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正文內(nèi)容

充電樁性能測試指導(dǎo)書(編輯修改稿)

2025-04-20 07:23 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 60。確定材料組別 確定污染等級; 確定絕緣類型(功能絕緣、基本絕緣、附加絕緣、加強(qiáng)絕緣)2. determine the creepage distance:Determine rms and dc values of operating voltage。Determine material type。 pollution level and insulation type.試驗判據(jù):不同電位的帶電部件之間的爬電距離和電氣間隙,見下表:Clearances and Creepage Distance(mm)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) StandardIEC60335:2001+A1:2004工作電壓 Voltage 125V 250V 125V 250V 電氣間隙ClearancesFunctional insulation Basic insulation Reinforced insulation 爬電距離Creepage DistanceFunction insulation Basic insulation Reinforced insulation 注:紅色部分最為嚴(yán)酷,如果無法確認(rèn)標(biāo)準(zhǔn),則以紅色值要求 Notes: meet with the red if the standard cannot be identified.試驗?zāi)康模簛頇z驗超高壓電氣設(shè)備在雷過電壓或操作過電壓作用下的絕緣性能。計算所用沖擊電壓發(fā)生器的負(fù)載能力。改變沖擊電壓發(fā)生器的級數(shù)、試品電容,觀察沖擊電壓波形的變化。測量并計算沖擊電壓發(fā)生器的使用效率。用升降法確定被試品羊角間隙的50%放電電壓。用多級法確定被試品羊角間隙的50%放電電壓。(或者用簡單法即:針對某試品在某確定電壓下沖擊十次中有4~6次放電即可稱為該電壓是該試品的50%放電電壓)。樣品種類(Sample type):部品 ponents樣品數(shù)量(Sample size):2PCS樣品是否可重復(fù)利用( If Samples can be reused): NO實驗設(shè)備(equipment):沖擊電壓發(fā)生器本體、直流充電電源、分壓器和控制系統(tǒng)。試驗方法(Test method): 以預(yù)期的50%%~3%作為電壓級差對被試品分級施加沖擊電壓。每級施加電壓10次(次數(shù)增多可提高精度,但不必多于20次)。至少要加4級電壓,要求在最低一級電壓時放電次數(shù)近于零,而在最高一級電壓時,近于全部放電。求出每級電壓下的放電次數(shù)與施加次數(shù)之比P(即放電頻度)后,將其按電壓值標(biāo)于正態(tài)概率紙上,繪出擬合曲線P=f(U),在此曲線上對應(yīng)于P=%放電電壓?!躊≤≤P≤。具體實施方法如下:升降法:先估計50%放電電壓預(yù)期值Uk。第一次施加的沖擊電壓值Uk ,如未引起放電,則下次施加電壓應(yīng)為Uk+ΔU。此處ΔU=(~3)%Uk。如Uk已引起放電,則下次施加電壓應(yīng)為UkΔU。以后加壓都按下述規(guī)律:如上次加壓已引起放電,則本次施加的電壓就要比上次電壓低ΔU;如上次加壓未引起放電,則本次施加的電壓就要比上次電壓高ΔU。這樣反復(fù)升降加壓到足夠次數(shù)后,分別計算出各級電壓Ui下的加壓次數(shù)ni,按式(331)求出50%放電電壓(331)Σni應(yīng)≥20,但一般不必40。為減小由于Uk取的不當(dāng)而引起的誤差,至少最初兩次加壓不算。在任何情況下,所取的第一次電壓值與U50相差應(yīng)不大于2ΔU。此外,相鄰兩次加壓的時間間隔應(yīng)不小于30秒,這是考慮到被試品絕緣強(qiáng)度恢復(fù)的需要。試驗判據(jù)(criterion):匯總沖擊機(jī)本體不同級數(shù)輸出電壓和不同電容量試品時沖擊機(jī)的輸出電壓波形,并分析波形不同的原因。給出修正波形的方法。將多級法和升降法的實驗數(shù)據(jù)整理記錄到設(shè)計的表格內(nèi)。根據(jù)實驗數(shù)據(jù)確定50%放電電壓。回答思考題。試驗?zāi)康模罕緲?biāo)準(zhǔn)的目的是建立一個共同的基準(zhǔn),以評價電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌(沖擊)時的性能。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一個一致的試驗方法,以評定設(shè)備或系統(tǒng)對規(guī)定現(xiàn)象的抗擾度。樣品種類(Sample type):部品 ponents樣品數(shù)量(Sample size):2PCS樣品是否可重復(fù)利用( If Samples can be reused): NO實驗設(shè)備(equipment):規(guī)定了兩種類型的組合波信號發(fā)生器,并根據(jù)受試端口的類型,有各自特殊的應(yīng)用。