【文章內容簡介】 解調器位定時恢復信號調整鎖定過程觀察 實驗步驟： 1. 選擇 m序列，觀察 TPM01（ 以它作同步）、 TPMZ07之間的相位關系。 2. 不斷按確認鍵，觀察 TPMZ07的調整過程。 3. 斷開 S002接收中頻接頭，在沒有接收信號的情況下重復該實驗，并解釋原因。 返回 解調器位定時信號相位抖動觀測 實驗步驟： 以 TPM01信號為同步 ， 在不同的測試碼型下觀測TPMZ07的相位抖動情況 。 返回 接收端解調器眼圖信號觀測 匹配時， TPi03與 TPN02 TPJ05與 TPJ06 不匹配時， TPi03與 TPN02 TPi03與 TPJ05 返回 解調器失鎖時的眼圖信號觀測 TPJ05與 TPJ06眼圖，失鎖時看不清 返回 接收端 I路和 Q路解調信號的相平面（矢量圖）波形觀察 鎖定時，李沙育圖形 0， π兩種相位 返回 解調器失鎖時 I路和 Q路解調信號的相平面（矢量圖）波形觀察 未鎖定時，李沙育圖形不停旋轉 返回 判決反饋環(huán)解調器鑒相特性觀察 未鎖定時，環(huán)路鑒相圖形 返回 解調器 PLL環(huán)路鑒相器差拍電壓和鎖定過程觀察 KL01設置在 12位置 KL01設置在 23位置 返回 解調器抽樣判決點信號觀察 TPN04點波形 TPMZ07抽樣點在 TPN04中間位置 返回 解調器失鎖時抽樣判決點信號觀察 KL01設置在 23位置 TPN04的波形 返回 差分編碼信號觀測 7位 m序列 15位 m序列 返回 解調數據觀察 7位 m序列，兩信號一致，重復按確認鍵，始終正確譯碼。 返回 解調器相干載波觀測 TPK07與 TPLZ07擴展后一種相位 KL01設置在 23端， TPLZ07相對 TPK07與 TPLZ07擴展后另一種相位 注釋：左下圖移動可通過電位器 WL01，可使波形穩(wěn)定，同步；相位差有任意性 另外， KL01設置在 12時，斷開中頻電纜解調器載波與發(fā)端失步。 TPK07移動時所拍圖形 返回 解調器相干載波相位模糊度觀測 反復斷開和接回， TPLZ07和 TPK07有時同相，有時反相 返回 解調器相干載波相位模糊度對解調數據的影響觀測 相位模糊，導致電平發(fā)生反轉 返回 解調器位定時恢復信號調整鎖定過程觀察 注釋：上左圖為斷開 K002前的結果，此時不斷按確認鍵，結果不變。當斷開 K002后，兩者之間有以上 4種關系存在。 返回 解調器位定時信號相位抖動觀測 注釋 ： 0/1碼和特殊碼抖動較小， m序列抖動較大，這幾種信 號的 TPMZ07時鐘位置固定；全 0和全 1無抖動，但位置不固定上圖為 TPM01與 TPMZ07在擴展后的圖形 返回 實驗三 DBPSK傳輸系統實驗 實驗目的： BPSK差分解調的基本工作原理； DBPSK數據傳輸過程； BPSK/DBPSK性能的測試； DBPSK在噪聲信道下的基本性能； DBPSK在衰落信道下的基本性能； 調制 2. DBPSK調制信號眼圖觀測 3. I路和 Q路調制信號的相平面（矢量圖）信號觀察 4. DBPSK調制信號 0/π相位測量 5. DBPSK調制信號包絡觀察 解調 I路和 Q路調制信號的相平面（矢量圖）信號觀察 返回 差分編碼觀測 實驗步驟： 使用漢明編碼模塊產生的 m序列 ， 將 SWC01中的 H_EN和 ADPCM開關去除 ， KC01設置在最右端； KW03設置在 OFF（ 右端 ） ， KW01和 KW02設置在 CH（ 左端 ） 通過菜單選擇發(fā)送數據為 “ 外部數據輸入 ” 方式 。 1. 將 SWC01中 M_SEL1插入，產生 7位周期 m序列。觀察 TPM02（ 或TPC05） 和 TPM03。 2. 將 SWC01中 M_SEL2和 M_SEL2都插入，產生 15位周期 m序列，重復上述測量步驟。 