００ＭΩ　 ０＝o f f 　 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇測試電壓量值。單位為ＭΩ。如果上限設(shè)定為０，表示不做絕緣電阻上限判定。 絕緣電阻下限（Lo—Limt）設(shè)定 在前一參數(shù)設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵，程式會自動進入絕緣電阻測試的絕緣電阻下限設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示：I－L o w： ＸＸＸＸＭΩＲａｎｇｅ： 1－１０００ＭΩ 　 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇測試電壓量值。單位為ＭΩ。 延遲判定時間（Delay）設(shè)定 在前一參數(shù)設(shè)定確定后，按“設(shè)置（SET）”鍵，程式會自動進入絕緣電阻測試的延遲判定時間設(shè)定模式，液晶顯示器會顯示：I－Delay： ＸＸＸ．Ｘｓ０．1－９９９．９s　 ０＝Con 　 請用“增加（∧）”鍵或“減少（∨）”鍵選擇延遲判定時間。單位為s。如果測試時間設(shè)定為０，則為持續(xù)測試和判定。 至此，是絕緣電阻測試的最后一項設(shè)定，按“設(shè)置（SET）”鍵后，以便對您的設(shè)定作檢查。 退出設(shè)定及參數(shù)保存 。第十章 顯示器訊息以下為本儀器在執(zhí)行測試時，出現(xiàn)在顯示器上的各種訊息。以下就單一功能測試的顯示器訊息說明如下。 7110交流耐電壓測試 待測和參數(shù)設(shè)定模式以下的顯示訊息表示本儀器已進入耐電壓測試的待測和參數(shù)設(shè)定模式：Ｗ－Ｓｅｔ?。停亍? ＸＸＸ．Ｘｓ?。兀兀兀耄郑粒谩。兀兀兀兀恚寥绻础皽y試（ＴＥＳＴ）”鍵，本儀器進入耐電壓測試；如果按“設(shè)置（ＳＥＴ）”鍵，本儀器進入耐電壓參數(shù)設(shè)定模式。 耐電壓測試中止（Ａｂｏｒｔ）Ａｂoｒｔ　 ＭＸ　 ＸＸＸ．Ｘｓ?。兀兀兀耄郑粒谩?ＸＸ．ＸＸｍＡ 在測試中，如果按“復位（RESET）”鍵或通信口輸入復位信號，耐電壓測試被中止，顯示器顯示： 緩升（Ramp Up）測試 耐電壓測試在緩升測試時，電壓量值會不斷更新，電流量值一般也會不斷得到更新，在這一過程中，顯示器會顯示：Ｒａｍｐ　 ＭＸ　 ＸＸＸ．Ｘｓ?。兀兀兀耄郑粒谩?ＸＸ．ＸＸｍＡ 耐電壓測試（Dwell） 耐電壓測試時，測試量值會不斷得到更新，在這一過程中，顯示器會顯示：Ｔｅｓｔ. . . ＭＸ　 ＸＸＸ．Ｘｓ?。兀兀兀耄郑粒谩?ＸＸ．ＸＸｍＡ 漏電流上限（HI—Limit