對于連接到對稱通信線的端口,應(yīng)使用10/700μs的組合波信號發(fā)生器。對于其他情況,特別是連接到電源線和短距離信號互連線的端口。 試驗方法(Test method): 試驗之前,應(yīng)對信號發(fā)生器和耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行校驗。性能檢查對于浪涌脈沖及其電壓和/或電流的存在通常是有限的。 試驗應(yīng)根據(jù)試驗方案進(jìn)行,方案中應(yīng)規(guī)定試驗配置,應(yīng)包含如下內(nèi)容: — 試驗等級(電壓); — 浪涌次數(shù); 除非相關(guān)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)有規(guī)定,施加在直流電源端和互連線上的浪涌脈沖次數(shù)應(yīng)為正負(fù)極性各五次,對交流電源端口,應(yīng)分別在0176。、90176。、180176。、270176。相位施加正負(fù)極性各五次的浪涌脈沖; — 連續(xù)脈沖間的時間間隔:1分鐘或更短; — EUT的典型工作狀態(tài); — 浪涌施加的位置。 電源端口(直流或交流)可能是輸入或輸出端口。 注:推薦將浪涌施加于那些容易將浪涌傳導(dǎo)入EUT內(nèi)部的輸出端口(如:具有大功率損耗的開關(guān)負(fù)載)。 如次級電路(與交流電源端口隔離)不會直接遭受瞬態(tài)高壓時(例如:可靠接地、經(jīng)過電容濾波的直流次級電路,峰峰值的紋波不及支流元件產(chǎn)生的10%)則低電壓(小于等于60V)的直流輸入/輸出端可不進(jìn)行浪涌試驗。 在有幾個相同線路的情況下,只需選擇一定數(shù)量的線路進(jìn)行典型測量。 如果試驗中浪涌的重復(fù)率比1/min更短使EUT發(fā)生故障,而以1/min重復(fù)率進(jìn)行測試時,EUT工作正常,通常使用1/min的重復(fù)率進(jìn)行測試。 注2 如果產(chǎn)品合適,產(chǎn)品委員會可能選擇不同相位角、或者增加、減少每相的浪涌次數(shù)。 注3 對常用的浪涌保護(hù)裝置,盡管它們的峰值電壓和峰值功率能經(jīng)受大電流,但是它們的平均功率較低。因此,兩次浪涌的時間間隔取決于EUT內(nèi)置的保護(hù)裝置。 。 當(dāng)進(jìn)行線地測試時,如果沒有其它規(guī)定,應(yīng)依次進(jìn)行測試。 試驗程序應(yīng)考慮受試設(shè)備的非線性電流電壓特性,因此,試驗電壓只能由低等級逐步增加到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或試驗方案/報告中規(guī)定的試驗等級而不能超過它,所有較低等級(包括選擇的試驗等級)均應(yīng)滿足要求。 對第二級保護(hù)試驗時,信號發(fā)生器的輸出電壓應(yīng)增加到第一級保護(hù)的最低電壓擊穿值(讓通值)。 如果沒有實際工作信號源提供給EUT,可以對其模擬。 對于驗收試驗,應(yīng)使用以前未曾加過浪涌的設(shè)備,否則在試驗前應(yīng)替換保護(hù)裝置。 試驗判據(jù)(criterion):a) 功能或性能暫時喪失或降低,但在騷擾停止后能自行恢復(fù),不需要操作者干預(yù); b) 功能或性能暫時喪失或降低,但需操作人員干預(yù)才能恢復(fù); c) 因設(shè)備硬件或軟件損壞,或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。 Voltage Insulation Resistance Test 試驗?zāi)康模簻y量電器設(shè)備的絕緣電阻樣品種類(Sample type):部品 ponents樣品數(shù)量(Sample size):2PCS樣品是否可重復(fù)利用( If Samples can be reused): NO實驗設(shè)備(equipment):絕緣電阻表 試驗方法(Test method): 連接到測試儀, 測試電壓從零逐漸上升到最大值(通常情況下是500 V dc)。一旦電壓到達(dá)最大值, 保持一個時間 (通常是5 秒) ,然后記錄電阻值。測量值應(yīng)該是非常高的(通常在兆歐級) 。絕緣電阻的測量在某些標(biāo)準(zhǔn)中是強(qiáng)制要求的,如IEC609501 和UL6500。 耐熱、耐燃Thermal endurance amp。Glowwire Ignitability Test試驗?zāi)康模簷z測非金屬材料的耐熱耐燃性能對于非金屬材料制成的外部零件、用來支撐帶電部件(包括載流連接件)的絕緣材料零件以及提供附加絕緣或加強(qiáng)絕緣的熱塑材料零件,須要具備一定的耐熱和耐燃性能。