返回 DBPSK調制信號眼圖觀測 實驗步驟： “ 匹配濾波 ” 方式（未打勾），以TPM01作同步，觀測 TPi03的波形。 “匹配濾波”方式（打勾），重復上述實驗步驟。仔細觀察和區(qū)別與上述兩種方式下發(fā)送信號眼圖（ TPi03） 的波形。 返回 I路和 Q路調制信號的相平面（矢量圖）信號觀察 實驗步驟： 1. 測量 TPi03和 TPi04李沙育（ xy） 波形，通過菜單選擇在不同的輸入碼型下進行測量；結合 BPSK調制器原理分析測試結果。 2. 通過菜單選擇“匹配濾波”方式設置，重復上述實驗步 驟。仔細觀察和區(qū)別兩種方式下矢量圖信號。 返回 DBPSK調制信號 0/π相位測量 實驗步驟： 選擇 0／ 1碼，將 KP02設置在 TEST位置。觀察TPK03， 并作為同步信號；另一路連接到 TPK06或TPK07，觀察和驗證調制載波在數據變化點發(fā)生相 位 0/π翻轉。 返回 DBPSK調制信號包絡觀察 實驗步驟： 將 KP02設置在 TEST位置 0/1碼，觀測 TPK03的波形與 TPi03的相互關系 m序列重復上一步實驗 返回 差分編碼觀測 15位 m序列 7位 m序列 返回 DBPSK調制信號眼圖觀測 不匹配 匹配 返回 I路和 Q路調制信號的相平面（矢量圖）信號觀察 不匹配 匹配 返回 DBPSK調制信號 0/π相位測量 0/1碼調制包絡與參考載波 注釋 :同相與反相圖是將左下圖放大 10倍后來看的 ,它們能表示 0碼到 1碼之間轉換后載波的相位發(fā)生了 0/ π翻轉 . 反相 同相 返回 DBPSK調制信號包絡觀察 注釋：左上， 0/1碼； 右上，特殊碼； 左下， m序列。 返回 接收端解調眼圖信號觀測 實驗步驟： 1. 首先連結 KO02和 JL02， 測量 TPJ05，觀測時用 TPM01作同步 2. KL01設置在 2_3，調整 WL01以改變收發(fā)頻差，重復上述測量步驟（示波器時基設定在 2～ 5ms）， 并分析測試結果。 3. 觀測 TPJ06，分析解釋其原因。 4. 觀測 TPN02， 選擇 “ 匹配濾波 ” 方式，重復上述實驗步驟。 返回 接收端 I路和 Q路調制信號的相平面（矢量圖）信號觀察 實驗步驟： TPJ05和 TPJ06李沙育（ xy） 波形，其相位矢量圖應為 0、 π相位矢量旋轉圖，旋轉速度取決收發(fā)本振頻率的頻差。 2. KL01設置在 2_3位置，調整 WL01以改變收發(fā)頻差，觀察測量波形，并分析測試結果。 返回 解調器抽樣判決點信號觀察 實驗步驟： 1. 輸入 m序列，觀察 TPN04， 示波器時基設定在 2～ 5ms 2. KL01設置在 2_3，調整 WL01以改變收發(fā)頻差，觀察對抽樣判決點信號波形有無影響。 3. 觀察 TPMZ07（ 以此信號作同步）和 TPN04波形之間的相位關系。 返回 解調數據觀察 實驗步驟： ，觀察 TPM04和 TPM02。 “ 特殊碼序列 ” 方式，測量發(fā)送與接收數據信號的傳輸延時。 “特殊碼序列”方式下，重復按選擇菜單的確認按鍵，讓解調器重新鎖定，觀測 DBPSK解調器電路是否正確解碼。 返回 位定時調整鎖定過程觀察 實驗步驟： 1. 選擇 m序列，觀察 TPM01（ 以它作同步）、 TPMZ07之間的相位關系。 2. 不斷按確認鍵，觀察 TPMZ07的調整過程。 3. 斷開 K002接收中頻接頭，重復該步實驗并給出原因 返回 解調器位定時信號相位抖動觀測 實驗步驟： 以 TPM01信號為同步，在不同的測試碼型下觀測TPMZ07的相位抖動情況 返回 接收端解調眼圖信號觀測 TPM01與 TPJ05 KL01設置在 23，調電位器， TPM01與 TPJ05 匹配后 KL01放 23，調電位器 TPM01與 TPJ05 TPM01與 TPJ06 返回 接收端 I路和 Q路調制信號的相平面（矢量圖）信號觀察 李沙育圖形旋轉 KL01放 23位置 ， 調 WL01， 基本穩(wěn)定時的圖形 返回 解調器抽樣判決點信號觀察 KL01放 23端，調 WL01， TPN04圖形不變化 TPMZ07與 TPN04， 抽樣時刻在判決圖形的中間位置 輸入 m序列， TPN04圖形 返回 解調數據觀察 能正確譯碼 ,只是存在延遲 ,具體時間請同學自己測量 . 