【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 超聲檢測(cè)的受壓部件焊接接頭包括 D ，且筒體或封頭名義厚度大于65mm的D類焊接接頭/3NB/，承壓設(shè)備超聲檢測(cè)時(shí)，(D)。A、掃查靈敏度都高于基準(zhǔn)靈敏度； B、掃查靈敏度比基準(zhǔn)靈敏度高6dB；C、掃查靈敏度都等于基準(zhǔn)靈敏度；D、掃查靈敏度應(yīng)根據(jù)表面狀況、缺陷檢測(cè)要求及探頭類型等適當(dāng)提高dB數(shù)（增益）。3NB/，關(guān)于檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)復(fù)核的說法，錯(cuò)誤的是:(B)A、掃描量程復(fù)核時(shí)，掃描線上任意一點(diǎn)的偏移不得超過掃描線該點(diǎn)讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%；B、掃查靈敏度復(fù)核時(shí)，距波曲線上任何一點(diǎn)回波幅度的變化都不得達(dá)到2dB；C、掃查靈敏度復(fù)核時(shí)，若距波曲線上任何一點(diǎn)回波幅度的變化≥2dB，則上次復(fù)核以來所有檢測(cè)部位都應(yīng)進(jìn)行復(fù)驗(yàn)；D、掃查靈敏度復(fù)核時(shí)，若距波曲線上任何一點(diǎn)回波幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。3NB/，錯(cuò)誤的是:(D)A、對(duì)比試塊與被檢件或材料化學(xué)成份相似；B、試塊的外形尺寸能代表被檢工件的特征；C、對(duì)比試塊的厚度與被檢工件厚度相對(duì)應(yīng)，涉及到不同工件厚度對(duì)接接頭檢測(cè)，試塊厚度選擇應(yīng)由其較大工件厚度確定；D、對(duì)比試塊用于儀器探頭性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)3NB/，下列哪種試塊屬于標(biāo)準(zhǔn)試塊？(D)A、 CSKⅡA、CSKⅣA； B、GSGSGS3和GS4；C、CSCS3； D、CSKIA、DZⅠ、DBPZ20－23NB/，檢測(cè)厚度為20mm的鋼板，應(yīng)選用的探頭是:(B)A； B、4－5MHz雙晶直探頭；C、4－5MHz單晶直探頭； D、5MHz單晶直探頭3NB/，檢測(cè)厚度60mm的鋼板，應(yīng)采用的試塊是:(B)A、 階梯平底試塊； B、φ5平底孔試塊； C、CS2； D、CS33NB/，鋼板縱波檢測(cè)所用的掃查方式為:(D)A、全面掃查； B、列線掃查； C、格子線掃查；D、中部區(qū)域列線掃查或格子線掃查加坡口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)100%掃查3NB/，板材超聲檢測(cè)判定缺陷的三種情況是:(B)A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距離－波幅曲線；B、雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于顯示屏高度的50%；C、底面第一次反射波B1波幅低于顯示屏高度的50%，即B1＜50%； D、以上都是3NB/，厚度30mm鍛件超聲檢測(cè)，可選用的探頭是:(B)A、－1MHz雙晶直探頭； B、1－5MHz雙晶直探頭；C； D、5MHz單晶直探頭NB/，檢測(cè)厚度40mm的鍛件，應(yīng)采用的試塊是:(D)A 、DZⅠ； B 、DBP； C、CS2和CS4； D、CS3和CS44NB/，筒形鍛件超聲檢測(cè)應(yīng)采用的方法是:(D)A、外圓面徑向縱波探測(cè)； B、外圓面周向橫波探測(cè)；C、外圓面軸向橫波探測(cè)； D、以上都是。4NB/，由缺陷引起的底波降低量:(D)A、應(yīng)在缺陷反射波幅最高處測(cè)試； B、僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺陷；C、質(zhì)量評(píng)級(jí)時(shí)作為獨(dú)立的等級(jí)使用； D、以上都是。4NB/，以下關(guān)于鋼鍛件橫波檢測(cè)的敘述，錯(cuò)誤的是:(B)A、ⅹ12K1橫波斜探頭； B、人工反射體可以采用邊角反射等其它形式；C、以鍛件內(nèi)外表面V型槽的距離－波幅曲線作為基準(zhǔn)靈敏度；D、波幅在距離波幅曲線（基準(zhǔn)線）50～100%的缺陷按缺陷指示長(zhǎng)度進(jìn)行分級(jí)。