樣品種類(Sample type):部品 ponents樣品數(shù)量(Sample size):2PCS樣品是否可重復(fù)利用( If Samples can be reused): NO實驗設(shè)備(equipment):灼熱絲試驗機(jī)、酒精燈、球壓試驗儀、烘箱 glow wire testing machine, alcohol lamp, Ball pressure tester試驗方法(Test method):耐熱性:樣品類型:a) 產(chǎn)品的外表面(最終產(chǎn)品)b) 用作產(chǎn)品的附加絕緣和加強(qiáng)絕緣的材料.c) 支撐帶電部件的絕緣材料 ——對外部零件及絕緣材料:75℃ ——對支撐帶電部件的零件為:125℃Thermal endurance: ——external parts and insulating materials:75℃ ——live parts:125℃耐燃性:樣品類型:器具連接件的絕緣和PCB基材等 ——器具連接件(≤,或≤):650℃177。10℃ ——器具連接件( ,或 ):750℃177。10℃ ——其它非金屬器件: 550℃177。2℃ ,并且要求材料等級HB40或FH3(依據(jù)國標(biāo)GBT )Glowwire ignitability: ——apparatus connected parts(≤ unattended,≤ attended): 650℃177。10℃ ——apparatus connected parts( unattended, attended): 750℃177。10℃ ——nonmetallic devices:550℃177。10℃ ,F(xiàn)lame level is HB40 or FH3 注1:元件的觸點如開關(guān)觸點被認(rèn)為是連接件。 注2:灼熱絲頂端應(yīng)施加于連接件附近的部件。Note 1: ponent contacts such as switch contact is considered as connection.Note 2: the top of glow wire should be placed to ponents nearby connections.試驗判據(jù)(criterion):耐熱試驗:控制板主要非金屬材料進(jìn)行125℃球壓試驗,壓痕直徑應(yīng)<2mm。耐燃試驗:在給定溫度的灼熱絲接觸30S,無火焰或不燃燒。Thermal endurance test: the main nonmetallic materials should have 125℃ ball pressure test. The indentation diameter should be less than 2mm.Glowwire ignitability: the sample should have no flame or not glowing during the 30 seconds contact with glowing wire under determined temperature.術(shù)語可燃指數(shù)GWFI 1. 連續(xù)3次試驗中,灼熱絲移去30S內(nèi),試驗樣品的火焰或灼熱熄滅,且置于試驗樣品下方鋪底層的絹紙未起燃的最高溫度2. 記錄時,GWFI850/ ,試驗溫度為850℃起燃溫度GWIT 連續(xù)3次試驗均未引起試驗樣品起燃的灼熱絲頂部最高溫度+25K 環(huán)境適應(yīng)性試驗 Environmental adaptability Test 冷熱沖擊 Thermal Cycle Reliability Audit Test試驗?zāi)康模═est purpose):檢測產(chǎn)品的焊接質(zhì)量及材料耐溫度瞬變的能力 test the welding quality and the ability of resistant to temperature transient.用來測試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu),在瞬間經(jīng)歷高溫及低溫的劇烈變化,因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。樣品數(shù)量(Sample size):2PCS實驗設(shè)備(Experimental equipment):冷熱沖擊箱 Programmable Thermal Shock chamber試驗方法步驟:1. 控制板不通電,放置于冷熱沖擊箱內(nèi),并進(jìn)行如下設(shè)置:在85℃(177。2℃)時保持1h,30s內(nèi)降到25℃(177。2℃)并保持1h,然后在30s內(nèi)升至85℃,共進(jìn)行50個循環(huán)。 。 ,再將控制板從溫控室中移出,放置常溫環(huán)境下恢復(fù)1小時后進(jìn)行測量。,試驗曲線。Test procedure:1 The samples are placed in the chamber and cycled for 50 thermal cycles. 2 run the Programmable Thermal Shock chamber.3 At the end of the test the boards are tested on the FCT. 30s 1h 30s 30s252085t(h)temp.(℃)1h1h010試驗判據(jù)(criterion):試驗后,控制板外觀及
點擊復(fù)制文檔內(nèi)容
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