01hz超低頻正弦波耐壓試驗(yàn)技術(shù)及應(yīng)用(編輯修改稿)
2025-09-26 04:53 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 圖 3 說(shuō)明了應(yīng)用三個(gè)放電電阻接入輸出回路的這一技術(shù)。第一個(gè)電阻與負(fù)載電容的指數(shù)衰減曲線表示為 RC1。指數(shù)曲線與施加正弦波在一個(gè)相位的 弧度處，此時(shí)并入第二個(gè)電阻，衰減曲線表示為 RC2，在相位約 弧度處，第三個(gè)電阻 并入回路，指數(shù)曲線衰減表示為 RC3。 圖 3 負(fù)載放電特性 通過(guò)高壓變壓器的電源功率補(bǔ)償需要的正弦波和指數(shù)衰減曲線之間的空間（能量差），在這個(gè)設(shè)計(jì)中一個(gè)重要的因素是可在負(fù)荷變化最大時(shí)，所需的時(shí)間常數(shù)基礎(chǔ)上選擇放電電阻。無(wú)論輕載或重載都能產(chǎn)生滿意的波形，電阻的選擇與負(fù)荷無(wú)關(guān)。 放電電阻的電流很低，功率損耗很容易解決。三個(gè)放電電阻完全滿足 4060kV 輸出電壓的要求。也可增加電阻的數(shù)量，應(yīng)用相同的原理，用于 90、 120kV 等更高電壓等級(jí)的系統(tǒng)。 3. 頻率 系統(tǒng)的工作頻率可通過(guò)前面討論過(guò)的技術(shù)，即調(diào)整圖 1 中的 T2 獲得。目前常用的是 VLF 試驗(yàn)，調(diào)整 T2 可得到 、 、 等不同的工作頻率，較低的頻率可測(cè)試超長(zhǎng)電纜。 三． 超低頻正弦波耐壓試驗(yàn)設(shè)備的特點(diǎn)及應(yīng)用 如前所述，直流耐壓試驗(yàn)不適用于聚乙烯、交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜，因?yàn)樵谥绷麟妶?chǎng)下形成的空間電荷會(huì)保存在電纜絕緣層中，當(dāng)試驗(yàn)完畢重新投入運(yùn)行后，殘存的空間電荷（電場(chǎng)）會(huì)與運(yùn)行電壓的電場(chǎng)疊加，對(duì)在實(shí)際上仍能運(yùn)行的電纜造成擊穿。交流工頻耐壓試驗(yàn)最為有效，但由于電力電纜的電容很大。需要大容量試驗(yàn)設(shè)備，設(shè)備笨重難以對(duì)聚乙烯 /交聯(lián)聚乙烯電纜進(jìn)行預(yù)防性耐壓試驗(yàn)（現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)）。針對(duì)中壓聚乙烯/交聯(lián)聚乙烯電纜的現(xiàn)場(chǎng)耐壓試驗(yàn)問(wèn)題，在 VLF 正弦波理論研究、設(shè)備開(kāi)發(fā)一直處于領(lǐng)先地位的美國(guó)高電壓公司早在 70 年代就致力于此項(xiàng)技術(shù)的研究， 超低頻正弦波的耐壓試驗(yàn)設(shè)備具有以下顯著特點(diǎn)。正因?yàn)檫@些特點(diǎn)，使這一耐壓試驗(yàn)設(shè)備得到廣泛應(yīng)用。 a) 超低頻正弦波耐壓試驗(yàn)設(shè)備消耗功率小，是 50Hz 耐壓試驗(yàn)設(shè)備的 1/500。 b) 超低頻正弦波耐壓試驗(yàn)設(shè)備的輸出電壓較高，已有 250kV 交流輸出試驗(yàn)設(shè)備，用于更高等級(jí)電壓系統(tǒng)。 c) 由于輸入功率小，設(shè)備的尺寸和重量也小，均為兩件或三件式便攜設(shè)計(jì)。 d) 超低頻正弦波耐壓試驗(yàn)設(shè)備可試驗(yàn)較長(zhǎng)的電纜（電容較大），最大可達(dá) 50 微法的 VLF 試驗(yàn)設(shè)備，是國(guó) 外同類(lèi)產(chǎn)品的十倍。 e) 具有電容測(cè)試電路，可測(cè)量被測(cè)電纜電容，預(yù)計(jì)電纜長(zhǎng)度。 除了這些特點(diǎn)以外， 超低頻正弦波耐壓試驗(yàn)設(shè)備的正弦輸出，還可用于診斷測(cè)試，傳統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試只是看耐壓通過(guò)不通過(guò)，現(xiàn)在更科學(xué)的方法是診斷測(cè)試 —— 局放測(cè)試和介損測(cè)試，用于檢測(cè)
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