楔形平板產生的等厚干涉(編輯修改稿)
2025-06-15 00:42 本頁面
【文章內容簡介】 小直徑 、 厚度 、 微小變化 Δ h 待測塊規(guī) λ 標準塊規(guī) 平晶 測表面不平度 等厚條紋 待測工件 平晶 檢驗透鏡球表面質量 標準驗規(guī) 待測透鏡 暗紋 ? (1)檢測待測平面的平整度 由于同一條紋下的空氣薄膜厚度相同，當待測平面上出現(xiàn)溝槽時條紋向左彎曲。 待測平面 ?光學平板玻璃 (2).測量微小物體的厚度 h將微小物體夾在兩薄玻璃片間，形成劈尖，用單色平行光照射。 ?Lh ?由 ne2?? ?neLh2??有 L??例如用波長為 L=20mm 的空氣劈尖，測得條紋間距為 4??neLh2?? 439 8 9????????? m1055???(3). 測量微小角度 . 例題 折射率為 n=尖，用波長 λ=600nm 的單色光垂直照射，產生等厚干涉條紋，若在劈尖內充滿 n=，相鄰明紋間距縮小 Δ l=，求劈尖角 θ 。 ????????nnlnl 2222 2211 ????)n(ll 11221 ???
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