【文章內(nèi)容簡介】 x 超過一位 ，則向高位順延 ) */ ADCR = (1 0) // SEL = 1 ，選擇通道 0 ((Fpclk / 1000000 1) 8) // CLKDIV = Fpclk / 1000000 1 ，即轉(zhuǎn)換時鐘為 1MHz (0 16) // BURST = 0 ，軟件控制轉(zhuǎn)換操作 (0 17) // CLKS = 0 ，使用 11clock 轉(zhuǎn)換 (1 21) // PDN = 1 ， 正常工作模式 (非掉電轉(zhuǎn)換模式 ) (0 22) // TEST1:0 = 00 ，正常工作模式 (非測試模式 ) (1 24) // START = 1 ，直接啟動 ADC 轉(zhuǎn)換 (0 27)。 // EDGE = 0 (CAP/MAT 引腳下降沿觸發(fā) ADC 轉(zhuǎn)換 ) DelayNS(10)。 西安歐亞學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計） 10 ADC_Data = ADDR。 // 讀取 ADC 結(jié)果，并 清除 DONE 標志位 液晶顯示模塊 我所采用的目標板采用北京青云科技公司的 LCM12864漢字 /圖形點陣顯示模塊，該模塊的驅(qū)動芯片采用 ST7920控制器系列，液晶顯示模塊的特性取決于驅(qū)動器芯片特性。 ST7920的 主要特性 ST7920 同時作為控制器和驅(qū)動器 其 特性如下： (1) 硬件特性 ★ 8 位 /4 位并行接口及串行接口可選 （ 并行接口適配 M6800 時序 ）。 ★ 自動電源啟動復(fù)位功能 。 ★ 內(nèi)部自建振蕩源 。 ★ 有效顯示范圍： 32個漢字（ 4行 8列 ） ★ 自帶 8192個 16 16 點陣 的 中文 字庫（ 2M位 CGROM） 。 ★ 自帶 126個 16 8點陣的半寬西文字庫（ 16K位 HCGROM）。 (2)軟件特性 ★ 文字與圖形混合顯示功能 ★ 畫面清除功能 ★ 光標歸位功能 ★ 顯示開 /關(guān)功能 ★ 光標顯示 /隱藏功能 ★ 顯示字體閃爍功能 ★ 光標移位功能功能 ★ 顯示移位功能 ★ 垂直畫面旋轉(zhuǎn)功能 ★ 反白顯示功能 ★ 休眠模式 液晶屏共分為四行，控制器會根據(jù)寫入的數(shù)據(jù)值范圍來自動選擇字符顯示在液晶屏上。各行端口地址如下： 第一行： 80H – 87 H； 第二行： 90H – 97 H； 第三行： 88H – 8F H； 第四行： 98H – 9F H； LCM12864功能框圖 西安歐亞學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計） 11 圖 23 液晶原理圖 MCU接口 及工作時序 (1) LCM19264與 MCU接口 表 24 接口描述 為節(jié)省 MCU資源，所以用串口方式，時序關(guān)系如下圖： 西安歐亞學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計） 12 圖 24 串口時序圖 基本工作指令 液晶模塊的基本指令為： 1）清除顯示（ CLEAR） 格式 0 0 0 0 0 0 0 1 將 DDRAM 填滿“ 20H”（空格）代碼，并且設(shè)定 DDRAM 的地址計數(shù)器（ AC）為 00H；更新設(shè)置進入設(shè)定點將 I/D 設(shè)為 1，游標右移 AC 加 1。 2）地址歸 0（ HOME） 格式 0 0 0 0 0 0 1 X 設(shè)定 DDRAM 的地址寄存器為 00H，并且將游標移到開頭原點位置；這個指 令并不改變 DDRAM 的內(nèi)容。 3）進入設(shè)定點（ ENTRY MODE SET） 初始值： 06H 格式 0 0 0 0 0 1 I/D S 指定在顯示數(shù)據(jù)的讀取與寫入時，設(shè)定游標的移動方向及指定顯示的移位 。 I/D＝ 1，游標右移， DDRAM 地址計數(shù)器（ AC）加 1； I/D＝ 0，游標左移， DDRAM 地址計數(shù) 器（ AC）減 1。 S:顯示畫面整體位移 ： S = 1, I/D＝ 1,畫面整體右移 ； S = 1, I/D＝ 0,畫面整體左移 4）顯示開關(guān)設(shè)置（ DISPLAY STATUS）初始值： 08H。 格式 0 0 0 0 1 D C B 控制整體顯示開關(guān)，游標開關(guān)，游標位置顯示反白開關(guān) 。 D=1,整體顯示開； D=0，整體顯示關(guān)，但是不改變 DDRAM 內(nèi)容 ； C=1,游標顯示開； C=0，游標顯示關(guān) ； B=1,游標位置顯示反白開，將游標所在地址上的內(nèi)容反白顯示 。B=0，正常顯 示 。 