返回 位定時調整鎖定過程觀察 結論與 BPSK解調相同 返回 解調器位定時信號相位抖動觀測 結論與 BPSK解調相同 返回 實驗四 漢明碼系統 實驗目的： 通過糾錯編解碼實驗，加深對糾錯編解碼理論的理解； 準備工作： 設置成 BPSK或 DBPSK， 插入HEN， 斷開 ADPCM， KC01設置在 m序列， M_SEL1和 M_SEL2拔下， m序列輸出為 1/0碼。 KW01和 KW02設置在 LOOP， KW03設置在 ON位置。 實驗內容： 錯碼糾錯性能測量 返回 編碼規(guī)則驗證 實驗步驟： 1. 觀測 TPC01和 TPC05， 以 TPC01同步。 2. 設置 m序列（ 10： M_SEL2插入、 M_SEL1拔下），觀測 TPC01和 TPC05， 以 TPC01作 同步。 3. 設置其它 m序列方式，重復上述測量步驟。 返回 譯碼數據輸出測量 實驗步驟： 1. 觀測 TPC01和 TPW07， 以 TPC01同步。 2. 設置不同的 m序列方式，重復上述實驗。 返回 譯碼同步過程觀測 實驗步驟： 插入 SWC01中 H_EN， ADPCM。 KW0 KW02設置在 2_3位置 1. 檢測 TPW03。 斷開 SWC01中的 H_EN， 觀測 TPW03變化；然后插入H_EN， 觀測漢明譯碼的同步過程，記錄測量結果。 2. 將 ADPCM數據換為 m序列，重復上述測量步驟。 返回 發(fā)端加錯信號觀測 實驗步驟： 插入 SWC01 中的 H_EN， ADPCM。 KW0 KW02設置在 LOOP位置（右端）， KW03設置在工作位置 0N。 1. 測量 TPC03和 TPW03， 以 TPC03同步。此時無錯碼。 2. 將 SWC01中 E_MOD0接入，產生 1位錯碼，定性觀測漢明譯碼能否檢出錯碼 3. 將 SWC01中 E_MOD1接入，產生 2位錯碼，定性觀測漢明譯碼能否檢出錯碼 4. 將 SWC01中 E_MOD0、 E_MOD1都插入，產生更多錯碼，定性觀測明譯碼能否檢測出錯碼和失步。 返回 收端錯碼檢測能力觀測和錯碼糾錯性能測量 實驗步驟： 首先將系統設置為 BPSK（ 或 DBPSK） 方式；插入 SWC01 中H_EN， 斷開 ADPCM； 將 KC01設置在 DTSYS (左端 )。 KW0 KW02設置在 LOOP位置 （ 右端 ） ； KW03設置 0N端 。 將誤碼儀按書上標準接入 。 1. 加電后將誤碼儀模式設置 “ 連續(xù) ” ， 接口時鐘選擇設置 “ 外時鐘 ” 接口類型選擇 “ RS422”方式按 “ 測試 ” 鍵進入測試 ， 測量誤碼率 2. 將 SWC01中 E_MOD0接入，測量誤碼率，看漢明編譯碼系統能否糾 1位錯碼。 3. 將 SWC01中 E_MOD1接入，測量誤碼率，看漢明編譯碼系統能否糾 2位錯碼，記錄結果。 4. 將 SWC01中 E_MOD0、 E_MOD1都插入，測量誤碼率，記錄結果。 返回 編碼規(guī)則驗證 15位 m序列 7位 m序列 0/1碼 00/11碼 返回 譯碼數據輸出測量 00/11碼 7位 m序列關機再開機出現的一種譯碼錯誤 7位 m序列 0/1碼 15位 m序列 0/1碼關機后再開機出現的一種譯碼 返回 譯碼同步過程觀測 HEN,TPW03由低電平變?yōu)楦唠娖?,此時高電平表示 TPW03出錯 .