電子系統(tǒng)可測(cè)性建模和分析軟件設(shè)計(jì)學(xué)位論文開(kāi)題報(bào)告表(編輯修改稿)
2025-02-17 16:45 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 中期,我國(guó)也開(kāi)始對(duì)軍用電子系統(tǒng)提出了可測(cè)性設(shè)計(jì)要求。1990年4月發(fā)布了航標(biāo)HB643790《電子系統(tǒng)和設(shè)備的可測(cè)試性大綱》,1995年10月發(fā)布國(guó)軍標(biāo)GJB254795《裝備測(cè)試性大綱》。目前，復(fù)雜電子系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)與分析逐漸被高等院校、研究所、電子系統(tǒng)研制基地等單位重視，如國(guó)防科大曾芷德教授、北航可靠性工程研究所田仲研究員、電子科大陳光禹教授、中國(guó)航空無(wú)線電電子研究所韓國(guó)泰研究員、信息產(chǎn)業(yè)部電子第十研究所張玲工程師等專家、學(xué)者、工程師等根據(jù)各自的領(lǐng)域都提出了電子系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)與分析的重要性[37]。電子科技大學(xué)在為某基地進(jìn)行“XX”型號(hào)電子裝備自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)研制時(shí)，基地的專家迫切希望我們能為他們提供復(fù)雜電子系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)與仿真平臺(tái)。他們指出，倘若測(cè)試性設(shè)計(jì)不完善,機(jī)載設(shè)備維修的困難會(huì)大大增加,維修時(shí)間與費(fèi)用會(huì)大大上升,三級(jí)維修體制的基礎(chǔ)就會(huì)動(dòng)搖，武器系統(tǒng)的效能就不能有效地發(fā)揮。 但是，現(xiàn)在國(guó)內(nèi)測(cè)試性技術(shù)知識(shí)尚不夠普及，國(guó)內(nèi)關(guān)于可測(cè)性方面的論文與著作，主要是關(guān)于集成電路方面的可測(cè)性設(shè)計(jì)，討論復(fù)雜電子系統(tǒng)系統(tǒng)級(jí)可測(cè)性分析與設(shè)計(jì)的文獻(xiàn)較少，更沒(méi)有成熟的計(jì)算機(jī)輔助建模與仿真分析軟件工具。 傳統(tǒng)的電子系統(tǒng)可測(cè)性分析建模方法采用直接程序設(shè)計(jì)，這樣進(jìn)行仿真建模的效率低、周期長(zhǎng)、對(duì)建模人員、最終用戶的編程知識(shí)水平要求高、模型調(diào)試復(fù)雜等，這是導(dǎo)致可測(cè)性設(shè)計(jì)及分析技術(shù)在復(fù)雜電子系統(tǒng)應(yīng)用進(jìn)展緩慢非常重要的原因，可視化圖形建模技術(shù)可在一定程度上較好的解決上述問(wèn)題。3本項(xiàng)目的研究意義開(kāi)發(fā)具有自主知識(shí)版權(quán)的復(fù)雜電子系統(tǒng)可測(cè)性建模與分析軟件系統(tǒng)——通過(guò)對(duì)可測(cè)性建模與最優(yōu)測(cè)試方法關(guān)鍵技術(shù)的研究，可以開(kāi)發(fā)出具有自主知識(shí)版權(quán)的復(fù)雜電子系統(tǒng)可測(cè)性建模與分析軟件平臺(tái)。既為國(guó)家節(jié)約了大量的外匯（國(guó)外單個(gè)TEAMS模塊也得需要48萬(wàn)美元），同時(shí)國(guó)家的軍事機(jī)密以及重大商業(yè)秘密不被國(guó)外機(jī)構(gòu)所掌握（系統(tǒng)性可測(cè)性主要應(yīng)用在航空航天、國(guó)防軍事、計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)、核工業(yè)、汽車(chē)業(yè)等），有利于國(guó)家安全。對(duì)其它復(fù)雜工程系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)與分析也具有良好的示范作用——雖然本項(xiàng)目主要以復(fù)雜電子系統(tǒng)為研究對(duì)象，但是其中的可測(cè)性建模與分析方法經(jīng)適當(dāng)調(diào)整也適用于其他復(fù)雜工程系統(tǒng)（如航空航天、電力系統(tǒng)、汽車(chē)等）的可測(cè)性分析。4主要參考文獻(xiàn)[1] V. Raghavan, M. Shakeri, K. R. Pattipati. Optimal and near optimal test sequencing algorithms with realistic test models. IEEE Trans. on SMC. 1999, 29(1): 11–27[2] M. Shakeri, V. Raghavan, K. R. Pattipati. Sequential Testing Algorithms for Multiple Fault Diagnosis. IEEE Trans. on SMC. 2000, 30(1): 114[3] 曲東才. 系統(tǒng)的可測(cè)試性及對(duì)航空武器系統(tǒng)的影響. 國(guó)外電子測(cè)量技術(shù). 1996, (4): 3036[4] 王立梅, 王曉峰, 于曉洋. 航空電子系統(tǒng)的測(cè)試性及仿真研究. 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境. 2003, (4): 1218[5] 韓國(guó)泰. 改進(jìn)目前測(cè)試性設(shè)計(jì)的若干建議. 測(cè)控技術(shù). 2003, 22(11): 712[6] 田仲,石君友. 系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證. 北京: 北京航空航天大學(xué)出版社, 2003.[7] :航空工業(yè)出版社,19962三、學(xué)位論文研究計(jì)劃及預(yù)期目標(biāo)，以及擬采取的主要理論、技術(shù)路線和實(shí)施方案 擬解決的最終目標(biāo)是設(shè)計(jì)電子系統(tǒng)可測(cè)性建模與分析軟件。首先要解決的是怎樣獲得模型？得到模型后，建立可視化建模環(huán)境。另外，根據(jù)對(duì)測(cè)試方法進(jìn)行評(píng)價(jià)的指標(biāo)體系，建立指標(biāo)分析模塊。并建立可測(cè)性優(yōu)化設(shè)計(jì)模塊，使測(cè)試性能進(jìn)一步完備。其中擬解決的關(guān)鍵問(wèn)題是可視化圖形建模環(huán)境。因?yàn)閭鹘y(tǒng)的建模方法采用直接程序設(shè)計(jì)，這樣進(jìn)行仿真建模的效率低、
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