4按照NB/，復(fù)合板超聲檢測(cè)是為了探測(cè):(C)A、分層； B、夾渣； C、未結(jié)合； D、裂紋4按照NB/，以下關(guān)于復(fù)合板超聲檢測(cè)的敘述中，錯(cuò)誤的是: BA、用于復(fù)合板復(fù)合面結(jié)合狀態(tài)的檢測(cè)；B、在復(fù)合板中部區(qū)域，探頭延垂直于基材壓延方向，間距不大于100mm的平行線掃查；C、單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度小于25mm可不作記錄；D、未結(jié)合區(qū)定義是：B15%示波屏滿刻度，且F1≥5%4NB/，無縫鋼管超聲檢測(cè)對(duì)比試樣上的人工缺陷為: DA、V形槽 B、U形槽；C、矩形槽；D、 V形槽或矩形槽4NB/，無縫鋼管液浸法超聲檢測(cè)使用的探頭是:CA、線聚焦探頭；B、點(diǎn)聚焦探頭；C、A或B；D、橫波斜探頭4NB/，無縫鋼管超聲波檢測(cè)掃查靈敏度: B A、等于基準(zhǔn)靈敏度；B、比基準(zhǔn)靈敏度低6dB；C、比基準(zhǔn)靈敏度高6dB；D、比基準(zhǔn)靈敏度高12dB4NB/，下面關(guān)于鋼螺栓坯件超聲檢測(cè)的敘述，錯(cuò)誤的是: DA、適用于直徑大于M36的鋼螺栓坯件； B、采用2MHz—5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭；C、奧氏體鋼螺栓件超聲檢測(cè)方法參照本方法進(jìn)行； D、使用CS3和CS2試塊。50、NB/，母材厚度40mm、焊縫寬度25mm的對(duì)接焊接接頭，其檢測(cè)區(qū)寬度為: CA、25mm； B、37mm； C、45mm； D、49mm5NB/，采用K2探頭檢測(cè)厚度30mm的對(duì)接焊接接頭，探頭移動(dòng)區(qū)為: AA、150mm； B、90mm； C、120mm； D、100mm。5NB/，C級(jí)檢測(cè)與B級(jí)檢測(cè)的不同之處有:D A、要求焊縫余高磨平； B、要求橫向缺陷檢測(cè)； C、要求母材檢測(cè)； D、A和C。5NB/，下列關(guān)于母材檢測(cè)的敘述中錯(cuò)誤的是: D A、C級(jí)檢測(cè)或必要時(shí)要進(jìn)行母材檢測(cè)； B、母材檢測(cè)目的是檢查斜探頭移動(dòng)區(qū)是否存在分層或其它缺陷；C、母材檢測(cè)不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)； D、檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)的當(dāng)量大于等于φ2mm的缺陷作標(biāo)記并記錄。5NB/，對(duì)接焊接接頭評(píng)定質(zhì)量等級(jí)時(shí)，若母材厚度不同，(A)。A、取薄板側(cè)厚度值； B、取厚板側(cè)厚度值； C、取板厚平均值； D、以上都不對(duì)5NB/，用K2探頭檢測(cè)壁厚為16mm的管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^，探頭移動(dòng)區(qū)的長(zhǎng)度為: A A、96mm； B、48mm； C、128mm； D、80mm。5NB/，下面有關(guān)管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測(cè)的敘述，錯(cuò)誤的是: D A、要求一次波至少掃查到焊接接頭根部； B、一般要求從對(duì)接焊接接頭兩側(cè)進(jìn)行檢測(cè)；C、確因條件限制只能從焊接接頭一側(cè)檢測(cè)時(shí)，應(yīng)采用兩種或兩種以上不同k值探頭進(jìn)行檢測(cè)；D、除進(jìn)行縱向缺陷檢測(cè)外，還應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷檢測(cè)。5NB/，檢測(cè)在用螺栓螺紋根部裂紋的方法是: C A、采用2O－；B；C、A和B； D、直探頭螺栓端部軸向檢測(cè)，無螺紋部位徑向檢測(cè)。5NB/，在用承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)時(shí)，對(duì)超標(biāo)缺陷和判定為危害性的缺陷，應(yīng)測(cè)試其: D A、回波幅度和指示長(zhǎng)度； B、埋藏深度和缺陷位置； C、缺陷自身高度； D、以上都是5NB/，在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)缺陷類型識(shí)別通常應(yīng)確定: B A、裂紋、未熔合和未焊透； B、點(diǎn)狀缺陷、線狀缺陷、或面狀缺陷；C、縮孔、疏松和裂紋； D、白點(diǎn)、折疊和夾渣60、NB/，缺陷自身高度的測(cè)定方法不包括: C A、－6dB法； B、端部最大回波法； C、－10dB法； D、端點(diǎn)衍射波法三、TOFD檢測(cè)技術(shù)1）、問答題？ 答：衍射波的特性有：（1）與反射波相比，衍射波沒有明