光纖測試儀器otdr簡介和常規(guī)曲線分析(編輯修改稿)
2025-04-20 07:26 本頁面
【文章內容簡介】 差； 2PT：當所測光纖曲線上有臺階、曲線不良等情況時，必須兩點法測試光纖衰減； LSA：當所測光纖曲線斜率均勻時，用LSA測試光纖衰減； 5 SPLICE：測試接頭損耗原則上采用自動模式，可以減少人為誤差。 （接頭損耗是指光纖連接器、耦合器、熔接點等）十一、OTDR測試介紹： 受試光纖的注入條件： 對于衰減測量，為了減少在光纖輸入端的反射峰，應采用折射率匹配材料（匹配液、匹配膏）等；如用毛細管進行耦合時應用匹配膏，目的是將接續(xù)損耗減至最小，匹配液、匹配膏的折射率要等同于包層的折射率。長度測量， 一般采用兩點法，將受測光纖與尾纖一端相接，尾纖一端連到OTDR上，調整出顯示尾纖和受測光纖的后向散射峰。其曲線見圖被測試光纖長度DB/DIVM/DIV第一個菲涅爾反射峰前沿第二個菲涅爾反射峰前沿尾纖LAB 將光標A置于第一個菲涅爾反射峰前沿，將光標B置于第二個菲涅爾反射峰前沿，光標A與光標B之間的相對距離差就為被測光纖長度。光纖衰減的測試M/DIVDB/DIV第一個菲涅爾反射峰后沿第二個菲涅爾反射峰前沿尾纖BA如圖所示：將光標A置于第一個菲涅爾反射峰后沿，曲線平滑的起點，將光標B置于第二個菲涅爾反射峰前沿，光標A與光標B間顯示衰減系數就是光纖A、B間衰減系數，但非整根光纖的衰減系數。接頭損耗的測量如圖所示：將光標定于曲線的轉折處如圖位置，然后選擇測接頭損耗功能鍵，便可測得接頭損耗。光標曲線異常情況的測量 OTDR可監(jiān)控整個光纖長度上的衰減變化。曲線異常情況應該是指曲線上的臺階、梯形升躍等曲線不良。為了確認異常情況是否對產品質量產生影響，最簡單的方法可采用兩種不同寬度的脈沖對持有懷疑的區(qū)域進行觀察，如果損耗或可視增益形狀隨脈寬不同而變化，則屬故障點應去分析找原因。如不發(fā)生上述變化，應確定是局部的衰減不均勻，這種并非制造工藝造成的少許指標超標，并不影響工程應用；若為光纖局部的衰減不均勻有必要在同一波長作雙向測量，對取得衰減值進行平均，計算損耗（消除明顯可視增益），以消除不均勻性兩側光纖段后向散射性能差異的影
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