數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試與可測(cè)性設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)-atpg應(yīng)用(編輯修改稿)
2025-04-21 02:55 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 G，需要在這個(gè)過(guò)程中限制這些管腳，否則FastScan自動(dòng)會(huì)為你限制這些管腳，但可能會(huì)導(dǎo)致時(shí)序沖突。在下面這個(gè)實(shí)例中，設(shè)置了SCAN_ENABLE和TEST_ENABLE的初始值，并定義了周期。procedure test_setup = // at time 0 force the SCAN_ENABLE a value of 0 force SCAN_ENABLE 0 0。 // at time 0 force the TEST_ENABLE a value of 1 force TEST_ENABLE 1 0。 // 表明整個(gè)周期在400ns結(jié)束，即周期為400ns period 400。end。? Shift(required)這個(gè)過(guò)程描述了如何通過(guò)翻轉(zhuǎn)時(shí)鐘，在輸入端輸入值以及采樣輸出端等方式來(lái)將數(shù)據(jù)順著掃描鏈移動(dòng)一個(gè)位置。其數(shù)據(jù)流向如下圖：205。188。1 移位過(guò)程在這個(gè)過(guò)程中，必須要包括force命令，force_sci命令(或者force_sci_equiv命令)和measure_sco命令。在下面這個(gè)實(shí)例中，定義了一個(gè)典型掃描移位操作。由于我們前面定義了時(shí)間刻度為1ns，所以在測(cè)試過(guò)程文件中所有的時(shí)間都以1ns為刻度，即所有時(shí)間數(shù)字都倍乘1ns。procedure shift = // force scan chain input at time 20ns force_sci 20。 // measure scan chain output at time 40ns measure_sco 40。 // pulse the clock force 1 100。 force 0 200。 // a unit of dead time for stability period 400。end。針對(duì)上面實(shí)例的詳細(xì)時(shí)序見(jiàn)下圖：205。188。1 移位過(guò)程時(shí)序顯然在這個(gè)過(guò)程包含了四個(gè)掃描事件：在20ns時(shí)刻輸入，在40ns采樣，時(shí)鐘在100ns變?yōu)?，在200ns變?yōu)?，周期為400ns。圖中引入X是為了表示測(cè)試過(guò)程文件執(zhí)行的順序性，X表示任何一個(gè)時(shí)刻。? Load_Unload(required)這個(gè)過(guò)程描述了如何裝載和卸載掃描鏈。為了掃描鏈順利裝載，必須為移位寄存器保持在一個(gè)合適的狀態(tài)，在這個(gè)狀態(tài)時(shí)鐘、復(fù)位和RAM的寫(xiě)信號(hào)等信號(hào)無(wú)效，而且如果掃描輸出端是雙向端口，則雙向端口處在輸出狀態(tài)。然后可以使用apply shift語(yǔ)句來(lái)指定移位周期數(shù)，這個(gè)數(shù)目等于所有掃描鏈中的最大掃描元件數(shù)目。在下面這個(gè)實(shí)例中，定義了一個(gè)典型的load_unload過(guò)程，其中假設(shè)所有掃描鏈中的最大掃描元件數(shù)目是N。procedure load_unload = // force clocks off at time 0 force SCAN_ENABLE 1 0。 force RESET 1 0。 // force scan clocks on at time 0 force SCAN_CLK 0 0。 // shift data thru each of N cells, N is the maximum scan cell number in all chains apply shift N 200。 period 200。end。注意，為apply語(yǔ)句指定的時(shí)間僅僅是相對(duì)于load_unload過(guò)程的時(shí)刻。因此，為load_unload過(guò)程指定的周期200ns并不包含執(zhí)行內(nèi)嵌apply命令的時(shí)間。實(shí)際的周期是(200+400*N)ns，其詳細(xì)時(shí)間關(guān)系見(jiàn)下圖：205。188。1 load_unload過(guò)程的時(shí)間順序示意圖由于開(kāi)始shift時(shí)刻是200ns，而period也是200ns，因此在shift過(guò)程結(jié)束的同時(shí)load_unload過(guò)程結(jié)束。上面三個(gè)文件可分開(kāi)成三個(gè)測(cè)試過(guò)程文件，也可合成一個(gè)掃描測(cè)試文件。其中在編輯時(shí)需注意各值的設(shè)定和單鏈上最大cell數(shù)的設(shè)定。以上各文件除電路網(wǎng)表外均可以人工編輯生成，也可以運(yùn)行一次DFTadvisor得到模版文件加以修改。有了以上各控制文件就可以用FastScan生成ATPG測(cè)試向量。Design for Test
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1