[工學]薄透鏡焦距的測定(編輯修改稿)
2025-03-16 14:27 本頁面
【文章內容簡介】 位移法、二次成像法或貝塞爾法 ◆優(yōu)點 ：它可以準確測量 L、的值，從而避免了測量 U 的值時，難于找準凸透鏡光心位置所造成的誤差。 、 Vlvuuvf??39。A39。B1L物屏 AB1f 2f2L39。39。A39。39。BVU 為凹透鏡的虛物，物距為負值 39。39。BA實驗原理 4. 凹透鏡焦距的測定 (組合法 ) 1. 光學元件 同軸等高 的調節(jié) 薄透鏡成像公式僅在近軸光線的條件下成立 。 對幾個光學元件組成的光路 ,應使各光學元件的主光軸重合 ,才能滿足近軸光線的要求 。 習慣上把各光學元件主光軸的重合稱為同軸等高 。 同軸等高 是指各元件的光心均位于同一光軸上 ， 且光軸與光具座平行 。 為了獲得準確測量 ， 必須進行同軸等高的調節(jié) 。 實驗內容 1. 光學元件 同軸等高 的調節(jié) （ 1） 粗調： 把光源、物屏、透鏡和像屏放置于光具座上，將它們靠攏，調節(jié)高低、左右方位，使各光學元件的中心大致在一條與導軌平行的直線上，同時使物屏、透鏡、像屏的平面互相平行，且垂直于導軌。 實驗內容 1. 光學元件 同軸等高 的調節(jié) （ 1） 細調： 根據(jù)二次成像規(guī)律，首先取箭矢物 AB到光屏 P的距離為L4f后，兩者固定。 凸透鏡放在物與光屏間，移動凸透鏡使光屏上看到放大和縮小的像，調節(jié)各光學器件支架底座位移調節(jié)螺釘及支架的高低位置，使光屏上看到放大和縮小像的中心點重合。 （大像追小像） 同理調節(jié)凹透鏡共軸，同軸等高的調節(jié)完成。 實驗內容 光源 物屏 透鏡 像屏 主光軸 如大像中心偏上（下），透鏡光心就偏上（下）。 自準直法測凸透鏡焦距： 在物屏平面鏡之間移動凸透鏡，直到在物屏上找到等大倒立聚焦清晰的像，測 五次 。 A B 39。A39。BfF0x1x物屏 自準直法測凸透鏡焦距： 在實際測量時，由于對成像清晰程度的判斷總有一定的誤差，故采用 左右逼近法 讀數(shù)。 先使透鏡從左向右移動，當像剛清晰時，記下透鏡位置的讀數(shù)。繼續(xù)向右移動使像由清晰變模糊，再使透鏡從右向左移動，當像剛清晰時再記下讀數(shù)，取這兩次讀數(shù)的平均值作為成像清晰時凸透鏡的位置。 數(shù)據(jù)記錄 —— 自準法 次 數(shù) 物體位置 凸透鏡位置 左 右 平均 1 2 3 4 5 平均值 0x1x10if x x?? if?(單位 cm) 數(shù)據(jù)處理 —— 自準法 ???niifnf11? ? 21 1 . 1 4 5( 1 )n
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