5）游標或顯示移位控制 (CURSOR AND DISPLAY SHIFT CONTORL) 初始值： 0001 XXXX B （ X＝ 0,1） 格式 0 0 0 1 S/C R/L X X 這條指令不改變 DDRAM 的內(nèi)容 S/C=0 R/L=0 游標向左移動， AC=AC1； S/C=0 R/L=1 游標向右移動 ， AC=AC+1； S/C=1 R/L=0 顯示向左移動，游標跟著移動 AC=AC； 西安歐亞學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計） 13 S/C=1 R/L=1 顯示向右移動，游標跟著移動 AC=AC。 6）功能設(shè)定 (FUNCTION SET) 初始值： 0011 X0XX B (X=0,1) 格式 0 0 1 DL X 0/RE X X DL:8/4 位接口控制位 ； DL=1,8 位 MPU 接口； DL=1,4 位 MPU 接口 ； RE：指令集選擇控制位 ； RE＝ 1，擴充指令集； RE＝ 0，基本指令集 ； 同一指令的動作不能同時改變 DL和 RE，需先改變 DL再改變 RE才能確保設(shè)置正確 。 7）設(shè)定 CGRAM 地址 格式 0 1 A5 A4 A3 A2 A1 A0 設(shè)定 CGRAM 地址到地址計數(shù)器（ AC）， AC 范圍為 00H～ 3FH 需確認擴充指令中 SR＝ 0。 （卷動位置或 RAM 地址選擇） 8）設(shè)定 DDRAM 地址 格式 1 0 A5 A4 A3 A2 A1 A0 設(shè)定 DDRAM 地址到地址計數(shù)器（ AC） 第一行 AC 范圍 80H～ 8FH 第二行 AC 范圍 90H～ 9FH 說 明 ： ST7920 控制器的 128 64 點陣液晶其實原理上等同 256 32 點陣，第三行對應(yīng)的 DDRAM 地址緊接第一行；第四行對應(yīng)的 DDRAM 地址緊接第二行。用戶在使用行反白功能時，如果第一行反白，第三行必然反白。第二行反白，第四行必然反白。這是正?，F(xiàn)象。 9）讀取忙標志和地址 (RS=0,R/W=1) 格式 BF A6 A5 A4 A3 A2 A1 A0 讀取忙標志以確定內(nèi)部動作是否完成，同時可以讀出地址計數(shù)器（ AC）的值 。 10）寫顯示數(shù)據(jù)到 RAM(RS=1,R/W=0) 格式 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 當顯示數(shù)據(jù)寫入后會使 AC 改變，每個 RAM（ CGRAM， DDRAM， IRAM）地址都可以連續(xù)寫入 2 個字節(jié)的顯示數(shù)據(jù)，當寫入第二個字節(jié)時，地址計數(shù)器（ AC）的值自動加一。 11） 讀取顯示 RAM 數(shù)據(jù)（ RS＝ 1， R/W＝ 1） 格式 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 讀 取后會使 AC 改變 ， 設(shè)定 RAM（ CGRAM， DDRAM， IRAM）地址后，先要 Dummy read 一次后才能讀取到正確的顯示數(shù)據(jù)，第二次讀取不需要 Dummy read，除非重新設(shè)置了RAM 地址 。 液晶顯示器件是 ADC 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中的一個重要環(huán)節(jié)，正確設(shè)置其工作狀態(tài)，即初始化設(shè)置，是保證系統(tǒng)工作的前提。 因此 根據(jù)以上的指令集，本設(shè)計的液晶初始化流程圖如圖 25 所示： 西安歐亞學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計） 14 開 電 源D e l a y 4 0 m s功 能 設(shè) 定控 制 字 3 0 HD e l a y 1 0 0 u s功 能 設(shè) 定控 制 字 3 0 HD e l a y 3 7 u s顯 示 開 / 關(guān)控 制 字 0 C 0 HD e l a y 1 0 0 u s清 除 屏 幕控 制 字 0 1 HD e l a y 1 0 m s進 入 設(shè) 定 點控 制 字 0 6 H初 始 化 完 成 圖 25 液晶初始化流程圖 開發(fā)工具 JTAG 西安歐亞學(xué)院本科畢業(yè)論文（設(shè)計） 15 JTAG 是 一種技 術(shù)先進高效的 基于邊緣掃描技術(shù)的硬件仿真 /調(diào)試 /編程器 。 實物圖 如下： 圖 31 JTAG 實物圖 性能介紹 JTAG（ Joint Test Action Group ，聯(lián)合測試行動小組）是一種國際標準測試協(xié)議，主要用于芯片內(nèi)部測試及對系統(tǒng)進行仿真、調(diào)試。 JTAG 技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù)，它在芯片內(nèi)部封裝了專門的測試電路 TAP（ Test Access Port，測試訪問口），通過專用