數(shù)字散斑溫度測試畢業(yè)設(shè)計畢業(yè)論文開題報告(編輯修改稿)
2025-02-17 16:35 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 以推廣，數(shù)字圖象列陣也逐步發(fā)展到今天的512x512或1024x1024，灰度等級發(fā)展到256，而且以微機和圖像板取代了原始的大型數(shù)字圖象處理系統(tǒng)。目前，該技術(shù)逐步代替了以往的用電子處理方法的電子散斑干涉法。但在習慣上，人們往往將用電子處理方法實現(xiàn)的電子散斑干涉法(ESPI)和用數(shù)字處理方法實現(xiàn)[11]的數(shù)字散斑干涉法(DSPI)統(tǒng)稱為電子散斑干涉法[12](ESPI)。 我國對數(shù)字散斑干涉技術(shù)的研究和應(yīng)用起步比較晚，所以在技術(shù)和產(chǎn)品化方面處于學習和創(chuàng)新的初步發(fā)展階段，經(jīng)過不懈努力，也取得了一定的研究成果。例如，八十年代末，天津大學秦玉文[13]教授首次提出使用渥爾德棱鏡作錯位鏡，解決了雙像光強不等的問題。之后又把視頻技術(shù)、計算機技術(shù)引入錯位散斑干涉術(shù)，從而形成了數(shù)字錯位散斑干涉術(shù)。1996年，天津大學的佟景偉、張東升[14][15]等人對撞擊載荷下數(shù)字散斑離面位移的測試進行了研究(，)，實現(xiàn)了撞擊載荷下的數(shù)字散斑干涉，使條紋質(zhì)量大大提高等。經(jīng)過近幾十年的研究和發(fā)展，數(shù)字散斑干涉測量技術(shù)已經(jīng)成為一種比較成熟的高精度無損測量技術(shù)，廣泛應(yīng)用于振動（）、位移、形變、斷裂及粗糙度等的測量，成為當前國際上的熱門研究課題之一。 數(shù)字散斑干涉系統(tǒng)示意圖 測量離面位移DSPI 系統(tǒng)示意圖 測量面內(nèi)位移DSPI系統(tǒng)示意圖 散斑干涉法測量振動示意圖 數(shù)字散斑干涉技術(shù)的前景隨著現(xiàn)代社會的迅速發(fā)展, 要求散斑計量技術(shù)更趨向于實用化。要解決這一問題, 就必須解決檢測系統(tǒng)的實時性好、小型化、提高抗干擾能力等, 由此散斑計量技術(shù)又發(fā)展了新的技術(shù)。從80 年代初, 美國貝爾實驗室的Dudderar 等將光纖成功用于全息測量中,到現(xiàn)在, 各種光纖和傳像束在ESPI/ DSPI 系統(tǒng)中的應(yīng)用進行了理論和實驗研究, 獲得了較好的效果。該技術(shù)簡化了光路、縮小了體積、耐腐蝕、可用于惡劣環(huán)境[16]。目前, 半導(dǎo)體激光器與光纖的耦合效率問題是發(fā)展的關(guān)鍵,相信在未來的幾年, 問題會得到解決。數(shù)字散斑相關(guān)測量方法是80 年代末由日本Yamaguchi 和美國南卡羅來納大學的Panson 等人獨立提出的, 是一種計算機輔助的測量方法, 具有光路簡單、對測量環(huán)境要求低、自動進行數(shù)據(jù)處理等優(yōu)點。但大量繁瑣重復(fù)的相關(guān)運算, 使得計算量非常龐大、處理數(shù)據(jù)的過程相當?shù)木徛? 同時環(huán)境、光源等因素也影響了相關(guān)搜索的準確性。但隨著算法的發(fā)展、簡化, 和計算機日新月異的更新, 這些問題會逐漸得到解決。同時, 伴隨著現(xiàn)代科技的不斷進步, 新思想、新領(lǐng)域的不斷涌現(xiàn), 目前, 還有計算機輔助散斑干涉計量術(shù)、光柵大錯位數(shù)字散斑術(shù)[17]等具有不同優(yōu)點, 不同應(yīng)用場合的散斑干涉計量技術(shù)涌現(xiàn)。散斑干涉計量技術(shù)在很多應(yīng)用中有著其它方法不可比擬的優(yōu)勢, 除被廣泛的應(yīng)用于工業(yè)測量中, 還在汽車、天文、防偽、信息處理、表面粗糙度、三維面型測量[18]等方面都有所建樹。 本課題研究意義溫度的改變會引起物體自身的微小變形，這種形變量與溫度之間存在著確定的函數(shù)關(guān)
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