【文章內(nèi)容簡介】
B 計 算控制限 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ﹡ ﹡ ﹡ ﹡ ﹡ A2 ﹡ ﹡ ﹡ ﹡ ﹡式中: D4 、 D 3 、 A 2 為常數(shù),它們隨樣本容量的不同而不同 C階段 過程控制解釋 C 分析 極 差 圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) C 識 別 并標(biāo) 注特殊原因 (極 差 圖 ) C 重新 計 算控制界限 C 分析均值 圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的 點(diǎn) 鏈 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 超出控制限的 點(diǎn) 鏈 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 C 識 別 并標(biāo) 注特殊原因 (均值 圖 ) C 重新 計 算控制界限 C 為 了 繼續(xù)進(jìn) 行控制延 長 控制限 步 驟 C: 八、 控制 圖 的 異常判斷和分析處理 ? 控制圖的判穩(wěn)準(zhǔn)則: ? 基本判定準(zhǔn)則: ? 在點(diǎn)子隨機(jī)排列的情況下,符合下列各點(diǎn)之一判穩(wěn) ? 判穩(wěn)準(zhǔn)則: 連續(xù) 25個點(diǎn),界外點(diǎn)數(shù) d=0 概率: ? 連續(xù) 35個點(diǎn),界外點(diǎn)數(shù) d≤1 概率: ? 連續(xù) 100個點(diǎn),界外點(diǎn)數(shù) d≤2 概率: 判 定 準(zhǔn)則 1:(2/3A) 3點(diǎn) 中有 2點(diǎn) 在 A區(qū) 或 A區(qū) 以外 判 定 準(zhǔn)則 2: (4/5B) 5點(diǎn) 中有 4點(diǎn) 在 B區(qū) 或 B區(qū) 以外 ? 圖示 判 異準(zhǔn)則: ? 當(dāng)控制圖中的點(diǎn)出現(xiàn)下列情況之一 , 說明生產(chǎn)過程存在特殊原因 , 需立即采取措施予以消除以確保生產(chǎn)過程處于穩(wěn)定狀態(tài) 。 A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL X X判 定 準(zhǔn)則 3:(6連 串 ) 連續(xù) 6點(diǎn)持續(xù) 地上升或下降 判 定 準(zhǔn)則 4: (8缺 C) 有 8點(diǎn) 在中心 線 的 兩側(cè) ,但 C區(qū) 并 無點(diǎn) A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL XX判 定 準(zhǔn)則 5: (9單側(cè) ) 連續(xù) 9點(diǎn) 在 中心線同一側(cè) 判 定 準(zhǔn)則 6: (14升降 ) 連續(xù) 14點(diǎn) 交互 著 一升一降 A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL XX判 定 準(zhǔn)則 7: (15C) 連續(xù) 15點(diǎn) 在中心 線 上下 兩側(cè) 的 C區(qū) 判 定 準(zhǔn)則 8: (1界外 ) 有 1點(diǎn) 在 A區(qū) 以外 A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL XXD階段 過程能力解釋 D 計 算 過 程的 標(biāo)準(zhǔn) 偏差 D 計 算 過 程能力 D 評價過 程能力 D 提高 過 程能力 D 對 修改的 過 程 繪 制控制 圖并 分析 步 驟 D: 過程能力的計算: 過程固有變差: 過程總變差: 2? dR=?4? CS=?nkmnkmxxSmi i*,1)(1 2=== ? =,則為個子組,每個子組容量?R: 極差均值 樣本標(biāo)準(zhǔn)差的均值 Sn 2 3 4 5 6 7 8 9 10 C4 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 過程固有變差 過程總變差 )1,2,2?3?3?3?31(?6kCpC p kC p kkL S LUSLMMxTkL S LxxUSLM i nC p kL S LL S LxC p lUSLxUSLC p uCpC p rCrL S LUSLL S LUSLCp=+========(也可以這樣計算:則稱為偏移量。稱為偏移系數(shù)),(存在時)(當(dāng)存在時)(當(dāng)(常以百分?jǐn)?shù)表示))(或都存在時)、當(dāng)????????22)