掃描電鏡seppt課件(編輯修改稿)
2025-02-10 17:19 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 備 化學(xué)刻蝕法 離子刻蝕 金屬涂層法 實(shí)驗(yàn)部分 金屬涂層法 應(yīng)用對(duì)象是 導(dǎo)電性較差 的樣品，如高聚物材料，在進(jìn)行掃描電子顯微鏡觀察之前必須使樣品表面蒸發(fā)一層導(dǎo)電體，目的在于消除荷電現(xiàn)象， 提高 樣品表面 二次電子 的 激發(fā)量 ，并減小樣品的輻照損傷。 應(yīng)用對(duì)象是包含 結(jié)晶相 和 非晶相 兩個(gè)組成部分的樣品。它是利用 離子轟擊 樣品表而時(shí)，由于兩相被離子作用的程度不同，而暴露出 晶區(qū) 的細(xì)微結(jié)構(gòu)。 離子刻蝕 噴金裝置 化學(xué)刻蝕法 應(yīng)用對(duì)象同于離子刻蝕法，包括 溶劑 和 酸刻蝕 兩種方法。 酸刻蝕是利用某些 氧化性較強(qiáng) 的溶液，如發(fā)煙硝酸、高錳酸鉀等處理樣品表面，使其個(gè) 一相氧化斷鏈 而溶解，而暴露出 晶相 的結(jié)構(gòu)。 溶劑刻蝕是用某些溶劑選擇 溶解 高聚物材料中的 一個(gè)相 ，而暴露出另一相的結(jié)構(gòu)。 ◆ ◆ ◆ SEM VS TEM 優(yōu)點(diǎn) ★ 焦深大，圖像富有立體感，特別適合于表面形貌的研究 ★放大倍數(shù)范圍廣，從 20倍到 50萬(wàn)倍，幾乎覆蓋了光學(xué)顯微鏡和 TEM的范圍 ★分辨率高，表面掃描二次電子像的分辨率已達(dá)100埃，透射電鏡可達(dá) 5埃 ★制樣簡(jiǎn)單，樣品的電子損傷小 這些方面優(yōu)于 TEM，所以 SEM成為高分子材料 常用的重要剖析手段 三、 SEM在高分子研究中的應(yīng)用 近些年來(lái)，電鏡的分辨率已達(dá)到 ，電鏡能夠直接觀察分子和一些原子。 但一般來(lái)說(shuō)，對(duì)于高分子試樣，只能達(dá)到 ，只有少數(shù)高分于試樣能夠得到高分辨率像。這是由高分子材料的特點(diǎn)決定的，在高
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