雞西市松林公園漫水壩工程物探報告(編輯修改稿)
2025-07-01 02:42 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 態(tài)、空間位置等結(jié)構(gòu)特征。 超高密度電法勘探 超高密度電法勘探是以巖石的導(dǎo)電性差異為基礎(chǔ) ，通過對人工地下電流場的 4 分布規(guī)律進(jìn)行觀測和研究，達(dá)到解決地質(zhì)問題的 目的。其基本原理是：當(dāng)從地面或井下供電電極通入地下穩(wěn)定電流，流經(jīng)不同的巖礦層、礦體和地質(zhì)構(gòu)造時，在地表或井中觀測到的電流場將發(fā)生變化。 超高密度電阻率法的數(shù)據(jù)采集過程全部自動化。程序自動將每個排列的 64個電極分為奇數(shù)組 32 個（ …… 6 63）和偶數(shù)組 32 個（ ……6 64）兩組，然后在這兩組電極中各選取一個作為供電電極 A 和 B，在一次通電過程中同時測量其它電極相對于某一電極 M 的電位差（如下圖所示），就可得到 61 個電位差（ MN MN MN3…… MN60、 MN61）數(shù)據(jù)。而奇數(shù)組 32 個 電極和偶數(shù)組 32 個電極互相配對（即全排列）做供電電極，即做一個排列就有 32 32＝ 1024 次供斷電過程，每次供電可同時采集 61 個電位差數(shù)據(jù)，所以總的數(shù)據(jù)量為 32 32 61＝ 62462 個。 A BM N 1 N 2 N 3 N 58 N 59 N 60 N 61 超高密度電法打破了常規(guī)電法勘探中數(shù)據(jù)采集方式的限制，而采用自由無限制的任何四極的組合方式來采集數(shù)據(jù)，正是基于此，超高密度方法可采集到幾十倍于常規(guī)電法數(shù)據(jù)采集方式采集不到的數(shù)據(jù)。在同一個 64 電極的排列中，常規(guī)的數(shù)據(jù)采集方式僅可采集到一千多個數(shù)據(jù)，而采用超高密度方法，就可采集到六萬多個數(shù)據(jù)，大大提高了反演結(jié)果的準(zhǔn)確性和可 靠性。 本次使用儀器是由澳大利亞 ZZ Resistivity Imaging 研發(fā)中心研制的FlashRES 64 多通道超高密度直流電法儀。 4 資料解釋 地質(zhì)雷達(dá)勘探 地質(zhì)雷達(dá)是一個重要的無損探測方法，探測目標(biāo)體與周圍土壤具有較大電性差異，是地質(zhì)雷達(dá)探測法的重要前提。地質(zhì)雷達(dá)資料的處理主要是通過雷達(dá)系統(tǒng)配套軟件完成，通過對采集數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、靜態(tài)校正、選取介電常數(shù)等處理后，形成地質(zhì)雷達(dá)剖面圖。用地質(zhì)雷達(dá)法探測地下地質(zhì)體構(gòu)造，對其數(shù)據(jù)資料進(jìn)行分析和判斷的主要依據(jù)參數(shù)有：振幅、頻率和電磁波的傳播速度。 振幅 是反映電磁波反射能量的重要標(biāo)志。當(dāng)?shù)刭|(zhì)體內(nèi)充水時，與周圍土壤電 5 性差異較大，將出現(xiàn)能量較強(qiáng)的反射，雷達(dá)波頻率將明顯降低，但相位不發(fā)生變化。當(dāng)?shù)刭|(zhì)體內(nèi)存在空洞時，與周圍介質(zhì)也有較大電性差異，能獲得較強(qiáng)的反射，雷達(dá)波頻率較高，發(fā)生 90 度的相位變化。在資料的處理和解釋中也主要根據(jù)以上的特點(diǎn)和標(biāo)志進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和解釋。 超高密度電法勘探 Flash RES 64多通道超高密度直流電法勘探系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理是利用該套儀器專門配置的處理軟件 進(jìn)行處理，處理結(jié)果的輸出為 Surfer 能夠直接調(diào)用的 *.grd 格式的文件，再利用 Surfer 繪制該剖面的真電阻率剖面圖，最后利用該真電阻率剖面圖結(jié)合地質(zhì)及其它物探方法的資料進(jìn)行綜合解釋工作。 5 成果分析： 由于本次物探工作量較大，且測線布置的緊密，在報告的成果分析中只列舉部分典型地質(zhì)雷達(dá)剖面圖進(jìn)行解釋分析，其他剖面圖詳見附圖冊。本次物探工作發(fā)現(xiàn)的所有異常點(diǎn)的位置詳見物探工作解釋平面圖。 測線 X1 地質(zhì)雷達(dá)成果及分析 測線 X1 位于壩頂北側(cè)，平行于壩軸線，方向由西向東，地質(zhì)雷達(dá)剖面圖如下： 圖 X1測線（ 032米）地質(zhì) 雷達(dá)剖面圖 D1 6 圖 X1測線（ 3263米）地質(zhì)雷達(dá)剖面圖 圖 X1測線（ 6375米）地質(zhì)雷達(dá)剖面圖 分析：由圖 、圖 、圖 ：在測線的 ~，深度 58m處，出現(xiàn)了一個明顯的異常區(qū)域，同相軸錯斷，對雷達(dá)電磁波出現(xiàn)較強(qiáng)的反射，推測為測線下方地質(zhì)體不均勻造成。測線其他位置地質(zhì)雷達(dá)波形層位清晰， 無明顯異常，推測為地下地質(zhì)體均勻。 D1 7 超高密度電法 成果及分析 0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 7515105004080120160 圖 X1測線（ 075m）超高密度電法反演 剖面圖 分析：由圖 ：測線整體電阻率值較低，電阻率值大部分小于60Ω m，在測線的 25m37m，深度 515m處出現(xiàn)了一個明顯的向下延伸高阻異常區(qū)域，推測為測線下方局部地質(zhì)體不均勻造成。 測線 X2 地質(zhì)雷達(dá)成果及分析 測線 X2 位于壩頂南側(cè)，平行于壩軸線，方向由西向東，地質(zhì)雷達(dá)剖面圖如下： 圖 X2測線（ 032米）地質(zhì)雷達(dá)剖面圖 D1 D2 8 圖 X2測線（ 3264米）地質(zhì)
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